[发明专利]基于模糊概念的检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及测量技术领域，特指一种结合光电仪器测量产品加工质量的检测方法。

背景技术

现有技术中，对于产品加工质量的检测，有的是采用目测方式，有的是采用简单的游标卡尺或螺旋测量仪对产品检测，但无论是目测还是简单的工具检测，检测精度都相对低，误差大，且较为劳累。随着科技的发展，对精密定位测量提出了越来越高的要求，因而传统的游标卡尺或螺旋测量仪很难满足测量要求。随后出现光电测量，利用影像攫取器（如CCD）将被测物之影像转换为电子信号，再电子信号送到电脑，由电脑的图像处理芯片将影像放大显示在显示器上，再利用电脑三维坐标对应捕捉测量，这种方式可降低测量误差，提升测量精度。但对于不同测量镜头精度不同，其测量的精度也就不同，用于比对检测时，低精度镜头检测范围一般较大，检测速度快，但误差较大，而高精度镜头检测范围一般较小，检测速度慢，误差较小。因而在实际生产中，经常出现低精度镜头难以满足小误差的要求，而高精度镜头难以满足检测效率的要求，极大影响了生产检测的进程，影响了整个生产工艺流程。

本申请人有鉴于上述习知检测方法之缺失与不便之处，秉持着研究创新、精益求精之精神，利用其专业眼光和专业知识，研究出一种应用范围广，符合产业利用的基于模糊概念的检测方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于模糊概念的检测方法，可有效提高检测效率的同时还可确保检测的准确和质量，且操作工序简单、方便。

为达到上述目的，本发明系采用如下技术方案实现：

基于模糊概念的检测方法，该方法配合光电测量仪器进行，具有普检步骤和精检步骤：其中，

普检步骤是通过光电测量仪器上大范围测量镜头进行，光电测量仪器分别对大范围测量镜头抓取的影像内产品的多个被检单元进行逐一或选择的与标准比对检测；

精检步骤是通过光电测量仪器上小范围测量镜头进行，小范围测量镜头的精度高于上述的大范围测量镜头，小范围测量镜头放大产品的被检单元后由光电测量仪器对该放大的被检单元与标准比对检测；

所述精检步骤是依据普检步骤的检测结果有需进行。

上述方案中，所述普检步骤的比对检测的误差范围小于产品原始允许的加工误差范围。

上述方案中，所述精检步骤的比对检测的误差范围与产品原始允许的加工误差范围一致。

上述方案中，光电测量仪器上的小范围测量镜头抓取的影像位于大范围测量镜头抓取的影像内。

本发明提供的检测方法具有如下优点：1、以普检步骤和精检步骤配合，可利用普检步骤有效提升检测效率，促进生产，而利用精检步骤有效确保检测的精度，保证产品的质量，减少不良率。2、操作工序简单、方便，应用面广，符合产业大批量、自动化生产的使用。

附图说明：

附图1为本发明其一实施工作示意图；

附图2为图1之实施工作的普检步骤示意图；

附图3为图1之实施工作的精检步骤示意图。

具体实施方式：

本发明提供的基于模糊概念的检测方法，其是配合光电测量仪器进行，具有普检步骤和精检步骤：其中，

普检步骤是通过光电测量仪器上大范围测量镜头进行，光电测量仪器分别对大范围测量镜头抓取的影像内产品的多个被检单元进行逐一或选择的与标准比对检测；普检步骤的比对检测的误差范围小于产品原始允许的加工误差范围。

精检步骤是通过光电测量仪器上小范围测量镜头进行，小范围测量镜头的精度高于上述的大范围测量镜头，小范围测量镜头放大产品的被检单元后由光电测量仪器对该放大的被检单元与标准比对检测；精检步骤的比对检测的误差范围与产品原始允许的加工误差范围一致；所述精检步骤是依据普检步骤的检测结果有需进行，即当普检步骤中出现有超出其检测的误差范围时才启动精检步骤，否则不需要启动精检步骤。

实施例1：