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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]一种电子设备测试方法及系统-CN202210719156.X在审
发明人：郭新宇 -专利权人：广州市天奕信息技术股份有限公司
申请日： 2022-06-23 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种电子设备测试方法及系统，方法包括构建电子设备测试流程数据库，获取测试任务，依据所述测试任务从电子设备测试流程数据库筛选出若干个电子设备测试流程，对筛选出的若干个电子设备测试流程进行排序，得到测试任务相对应的测试规划，依据所述测试规划进行测试，从而实现电子设备的测试；通过构建电子设备测试流程数据库，不同的电子设备对应相应的电子设备测试流程，依据测试任务从电子设备测试流程数据库筛选出若干个电子设备测试流程，并通过对若干个电子设备测试流程进行排序，得到测试任务相对应的测试规划，依据测试规划进行测试，不仅能够使得测试流程规范化，从而提高测试的准确率，还能够提高测试的效率。
一种电子设备测试方法系统

[发明专利]电子设备的测试系统及测试方法-CN202210707180.1在审
发明人：方冠臻 -专利权人：杭州涂鸦信息技术有限公司
申请日： 2022-06-21 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： H04B17/00 文献下载
摘要：本申请公开了电子设备的测试系统及测试方法。电子设备的测试系统包括信号输出设备、信号接收设备和上位机。信号输出设备用于向标准电子设备组输出正信号和向与标准电子设备组规格相同的待测试电子设备组输出负信号，正信号和负信号相位相反且能级相同。信号接收设备在测试时与标准电子设备组和待测试电子设备组处于相同的测试空间并位于标准电子设备组和待测试电子设备组的中间，用于在标准电子设备组接收到正信号和待测试电子设备组接收到负信号且各自输出无线信号时接收测试空间中的无线信号上位机用于将无线信号与预设无线信号进行比较，以判断待测试电子设备组是否满足测试要求。通过上述方式，能够提高电子设备的测试效率。
电子设备测试系统方法

[发明专利]一种测试方法及电子设备-CN202211159757.6在审
发明人：付海静 -专利权人：荣耀终端有限公司
申请日： 2022-09-22 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： H04M1/24 文献下载
摘要：本申请提供一种测试方法及电子设备，涉及电子设备领域，能够提高对电子设备的测试效率。该方法包括：第一电子设备接收开始测试的第一操作；响应于第一操作，第一电子设备显示第一标识，第一标识用于指示对第一测试项的进行测试，第一测试项为第一电子设备包括的多个测试项中的任一个测试项；第二电子设备获取第一标识；第二电子设备根据第一标识，对第一测试项进行测试；第一电子设备接收第二电子设备触发的切换第二测试项的第二操作，第二测试项为第一电子设备包括的多个测试项中第一测试项之后的测试项；响应于第二操作，第一电子设备显示第二标识，第二标识用于指示对第二测试项进行测试。
一种测试方法电子设备

[发明专利]一种待测电子设备的性能测试系统、方法及装置-CN201310439033.1有效
发明人：李耀 -专利权人：深圳市共进电子股份有限公司
申请日： 2013-09-24 - 公布日： 2013-12-25 - 主分类号： H04L12/26 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种待测电子设备的性能测试系统、方法及装置，其中系统包括：计算机PC，测试仪器，若干待测电子设备；PC分别通过与各待测电子设备相接的网卡，与各待测电子设备建立通信，确定各待测电子设备的测试先后次序，一个测试次序对应一个待测电子设备；PC通过与所述测试仪器相接的网卡，按照所述测试先后次序，在各个测试次序阶段，控制所述测试仪器锁定与各测试次序对应的待测电子设备，控制所述测试仪器通过与各测试次序对应的待测电子设备相接的测试端口，对所述各测试次序对应的待测电子设备的性能进行测试，从而完成各待测电子设备的性能测试，获取各待测电子设备的测试结果。本发明提高了待测电子设备的性能测试的效率。
一种电子设备性能测试系统方法装置

[发明专利]电子设备的耗电测试方法及装置-CN201510781799.7有效
发明人：关亮 -专利权人：北京金山安全软件有限公司
申请日： 2015-11-13 - 公布日： 2018-09-11 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明提出一种电子设备的耗电测试方法及装置。其中，该方法包括：获取电子设备的型号信息，确定与型号信息的电子设备所对应的待测电子设备的测试场景；根据测试场景确定对应的应用程序和测试时间，并将应用程序安装至待测电子设备；在待测电子设备中运行应用程序，并在测试时间达到之后记录待测电子设备的耗电情况。该实施例的电子设备的耗电测试方法，基于用户的使用场景对电子设备耗电进行测试，准确测试了电子设备的耗电情况，进而可准确为用户提供电子设备耗电情况。
电子设备耗电测试测试方法及装置测试场景应用程序应用程序安装用户提供电子使用场景记录

