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- [发明专利]在试液中利用石英晶体微天平检测病毒的方法-CN03156157.8有效
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侯邦为
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侯邦义
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2003-09-02
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2004-04-07
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G01N5/00
- 并将其作为基准值；(2)将经步骤(1)处理的探针放入没有病毒，但与待测试液相同的溶液中，测量溶液中无病毒情况下石英晶体的频率值fl，计算出频率值fl与基准值fo之间的变化值Δfl=fl－fo；(3)将经步骤(1)处理的探针放入待测试液中，测量在试液中石英晶体的频率值fm，计算出频率值fm与基准值fo之间的变化值Δfm=fm－fo；(4)比较步骤(2)和步骤(3)的频率变化值，如果二者数值相等，Δfm=Δfl，说明试液中没有病毒；如果Δfm与Δfl数值不同，|Δfm|>|Δfl|则证明试液中有病毒存在。
- 试液中利用石英晶体天平检测病毒方法
- [发明专利]借助轧制参数对与轧制模块不同的附加模块进行适配的轧机用的控制方法-CN201080030644.5有效
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K.魏因齐尔;H-U.勒夫勒
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西门子公司
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2010-06-28
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2012-05-23
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G05B13/04
- 控制装置（3）实时地记录至少一个轧制参数（F、M），利用所述轧制参数在所述轧机（1）的第一轧机机架（4）中对所述第一轧材（2）进行轧制。所述控制装置（3）借助轧制模块（11）确定与所记录的轧制参数（F、M）相应的期望的轧制参数（F′、M′），所述轧制模块描述在所述第一轧机机架（4）中对所述第一轧材（2）进行的轧制。当确定所期望的轧制参数（F′、M′）时，控制装置（3）在所述轧制模块（11）的范围内考虑所述第一轧材（2）的确定的特性。控制装置（3）确定被记录的轧制参数（F、M）与期望的轧制参数（F′、M′）的偏差（δ）并且借助被记录的轧制参数（F、M）与期望的轧制参数（F′、M′）的偏差（δ）至少对所述附加模块（12）进行适配。此外，确定被记录的附加的测量参数（F、M）与附加的、借助至少所述轧制模块（11）确定的相应的期望参数（F′、M′）的偏差（δ），从而还能对轧制模块（11）进行适配。
- 借助轧制参数模块不同附加进行轧机控制方法
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