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[发明专利]判断集成电路处理速度的测试系统与测试方法-CN200510105384.4无效
发明人：叶映志;方重尹 -专利权人：矽统科技股份有限公司
申请日： 2005-09-23 - 公布日： 2007-03-28 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明提供一种判断集成电路处理速度的测试系统与测试方法。该测试系统包括一时脉输出装置与一判断单元；所述时脉输出装置包括一正反器和一延迟模块。该测试方法利用集成电路所需延迟时间的长短来反映集成电路的处理速度。通过本发明，利用判断信号被致能的同时取得与集成电路处理速度具有正相关性的延迟时间，通过该延迟时间来反映出集成电路的处理速度，从而达到测试出集成电路处理速度的效果，并达到将具有不同处理速度的集成电路分类的效果
判断集成电路处理速度测试系统方法

[发明专利]集成电路失效点的定位方法-CN202210930187.X在审
发明人：倪毅强;庞超;杨施政;陈选龙;何亮;张志鑫;刘宇锋 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2022-08-03 - 公布日： 2022-12-02 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：所述方法包括：对已预处理的集成电路施加激励信号后进行锁相红外热成像检测，得到红外图像，通过预处理提高集成电路的发射率。对红外图像进行处理，得到目标振幅图和目标相位图。根据目标振幅图确定集成电路的失效点的水平位置信息。根据目标相位图确定集成电路的失效点的深度信息。目标振幅图表征了集成电路失效点的水平位置信息，目标振幅图表征了集成电路的失效点的深度信息。结合水平信息和深度信息，可以确定集成电路失效点的具体位置。通过预处理提高集成电路的发射率，提高了材料表面红外发射率，提高了对集成电路失效点的定位精度。
集成电路失效定位方法

[发明专利]集成电路处理方法、集成电路验证方法、装置及电子设备-CN202011419877.6有效
发明人：王芳;沈旭;魏炽频;杨晶晶;谭帆 -专利权人：海光信息技术股份有限公司
申请日： 2020-12-03 - 公布日： 2023-02-17 - 主分类号： G06F30/3308 文献下载
摘要：本申请涉及一种集成电路处理方法、集成电路验证方法、装置及电子设备，属于计算机技术领域。集成电路处理方法包括：获取待处理的集成电路，所述集成电路包含多个子模块；将所述集成电路中与库相关的每一个子模块替换为与该子模块功能相同，且与库无关的子模型，并按照原有连接方式进行连接；对所述集成电路模型化后得到的模型的芯片访问参数进行建模本申请实施例中，通过对集成电路进行与无库无关的模型化处理，解决了由于不同的集成电路采用不同的工艺，使得前端仿真时可能会存在库冲突，导致前端验证无法进行的问题。
集成电路处理方法验证装置电子设备

[发明专利]具光检测电路的光电集成电路及其制造方法-CN98102244.8无效
发明人：蔡文钦 -专利权人：美禄科技股份有限公司
申请日： 1998-06-09 - 公布日： 1999-12-15 - 主分类号： H01L31/00 文献下载
摘要：一种结合光检测电路于集成电路的光电集成电路，其特征是提供集成电路可直接将输入的光讯号转换为电子讯号，以便其积体电路执行处理的光电集成电路，其中，该集成电路结合的光检测电路是一种金属一半导体一金属(Metal－Semiconductor－Metal)的光检测器，其受光时会产生电流，使输入的光讯号藉此转换成电子讯号，该电子讯号即可被集成电路接受而处理，实现光、电转换于一体的光电集成电路。
检测电路光电集成电路及其制造方法

[发明专利]一种集成电路物理指纹的提取方法-CN202211570155.X在审
发明人：李磊;周婉婷 -专利权人：电子科技大学长三角研究院（湖州）
申请日： 2022-12-08 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： G06F18/213 文献下载
摘要：本发明公开一种集成电路物理指纹的提取方法，应用于信息安全和集成电路技术领域，针对现有的物理指纹提取电路存在结构复杂的问题；本发明基于时钟信号的处理，通过集成电路随机物理差异从而产生随机值，结合后端设计技术，通过采集时钟信号的差异提取集成电路随机物理差异，从而建立了一种新型的集成电路物理指纹的提取方法。该发明基于集成电路中的时钟信号进行处理，不需要额外增加太多电路。该专利处理简单，不需要后处理电路。
一种集成电路物理指纹提取方法

