[发明专利]一种基于余数校验的容错滤波处理中的多采样判决方法

说明书

技术领域

本申请涉及容错信号处理技术，特别是涉及一种基于余数校验的容错滤波处理中的多采样判决方法。

背景技术

辐射会对设备的性能造成影响，进而可能导致设备的输出数据出现错误。例如，一些卫星上装载的信号处理设备，常会受到太空辐射的影响而导致信号处理出现错误，为了解决这个问题出现了容错信号处理技术。

三模冗余(TMR)技术在辐射环境下的容错信号处理中得到广泛应用。TMR使用三个相同模块对输入数据进行相同的滤波操作，并在输出端通过多数选择器决定最终的输出，完全消除了单支路故障对信号处理输出的影响。但在三模冗余技术中，所有的运算及存储资源消耗都增加到原来的三倍，这使得三模冗余技术在很多资源受限的应用中无法使用，如星载计算平台上的容错信号处理等。

为此产生基于余数校验的容错信号处理技术，进一步的降低了容错信号处理技术中的资源需求。现有的基于余数校验的容错信号处理技术通常使用单采样判决方式，即将三模冗余中的一条支路变成余数滤波支路，当其他两个支路处理结果不一致时，将两个支路的处理结果取余后，与余数滤波支路的结果进行比较，经过一次判断就选择正确的处理结果，并判断出现了故障的支路。

但是这种方法有一个缺陷，即当故障支路的错误输出刚好与正确输出同余时，余数滤波支路无法判断哪个支路出现了故障，即发生了故障漏检问题。

发明内容

本申请提供了一种基于余数校验的容错滤波处理中的多采样判决方法，以解决现有技术中基于余数校验的容错滤波处理方法中的故障漏检问题。

为了解决上述问题，本申请公开了一种基于余数校验的容错滤波处理中的多采样判决方法，包括：

S11，将采样数据分别输入到第一支路、第二支路和第三支路；

S12，第一支路和第二支路的处理步骤包括：

将所述采样数据分别进行滤波处理，得到处理后的第一滤波数据和第二滤波数据；

将所述第一滤波数据和第二滤波数据分别对m取余，得到对应第一数据和第二数据，其中m为取余的模数，且m为正整数；

S13，针对第三支路，将所述采样数据输入基于余数的滤波器中进行滤波处理，得到处理后的基准数据，所述基于余数的滤波器中取余的模数为m；

S14，若第一滤波数据和第二滤波数据不相等，则将第一数据和第二数据分别与基准数据进行比较；

比较的结果包括：

若第一数据等于基准数据，第二数据不等于基准数据，执行S15；

若第二数据等于基准数据，第一数据不等于基准数据，执行S16；

若第一数据等于第二数据等于基准数据，执行S17；

S15，将第一支路的第一滤波数据作为结果数据输出；

S16，将第二支路的第二滤波数据作为结果数据输出；

S17，将第一滤波数据和第二滤波数据分别存储到第一缓存和第二缓存中，继续输入采样数据执行S11到S14，直至第一数据和第二数据中的一个与基准数据不相等为止。

优选的，若将第一支路的第一滤波数据作为结果数据输出，所述的方法还包括：

将第一缓存中的第一滤波数据输出，并清空第二缓存中的第二滤波数据。

优选的，若将第二支路的第二滤波数据作为结果数据输出，所述的方法还包括：

将第二缓存中的第二滤波数据输出，并清空第一缓存中的第一滤波数据。

优选的，所述的滤波器包括FIR滤波器和IIR滤波器。

优选的，针对第三支路中基于余数的滤波器，将每次参与乘法操作的操作数对m取余，所述取余后的操作数相乘，将相乘后的结果对m取余得到对应模乘结果。

优选的，针对第三支路中基于余数的滤波器，将每次参与加法操作的操作数对m取余，所述取余后的操作数相加，将相加后的结果对m取余得到对应模加结果。

优选的，若第一滤波数据等于第二滤波数据，则第一支路和第二支路的处理均正确，任选一条支路的处理结果作为输出。

优选的，若第一数据、第二数据和基准数据彼此均不相等，则第一支路和第二支路均出现故障。

与现有技术相比，本申请包括以下优点：