专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于外场调制的SPR检测系统的检测方法-CN201310226200.4有效
  • 朱劲松;李少鹏;周大苏;宋炉胜 - 国家纳米科学中心
  • 2013-06-07 - 2017-05-10 - G01N21/552
  • 本发明提供一种基于外场调制的SPR检测系统的检测方法,包括1)得到第一样品溶液和第二样品溶液的SPR角度扫描曲线,计算0外场下的SPR检测系统灵敏度,标定检测的动态范围;2)选定动态范围内的某一角度作为入射角度进行外场扫描,得到反射光强随外场强度变化的线性系数;3)通入待测溶液,选定与步骤2)相同的入射角度,调节所施加的外场强度,使所检测到的反射光强度始终保持在所述动态范围内,读出外场强度和反射光强度;4)基于所得出的线性系数将测得的反射光强度转换为0外场下的等效反射光强度,再基于所述SPR检测系统的灵敏度,利用等效反射光强度计算出待测溶液的折射率或浓度。
  • 一种基于外场调制spr检测系统方法
  • [发明专利]一种基于谱学分析的外场作用下化学键物性参数测量方法-CN201811311721.9有效
  • 黄勇力;杨学弦;孙长庆 - 湘潭大学
  • 2018-11-06 - 2020-09-29 - G01N29/12
  • 本发明公开了一种基于谱学分析的外场作用下化学键物性参数测量方法,一方面通过将待测样品置于持续作用的待考察外场中进行谱学测试得到待测样品的声子谱,再从中截取在待考察外场不同状态下目标化学键在目标振动模态下谱峰处的振动频率;另一方面,基于化学键振动频率偏移量的计算公式以及化学键长度和能量在外场作用下的受激弛豫公式拟合出在待考察外场不同状态下目标化学键在目标振动模态下的振动频率与参考频率、物性参数的拟合关系式,再将实测的不同状态下目标化学键在目标振动模态下谱峰处的振动频率代入拟合公式得到物性参数通过该方法实现了一种系统式获取不同类外场作用下或者多类外场协同作用下的系列物性参数。
  • 一种基于分析外场作用化学键物性参数测量方法
  • [实用新型]一种外场测距靶-CN202223022389.9有效
  • 董涛;吉玉新;刘双才;薛松;李爽 - 洛阳壹扬机电技术有限公司
  • 2022-11-11 - 2023-04-07 - G01C25/00
  • 本实用新型属于靶板技术领域,具体涉及一种外场测距靶;其包括紧固件和至少两个靶本体;靶本体包括支撑框和靶板,支撑框设置在靶板的背面,支撑框远离靶板的一面设置有锁紧件;装配时,所有的靶本体的朝向相同,且所有的靶本体均处于同一平面内该外场测距靶由紧固件与至少两个分体结构的靶本体组成,在携带该外场测距靶时可以将所有的靶本体拆分开,以减小该外场测距靶的体积以及所占用的空间,使得该外场测距靶的携带更加的方便,且在需要进行外场测距的工作时,工作人员可以将所有的靶本体通过紧固件快速的连接形成目标靶,以提高了外场测距的测试效率。
  • 一种外场测距
  • [发明专利]光调制元件-CN201580003101.7有效
  • 池田富树;河村丞治;西山伊佐;立川丰;岩下芳典 - DIC株式会社
  • 2015-02-12 - 2017-09-12 - G02F1/13
  • 一种光调制元件,其是包含至少一片以上的透明性基板和层叠于该透明性基板上的介电体层的光调制元件,其特征在于,所述介电体层含有外场反应性物质90摩尔%~100摩尔%,所述外场反应性物质的最低三重激态的能级(将所述外场反应性物质(A)的激发单重态的能级设为(S1)时,所述外场反应性物质优选具有S1‑T1的值为1.0eV~2.0eV的外场反应性物质(A‑1)35摩尔%~85摩尔%。
  • 调制元件

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