[发明专利]汽车电子设备的测试方法、装置、计算机设备及存储介质-CN201811243962.4有效
发明人：周立功;王迪明;赖世浩 -专利权人：广州求远电子科技有限公司
申请日： 2018-10-24 - 公布日： 2021-02-23 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明涉及汽车电子设备的测试方法、装置、计算机设备及存储介质，属于汽车测试技术领域。所述方法包括：获取档位模拟信息；确定与所述档位模拟信息对应的待测试电子设备；启动所述待测试电子设备，并获取所述待测试电子设备的运行状态；根据所述运行状态确定所述待测试电子设备的测试结果。上述技术方案，解决了汽车电子设备的测试效率低下的问题。能模拟档位器的档位操作，在没有实车验证的情况下也能对电子设备进行测试，有效提高汽车电子设备的测试效率。
汽车电子设备测试方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]电子设备的测试方法及装置-CN201510312124.8有效
发明人：孙启民;侯恩星;曾凡 -专利权人：小米科技有限责任公司
申请日： 2015-06-08 - 公布日： 2018-09-25 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本公开提供了电子设备的测试方法及装置，用以便于没有按键的电子设备进入测试模式，以对电子设备进行测试，其中，方法包括：电子设备上电后，进入测试模式，所述测试模式用于控制所述电子元器件正常工作，并通过正常工作的所述电子元器件控制所述电子设备进入测试状态；电子设备通过测试后，进入熔断模式，所述熔断模式用于熔断所述电子元器件，熔断后的电子元器件与所述电路的连接断开。通过本公开的技术方案，可以方便测试人员对电子设备进行测试，并在测试通过后，保证电子设备能正常工作，从而提升用户的使用体验。
电子设备测试方法装置

[发明专利]电子设备的测试方法、测试装置、测试工装和测试系统-CN201210296440.7有效
发明人：谭泽汉;牛安;彭志富 -专利权人：珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2012-08-20 - 公布日： 2017-02-08 - 主分类号： G05B23/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种电子设备的测试方法、测试装置、测试工装和测试系统。该测试方法包括在电子设备执行测试命令后，采集电子设备的图像，以得到对比图像；提取对比图像的信息；比较提取到的信息和预存的标准信息，其中，标准信息包括电子设备执行测试命令后的正确执行结果；以及根据比较结果输出电子设备执行测试命令的结果通过本发明，能够实现电子设备的自动化测试，提高了电子设备测试效率。
电子设备测试方法装置工装系统

[实用新型]一种电子设备模拟测试车-CN202120256980.7有效
发明人：王英会;杨蓝天;常瑞刚;刘福涛 -专利权人：河南天迈科技有限公司
申请日： 2021-01-29 - 公布日： 2022-02-18 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型提供一种电子设备模拟测试车，包括一小推车式的测试架以及设置在所述测试架上的电子设备；所述电子设备之间的通讯采用CAN通讯；将待测电子设备放在测试架上和其它电子设备连接在一起，把测试架上的其它电子设备视为测试环境，用以测试待测电子设备的功能。本实用新型电子设备模拟测试车能够节省进行测试的准备设备和搭建环境的时间，而且环境齐全，更符合公交车上的环境需求，另外以推车的形式，方便移动。
一种电子设备模拟测试

[发明专利]一种多设备协同测试方法、测试设备及可读存储介质-CN202210928628.2有效
发明人：金波 -专利权人：荣耀终端有限公司
申请日： 2022-08-03 - 公布日： 2023-01-03 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请提供一种多设备协同测试方法、测试设备及可读存储介质，涉及自动化测试技术领域，用于提高测试效率；该方法包括：在第一电子设备与第二电子设备通信连接的情况下，第一电子设备使用第二电子设备安装的第一应用，在第一电子设备中执行第一应用对应的功能；第一电子设备接收来自测试设备的用例指令，获取与用例指令对应的第一测试用例；第一电子设备判断第一测试用例是否包括设备切换命令；若第一测试用例包括设备切换命令，第一电子设备向第二电子设备发送设备切换命令，设备切换命令用于指示第二电子设备接收测试设备对第一应用对应功能的第二测试用例。
一种设备协同测试方法可读存储介质

