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- [实用新型]MLCC产品DPA制样工装-CN202022799080.5有效
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刘苹贞;敬文平;李金燃;施蕾;杨俊;韩玮;邓国平
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深圳市宇阳科技发展有限公司
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2020-11-27
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2021-10-08
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B25B11/00
- 本实用新型涉及一种MLCC产品DPA制样工装,其包括：卡槽包括底板及安装于底板一侧的多个隔档，多个隔档平行设置，相邻两隔档与底板共同围成限位槽；及与底板连接的磁吸件，磁吸件能够与MLCC相磁吸而将MLCC限定于限位槽内；在限位槽的宽度方向，限位槽内仅能容置一个MLCC；在限位槽的长度反向，限位槽内能够容置多个MLCC。上述制样工装在使用时，取适量的MLCC产品置于卡槽上，来回拨动MLCC产品，结合磁吸件的磁吸作用，即可使MLCC产品以堆叠面朝向磁吸件的姿态落入限位槽内，从而使MLCC沿限位槽的长度方向以相同的姿态整齐排列，进而快速实现MLCC产品的有序排列，之后将双面胶覆盖多个MLCC，即可实现MLCC在双面胶上的整齐排列，从而在保证制样效果的同时提高制样速度。
- mlcc产品dpa工装
- [发明专利]一种用于MLCC的不良分析方法-CN202211102251.1在审
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钱华;李志鹏
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元六鸿远（苏州）电子科技有限公司
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2022-09-09
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2023-04-21
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G01R31/64
- 本发明属于陶瓷电容器技术领域，尤其为一种用于MLCC的不良分析方法，包括将待分析的MLCC两端通过导线与电源进行连接，缓慢增加电流使得MLCC短路点发热；将短路后的MLCC放置在红外显微镜下方，使用红外热成像显微镜观察MLCC进行拍照，从而明确MLCC的发热点；将待分析MLCC制成金相切片样品，对待分析的MLCC的发热点进行DPA，定位观察所述待分析的MLCC的发热点部位。本发明通过使MLCC短路发热，通过红外显微镜可以捕捉短路点发热产生的红外线，通过红外显微镜可对发热体产生的红外线进行成像成像后确定短路位置，达到将快速找出短路不良位置，然后进行DPA分析，DPA时直接研磨到该位置附近
- 一种用于mlcc不良分析方法
- [发明专利]一种MLCC的倒角方法-CN202211211569.3有效
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李冬梅;吴炜坚;林显竣
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广东微容电子科技有限公司
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2022-09-30
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2023-06-20
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B24B9/06
- 本发明涉及一种MLCC的倒角方法，包括以下步骤：S100：制备MLCC烧结生坯；S101：将第一研磨介质、非离子表面活性剂型清洁剂与所述MLCC烧结生坯混合倒角，得到第一MLCC倒角坯，其中，所述非离子表面活性剂型清洁剂具有亲油性和亲水性；S102：用纯水对所述第一MLCC倒角坯进行清洗，然后干燥；S103：将第二研磨介质、改性剂与经过步骤S102的所述第一MLCC倒角坯混合倒角，得到第二MLCC倒角坯，其中，所述改性剂不具有亲油性；S104：用纯水对所述第二MLCC倒角坯进行清洗，然后干燥；S105：对经过步骤S104的所述第二MLCC倒角坯两端沾浆，然后干燥。本发明所述的MLCC的倒角方法具有改进难度低，改善效果好的优点。
- 一种mlcc倒角方法
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