[实用新型]光性能检测仪有效

专利信息
申请号: 200720076278.2 申请日: 2007-11-16
公开(公告)号: CN201156736Y 公开(公告)日: 2008-11-26
发明(设计)人: 刘浩峰;林清全;高义河 申请(专利权)人: 上海未来宽带技术及应用工程研究中心有限公司
主分类号: H04B10/08 分类号: H04B10/08;H04B10/12
代理公司: 上海兆丰知识产权代理事务所 代理人: 章蔚强
地址: 200336*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 性能 检测
【权利要求书】:

1、一种光性能检测仪,其特征在于,包括光开关、与光开关电连接的微处理器、分别与光开关光信号连接及与微处理器电连接的可调滤波器、与可调滤波器光信号连接的光分路器件、与光分路器件光信号连接的FP标准具和给光开关输入光信号的参考波长激光器,其中,

所述光开关,被所述微处理器控制用于切换参考波长的光信号和被检测的光信号;

所述微处理器,用于控制输出不同的电压,驱动所述可调滤波器工作,控制调节所述可调滤波器滤出的波长,记录测试出用以检测光性能的相关数据,并控制所述光开关切换光信号;

所述可调滤波器,用于根据所述微处理器控制输出的不同的电压来控制透过的光波长,将测试光中的一个一个波长提取滤过出来;

所述光分路器件,用于将所述可调滤波器的提取滤过出来的光信号,分成两部分,一部分直接进行测量光功率,另一部分进入所述FP标准具中,进行波长测定;

所述FP标准具,用于标定被所述可调滤波器透过的光的波长;

所述参考波长激光器,用于作为整个检测仪检测系统的参考波长,输入固定波长的光供检测系统测试出相应的光性能数据作为对应电压滤出波性能数据的对照数据。

2、根据权利要求1所述的光性能检测仪,其特征在于,所述可调滤波器采用压电陶瓷滤波器,通过输入电压的不同改变压电陶瓷的伸缩来控制FP腔体的间距同时改变透过的光波长。

3、根据权利要求1所述的光性能检测仪,其特征在于,所述FP标准具,透过它的光的波长间隔满足DWDM系统的要求0.8nm,透过它的波长满足DWDM的信道。

4、根据权利要求1所述的光性能检测仪,其特征在于,所述光分路器件,用于将所述可调滤波器的提取滤过的光信号,分成95%/5%,该95%部分直接进行测试,另5%部分进入所述FP标准具中,进行波长测定。

5、根据权利要求1所述的光性能检测仪,其特征在于,还包括两路分别与光分路器件和FP标准具光信号连接的光电转换PIN管和与光电转换PIN管电连接的AD转换器,在光信号经过所述光分路器件或所述FP标准具后经过所述光电转换PIN管和所述AD转换器后进入所述微处理器。

6、根据权利要求5所述的光性能检测仪,其特征在于,所述光电转换PIN管,用于将光信号转换成电流信号供所述微处理器测试记录。

7、根据权利要求5所述的光性能检测仪,其特征在于,所述AD转换器,用于将模拟的电压信号转换成数字信号进入所述微处理器。

8、根据权利要求1所述的光性能检测仪,其特征在于,还包括一电连接在可调滤波器和微处理器之间的DA转换器,用于将所述微处理器的数字信号的电压转换成模拟信号,驱动所述可调滤波器工作。

9、根据权利要求5所述的光性能检测仪,其特征在于,每路光电转换PIN管和与光电转换PIN管电连接的AD转换器上还包括电连接在光电转换PIN管和AD转换器之间的电路放大器,用于将所述光电转换PIN管的微弱的电流信号转换成电压信号。

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