本专利网">发明涉及频谱分析仪技术领域,具体涉及一种基于低频检波的外差扫频式频谱分析仪,包括待测信号调理模块、混频器模块、本振信号发生模块、低频信号处理模块、AD采样模块、FPGA模块和显示屏模块;混频器模块的两个输入分别与待测信号调理模块和本振信号发生模块相连,混频器模块的输出与低频信号处理模块的输入相连,低频信号处理模块的输出与AD采样模块的输入相连,FPGA模块分别与本振信号发生模块、AD采样模块和显示屏模块相连。该频谱分析仪实现了任意频谱的精确测量,不仅具有超外差频谱仪适用范围广的特点,而且还简化了系统复杂程度,提高了系统的测量精度,避免了中频检波采用带通滤波器带来的镜频干扰问题。
1.一种基于低频检波的外差扫频式频谱分析仪,其特征在于,包括待测信号调理模块、混频器模块、本振信号发生模块、低频信号处理模块、AD采样模块、FPGA模块和显示屏模块;混频器模块的两个输入分别与待测信号调理模块和本振信号发生模块相连,混频器模块的输出与低频信号处理模块的输入相连,低频信号处理模块的输出与AD采样模块的输入相连,FPGA模块分别与本振信号发生模块、AD采样模块和显示屏模块相连;所述待测信号调理模块包括BNC接头、抗混叠滤波器模块和射频放大器;输入信号通过BNC接头接入,BNC接头输出与抗混叠滤波器模块的输入相连,抗混叠滤波器模块的输出与射频放大器的输入相连;混频器模块采用ADI 500MHz信号带宽的四象限乘法器AD834;乘法器的输入与射频放大器的输出相连;所述本振信号发生模块包括温补晶振模块、锁相环模块、程控衰减器模块和低通滤波器模块;温补晶振模块与锁相环模块参考端相连,锁相环模块输出与程控衰减器模块的输入相连,程控衰减器模块的输出与低通滤波器模块输入相连;低通滤波器模块输出与乘法器输入相连;低频信号处理模块包括预滤波器、第一模拟开关、程控滤波器、3.75MHz低通滤波器、375kHz低通滤波器、第二模拟开关和低频放大器;预滤波器的输入与乘法器输出相连,预滤波器输出与第一模拟开关的输入相连;第一模拟开关的三个输出分别与程控滤波器、3.75MHz低通滤波器、375kHz低通滤波器相连;第二模拟开关的三个输入分别与程控滤波器、3.75MHz低通滤波器、375kHz低通滤波器相连;第二模拟开关的输出与低频放大器输入相连。
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