[发明专利]手持电子设备的性能测试装置及测试系统-CN202010060230.2在审
发明人：吴承勋;孙利民;王弟元;高健 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2020-01-19 - 公布日： 2021-07-20 - 主分类号： G01N17/00 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种手持电子设备的性能测试装置及测试系统。手持电子设备的性能测试系统用于对电子设备的抗夹性、防腐蚀性、防水性、以及极端温度条件下的可靠性等性能进行测试。通过在测试装置中同时设置夹持机构和润湿单元，且润湿单元在夹持机构对电子设备施加了夹持力的情况下用测试液体对待测试区域进行润湿，可以利用夹持机构对电子设备的夹持模拟人手对电子设备的握持，且利用润湿单元对电子设备的待测试区域进行润湿，从而模拟液态汗液对电子设备的待测试区域的浸润，这样能够准确地模拟人手持电子设备时，汗液对电子设备的腐蚀情况。
手持电子设备性能测试装置系统

[发明专利]电子设备的待机耗电测试方法、装置及电子设备-CN201510781798.2有效
发明人：戴龙飞 -专利权人：北京金山安全软件有限公司
申请日： 2015-11-13 - 公布日： 2018-07-10 - 主分类号： G06F11/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种电子设备的待机耗电测试方法、装置及电子设备，其中，电子设备的待机耗电测试方法包括：获取应用程序的流行广度信息和应用程序的运行频率信息；根据应用程序的流行广度信息和应用程序的运行频率信息构建待测试电子设备的应用程序列表；将应用程序列表中的应用程序安装至待测试电子设备；在待测试电子设备中运行应用程序列表中的应用程序，并将待测试电子设备切换至待机状态；以及在预设时间之后，获取电子设备的耗电信息。本发明实施例的电子设备的待机耗电测试方法、装置及电子设备，排除了外界环境的干扰，从而使测试的结果更加准确、可靠。
应用程序电子设备测试电子设备待机耗电装置及电子设备测试运行频率应用程序安装待机状态耗电信息外界环境信息构建预设

[实用新型]手持电子设备的性能测试装置-CN202020120558.4有效
发明人：吴承勋;孙利民;王弟元;高健 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2020-01-19 - 公布日： 2021-05-07 - 主分类号： G01N17/00 文献下载
摘要：本申请实施例提供一种手持电子设备的性能测试装置。手持电子设备的性能测试系统用于对电子设备的抗夹性、防腐蚀性、防水性、以及极端温度条件下的可靠性等性能进行测试。通过在测试装置中同时设置夹持机构和润湿单元，且润湿单元在夹持机构对电子设备施加了夹持力的情况下用测试液体对待测试区域进行润湿，可以利用夹持机构对电子设备的夹持模拟人手对电子设备的握持，且利用润湿单元对电子设备的待测试区域进行润湿，从而模拟液态汗液对电子设备的待测试区域的浸润，这样能够准确地模拟人手持电子设备时，汗液对电子设备的腐蚀情况。
手持电子设备性能测试装置

[发明专利]电子设备测试装置及电子设备-CN201811095875.9有效
发明人：高涛;丁双朋;覃达开;杨冰泉;白浪 -专利权人：四川爱联科技股份有限公司
申请日： 2018-09-19 - 公布日： 2020-12-22 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本发明涉及电子设备测试领域，本发明是要解决如何在电子设备测试时简化其安装和拆卸过程的问题，提出一种电子设备测试装置及电子设备，电子设备测试装置，包括底板、固定装置和至少一个第一滑动固定装置，第一滑动固定装置与固定装置配合形成一个夹持结构，实现了电子设备在测试时快速拆卸，测试装置可循环使用的目的，简化了测试时的安装和拆卸过程，此外，通过将待测电子设备的PIN脚连接至排针，在测试时插入排线即可开始对电子设备的测试，方便接线，简化了测试流程，适用于模块化的电子设备。
电子设备测试装置

[发明专利]测试系统以及测试方法-CN201110215679.2无效
发明人：罗文东;王文武;庄宗仁;翁世芳;刘彬 -专利权人：富泰华工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2011-07-29 - 公布日： 2013-01-30 - 主分类号： G05D27/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种测试系统以及测试方法。该测试方法包括有：待测电子设备控制测试环境稳定在第一测试环境；启动该待测电子设备的性能测试并获得第一测试数据；判断该待测电子设备是否需要改变测试环境，当该待测电子设备需要改变测试环境时，执行下一步骤，当该待测电子设备不需要改变测试环境时，继续执行提供稳定测试环境的步骤；该待测电子设备控制该测试环境稳定设备稳定在第二测试环境；启动该待测电子设备的性能测试并获得第二测试数据。
测试系统以及方法

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