[实用新型]一种高灵敏性按键无效
申请号: | 200820178145.0 | 申请日: | 2008-11-21 |
公开(公告)号: | CN201285722Y | 公开(公告)日: | 2009-08-05 |
发明(设计)人: | 李闯;罗汗明 | 申请(专利权)人: | 李闯;罗汗明 |
主分类号: | H01H13/14 | 分类号: | H01H13/14 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 136107吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 灵敏性 按键 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种按键结构,尤其涉及一种具有高灵敏性的按键。
背景技术
现有技术中的各种按键结构,大体为设置一静触头及动触头,所述静触头具有第一接触点,所述动触头具有第二接触点。按动所述动触头向静触头运动,迫使第二接触点与第一接触点相接触,从而使按键导通。
如图1所示为常用的按键结构,其包括按键本体4,按键本体4上设置的上键体1(即动触头)、按键本体4上设置的下键体3(静触头)、在上键体1上设置有第一接触点2、下键体3上设置有第二接触点7,所述第一接触点2为突出上键体1的突起,当向下键体3方向按下上键体1时,所述第一接触点2与第二接触点7接触,从而实现按键的导通。
现有技术中的按键结构,须严格保证第一接触点2与第二接触点7的相对位置,若上键体1发生错位,则会导致第一接触点2的位置发生变化,进而不能准确接触第二接触点7,从而导致按键无法导通。再者,频繁按下上键体1,使第一接触点2频繁接触第二接触点7,久而久之,会使第二接触点7和第一接触点2的接触部位出现凹坑,若污物进入凹坑,则会阻碍第一接触点2与第二接触点7的接触,同样会导致按键无法导通。
实用新型内容
本实用新型提供一种高灵敏性按键,通过改进上键体、下键体的结构,克服现有技术中按键易出现无法导通的缺点。
本实用新型所述的高灵敏性按键,包括上键体、下键体,还包括第一条状导体和第二条状导体,其中:
所述第一条状导体设置于上键体上,所述第二条状导体设置于下键体上,且第一条状导体与第二条状导体交叉设置,当上键体相对下键体运动时,所述第一条状导体与第二条状导体接触。
本实用新型所述的高灵敏性按键中,所述上键体设有第一凹槽,所述第一条状导体置于该第一凹槽中。所述下键体设有第二凹槽,所述第二条状导体置于该第二凹槽中。
本实用新型所述的高灵敏性按键中,所述第一条状导体与上键体一体成型。所述第二条状导体与下键体一体成型。
本实用新型所述的高灵敏性按键中,优选方案为:所述第一条状导体与第二条状导体正交设置。
本实用新型通过在上键体和下键体上分别设置交叉的第一条状导体和第二条状导体,即使上键体相对下键体发生错位,仍能保证第一条状导体与第二条状导体接触,从而保证按键导通。并且,采用第一条状导体与第二条状导体接触的方式,接触处不易形成凹坑,污物不容易聚集,且即使出现污物聚集,清洁污物过程也较现有技术中清洁凹坑内污物容易得多。
附图说明
图1为现有技术中按键的剖面结构示意图;
图2为本实用新型所述高灵敏性按键的剖面结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型所述高灵敏性按键做详细说明。
如图2所示,本实用新型所述高灵敏性按键,包括按键本体4,在按键本体4上设置有上键体1和相对的下键体3。
所述上键体1上还设置有第一条状导体5,该第一条状导体5可与所述上键体1一体成型而得,也可通过在上键体1上开设凹槽,再将第一条状导体5置于该凹槽中。
所述下键体3上还设置有第二条状导体6,该第二条状导体6可与所述下键体3一体成型而得,也可通过在下键体3上开设凹槽,再将第二条状导体置于该凹槽中。
本实用新型所述的高灵敏性按键中,所述的第一条状导体5与第二条状导体6须保证交叉设置,这样,当上键体1相对下键体3运动时,所述第一条状导体5与第二条状导体6接触,从而使按键导通。而且,即使上键体1发生相对于下键体3的错位时,仍能保证第一条状导体5与第二条状导体6相接触。
本实用新型所述的高灵敏性按键中,所述的第一条状导体5与第二条状导体6的优选交叉设置方式为正交设置。
本实用新型所述的高灵敏性按键中,第一条状导体5与第二条状导体6相交接触,其接触位置会形成凹槽,而不会形成四周高中间底的凹坑,因此,如接触的凹槽位置出现污物,其清洁过程较清洁凹坑方便得多。
尽管本实用新型的实施方案已公开如上,但其并不仅仅限于说明书和实施方式中所列运用,它完全可以被适用于各种适合本实用新型的领域,对于熟悉本领域的人员而言,可容易地实现另外的修改,因此在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念下,本实用新型并不限于特定的细节和这里示出与描述的图例。
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