[发明专利]一种模仿集成电路-CN201410543856.3在审
发明人：赵慧伟 -专利权人：陕西三元金泰实业发展有限公司
申请日： 2014-10-15 - 公布日： 2016-05-11 - 主分类号： H03K19/00 文献下载
摘要：一种模仿集成电路，包括电源，其特征在于，电源连接集成电路，集成电路连接储存器，集成电路设有对比器，处理器，集成电路连接接收器，通过录音后分析，提高模仿的质量。
一种模仿集成电路

[发明专利]连接天线到应答器芯片和相应的嵌件基底的方法-CN200780040534.5有效
发明人：戴维·芬恩 -专利权人： HID环球有限责任公司
申请日： 2007-09-26 - 公布日： 2009-11-04 - 主分类号： G06K19/07 文献下载
摘要：RF嵌件包括集成电路和附着到承载集成电路的基底材料的天线。在处理过程中，形成天线的金属丝部分与集成电路相邻定位但不直接在集成电路之上。在随后的处理步骤中，金属丝末端布置为与集成电路端子区域接触并固定到集成电路端子区域。
连接天线应答器芯片相应基底方法

[实用新型]一种内置集成电路的LED-CN202220304040.5有效
发明人：谭满龙 -专利权人：深圳市鑫冠明科技有限公司
申请日： 2022-02-15 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： H05B45/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种内置集成电路的LED，包括：LED芯片、集成电路板；所述集成电路板固定设于所述LED芯片上，所述集成电路板内预置信号处理电路，所述集成电路板接收外界控制信号经信号处理电路识别处理并将外界控制信号输出至所述采用以上设计，通过在LED芯片上设置集成电路板，并在集成电路板上内置信号处理电路，使LED芯片的点亮经集成电路板控制，在使用点阵LED灯时，可使LED焊盘的数量减少，并使点阵LED灯的线路更简单，控制更方便
一种内置集成电路 led

[实用新型]集成电路系统-CN201220065486.3有效
发明人：李祖昌;卢超群;洪政裕 -专利权人：钰创科技股份有限公司
申请日： 2012-02-27 - 公布日： 2012-11-14 - 主分类号： G11C7/10 文献下载
摘要：本实用新型提供一种集成电路系统。该集成电路系统包括应用逻辑集成电路、至少一个内存集成电路及串行信道控制单元。该应用逻辑集成电路包括应用处理单元和内存控制单元。该内存控制单元具有总线。每一个内存集成电路包括第一信道接口、内存阵列及第二信道接口。该内存阵列是用以储存数据。该串行信道控制单元是耦接于该第二信道接口，用以输出该数据；该总线是适用于该应用处理单元与该内存集成电路，以及该应用逻辑集成电路、该至少一个内存集成电路与该串行信道控制单元是整合于预定封装。因此，因为该内存控制单元可被客制化以因应不同的应用处理单元与内存集成电路，所以具有最佳化的效能、效率以及成本。
集成电路系统

[发明专利]基于集成电路的纳米继电器-CN202110682417.0有效
发明人：李鹏;曾祥君;习伟;李肖博;姚浩;于杨;蔡田田 -专利权人：南方电网数字电网研究院有限公司
申请日： 2021-06-18 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： H03K19/20 文献下载
摘要：本申请涉及一种基于集成电路的纳米继电器。所述纳米继电器包括：通过根据由组合逻辑电路搭建的集成电路模块构建纳米继电器的集成电路系统，通过该集成电路模块调用集成的电力数据处理算法对输入的电力信号进行信号处理，输出电力业务数据；即通过组合逻辑电路为主构建集成电路，以硬件电路模块实现纳米继电器的保护逻辑，提高继电器的响应速度。
基于集成电路纳米继电器

