[实用新型]一种测试底座针无效

专利信息
申请号: 200720108340.1 申请日: 2007-04-19
公开(公告)号: CN201037849Y 公开(公告)日: 2008-03-19
发明(设计)人: 沈芳珍;周燕明 申请(专利权)人: 沈芳珍
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 315336浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 底座
【说明书】:

(一)技术领域

本实用新型涉及一种测试底座针。

(二)背景技术

一般情况下,印刷电路板及芯片等完成线路布置后,为确定每条线路皆可正常导通,必须用测试探针予以测试,测试探针的一头接触测试点,另一头连接导线,通过导线将测试探针和测试机连接起来。进行测试时,需在测试探针的尾部连接导线,操作麻烦,而且测试时都是多点测试,各导线之间易产生缠绕。

(三)发明内容

为了克服现有技术中利用测试探针进行测试时须连接导线、操作麻烦的不足,本实用新型提供一种测试底座针,可用于连接测试探针和测试机,无须利用测试探针进行测试时无须连接导线,操作简便。

本实用新型解决其技术问题的技术方案是:一种测试底座针,包括针套,所述的针套内设有轴向的压簧,所述的针套内可滑动得套设有针体,所述针体的尾部顶在所述的压簧上从而使得针体在针套内具有弹性伸缩的回复力,所述针体的前部位于所述的针套外,所述针体的前端具有插接测试探针的插槽;所述的针体上设有防止其滑出针套的止退台阶,所述的针套具有与所述止退台阶相配合的收缩部。

进一步,所述的针套内还有钢珠,所述压簧的尾部压设在所述的钢珠上。

使用测试探针进行测试时,测试探针的一头接触测试点,另一头插入本实用新型针体前端的插槽内,本实用新型针套的尾部与测试机接触连接,即可实现测试信号的传递。使用本使用新型即可实现测试探针与测试机的连接,在进行测试时,不必再在测试探针的尾部连接导线,操作简便,也解决了导线的缠绕问题。

(四)附图说明

图1是本实用新型的半剖图。

图2是针体前端的端面图。

(五)具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细说明。

参照图1、图2,一种测试底座针,包括针套1,所述的针套1内设有轴向的压簧2,为了较好地定位该压簧2,所述的针套1内还有钢珠3,所述压簧2的尾部压设在所述的钢珠3上。

所述的针套1内可滑动得套设有针体4,所述针体4的尾部顶在所述的压簧2上从而使得针体4在针套1内具有弹性伸缩的回复力,所述针体4的前部位于所述的针套1外,所述针体4的前端具有插接测试探针的插槽5。

所述的针体4上设有防止其滑出针套1的止退台阶,所述的针套1具有与所述止退台阶相配合的收缩部6。

使用测试探针进行测试时,测试探针的一头接触测试点,另一头插入本实用新型针体前端的插槽5内,本实用新型针套1的尾部与测试机接触连接,即可实现测试信号的传递。使用本使用新型即可实现测试探针与测试机的连接,在进行测试时,不必再在测试探针的尾部连接导线,操作简便,也解决了导线的缠绕问题。

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