[发明专利]检测吸光度、折射率的长光程光纤-微流控芯片传感器

权利要求书

1.一种检测吸光度、折射率的长光程光纤-微流控芯片传感器，其特征是：包括由透明材料制成的微流控芯片，所述微流控芯片的内部设有检测通道（4）、入射光纤通道（6）和出射光纤通道（7）；所述检测通道（4）设有样品入口、样品出口、光线入射口和光线出射口，所述检测通道（4）位于入射光纤通道（6）和出射光纤通道（7）之间且相互间隔，由入射光纤通道（6）出射的光线经检测通道（4）内的样品吸收和侧壁的内壁面反射后能够入射到出射光纤通道（7）中；入射光纤通道（6）和出射光纤通道（7）分别与置于其内的光纤相匹配，入射光纤通道（6）内的光纤的出射端的端面与入射光纤通道（6）的光线出射口（14）的端面齐平，出射光纤通道（7）内的光纤的入射端的端面与出射光纤通道（7）的光线入射口（15）的端面齐平。

2. 根据权利要求1所述的检测吸光度、折射率的长光程光纤-微流控芯片传感器，其特征是: 所述微流控芯片的内部还设有进样通道（3）和出样通道（5），所述进样通道（3）的出样口与所述检测通道（4）的样品入口连通，所述出样通道（5）的进样口与所述检测通道（4）的样品出口连通。

3. 根据权利要求2所述的检测吸光度、折射率的长光程光纤-微流控芯片传感器，其特征是:所述进样通道（3）设有一个以上进样口。

4. 根据权利要求1至3中任一项所述的检测吸光度、折射率的长光程光纤-微流控芯片传感器，其特征是:所述检测通道（4）的样品入口和样品出口设于该检测通道（4）的侧壁上。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的检测吸光度、折射率的长光程光纤-微流控芯片传感器，其特征是: 所述检测通道（4）的侧壁的内壁面垂直于该检测通道（4）的底面。

6.根据权利要求5所述的检测吸光度、折射率的长光程光纤-微流控芯片传感器，其特征是: 所述检测通道（4）的的横截面呈矩形。