[发明专利]打胶集成电路再利用的方法及其所需的植锡夹具-CN201610022412.4有效
发明人：高发明;李艳;冯容;卢雄;黄南达 -专利权人：惠州TCL移动通信有限公司
申请日： 2016-01-12 - 公布日： 2018-05-29 - 主分类号： H01L21/687 文献下载
摘要：本发明公开了一种打胶集成电路再利用的方法，包括步骤：A、将打胶集成电路进行固定，将加热组件置于打胶集成电路上的残胶处加热，以去除残胶，获得集成电路残片；B、将集成电路残片盖合于植锡夹具中；C、利用锡膏对位于植锡夹具中的集成电路残片进行植锡，获得植锡集成电路；D、将植锡集成电路置于加热台上进行加热，植锡集成电路上的锡膏点受热凝固，所述打胶集成电路得以再利用。根据本发明的打胶集成电路再利用的方法，可使打胶集成电路得以再利用，无需作报废处理，大幅度地减少了打胶集成电路的浪费。本发明还公开了上述打胶集成电路再利用所需的植锡夹具，该植锡夹具保证了集成电路残片良好的植锡效果，以确保打胶集成电路能够再利用。
集成电路打胶再利用夹具加热残胶锡膏加热组件受热盖合去除凝固报废保证

[发明专利]一种射频卡门锁控制电路-CN201410615274.1有效
发明人：陈玉梅;娄建伟;王勉;余晖;赵宁;赵靖;郭良;杨慧 -专利权人：安徽天智信息科技集团股份有限公司
申请日： 2014-11-05 - 公布日： 2015-02-18 - 主分类号： G06K19/077 文献下载
摘要：本发明公开了一种射频卡门锁控制电路，包括有中央处理器集成电路，与中央处理器集成电路连接的射频通信集成电路、电源开关集成电路、直流电机的驱动电路、内存储器集成电路、AD采样及放大滤波电路。本发明具有低电压、低功耗、低成本、体积小的优点，且布线合理，使用咸性电池供电的控制电路，满足客户的需求。
一种射频卡门锁控制电路

[发明专利]半导体集成电路-CN200910013506.5无效
发明人：周嘉杰 -专利权人：周嘉杰
申请日： 2009-08-28 - 公布日： 2011-03-30 - 主分类号： H04B5/02 文献下载
摘要：半导体集成电路属于集成电路领域，尤其涉及一种半导体集成电路结构的改进，用于通信控制的半导体集成电路和使用该半导体集成电路的无线通信系统。本发明就是提供一种可使振荡频率不偏离所需要的值的半导体集成电路。其特征在于，本发明包括基带处理电路、调试接口电路、D/A转换电路、非易失存储器、掩模ROM、中央处理器CPU及频率倍增器，所述的频率倍增器经外部端子P1与基带处理电路相连，基带处理电路、调试接口电路、D/A转换电路、非易失存储器、掩模ROM由中央处理器CPU控制，在接口端子P2与基带处理电路之间设置有选择器SEL，通过非易失存储器中的模式设置数据选择器SEL进行接口转换。
半导体集成电路

[发明专利]电子设备、电子设备的IC内部组成部件的分散调节方法及IC-CN200910132537.2有效
发明人：冈田隆宏;三浦清志;吉田成宏 -专利权人：索尼株式会社
申请日： 2009-03-31 - 公布日： 2009-10-07 - 主分类号： H04N5/44 文献下载
摘要：一种电子设备包括：第一集成电路，包括内部组成部件、非易失存储器、及接口部分；测试信号生成部分，配置为生成要供给到第一集成电路的测试信号；第二集成电路，包括：配置为处理第一集成电路的输出信号的处理部分、第一集成电路的接口部分连接到其上的信号处理器、以及配置为检测用来判定所述处理部分进行的测试信号的处理结果的判定信息的检测部分；及控制部分，配置为将来自测试信号生成部分的测试信号，代替输入信号，供给到第一集成电路，并且将指令发给第二集成电路的信号处理器以生成实际使用调节数据
电子设备 ic 内部组成部件分散调节方法

[实用新型]集成电路量测系统-CN202120305153.2有效
发明人：李锡铭;潘泰全 -专利权人：美达科技股份有限公司
申请日： 2021-02-03 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种集成电路量测系统，其包括处理器和探针卡。探针卡耦接处理器并具有输入端和输出端，探针卡于输入端输入输入电压至集成电路，输出端测量集成电路的输出电压，探针卡根据输出电压和参考电压而取得反应时间，处理器根据反应时间推算修调位阶。利用探针卡和处理器的搭配，得知集成电路是否满足转态的条件，以取得集成电路的修调位阶。
集成电路系统