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[发明专利]集成电路设计-CN201380022771.4在审
发明人：马督儿·博德;曲飞·陈;米斯巴赫·乌尔·阿藏;凯尔·特里尔;阳·高;莎伦·石 -专利权人：维西埃-硅化物公司
申请日： 2013-04-30 - 公布日： 2015-02-25 - 主分类号： H01L21/336 文献下载
摘要：形成混合分裂栅半导体的方法。根据本发明的方法实施例，以第一深度在半导体衬底中形成多个第一沟槽。以第二深度在所述半导体衬底中形成多个第二沟槽。所述第一多个沟槽平行于第二多个沟槽。所述多个第一沟槽的沟槽与所述多个第二沟槽的沟槽相间且相邻。
集成电路设计

[发明专利]集成电路开发管理系统及方法-CN201911422652.3在审
发明人：任娟;孙勇仕;张伟东 -专利权人：哈尔滨华昇半导体网络科技有限公司
申请日： 2019-12-31 - 公布日： 2020-05-12 - 主分类号： G06F21/45 文献下载
摘要：本申请提供一种集成电路开发管理系统及方法，涉及电路设计技术领域，该系统包括集成电路公共发布服务器以及用户终端，所述集成电路公共发布服务器，用于存储加密的集成电路设计；所述用户终端，用于从所述集成电路公共发布服务器获取加密的集成电路设计，并对所述加密的集成电路设计采用预设解密密钥进行解密，获得解密后的集成电路设计。该方案中，用户终端与集成电路公共发布服务器之间的数据交互均是加密的，需要采用正确的解密密钥进行解密才能获得真正的集成电路设计，使得集成电路设计不容易被泄露，从而提高了集成电路设计的安全性。
集成电路开发管理系统方法

[发明专利]一种基于种群优化算法的集成电路设计方法-CN202110126619.7有效
发明人：谌东东;李迪;杨银堂 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2021-01-29 - 公布日： 2023-08-11 - 主分类号： G06F30/398 文献下载
摘要：本发明提供了一种基于种群优化算法的集成电路设计方法，属于集成电路技术领域，包括以下步骤：构建描述集成电路设计参数与性能指标映射关系的神经网络模型；根据集成电路性能指标的需求构建集成电路设计参数的优化策略；根据所述神经网络模型与优化策略，利用种群优化算法迭代优化集成电路的设计参数，完成基于种群优化算法的集成电路设计。本发明针对现有的集成电路研发过于依赖设计人员的经验和效率较低的难题，根据制定的集成电路设计参数优化策略，利用种群优化算法确定与优化集成电路器件尺寸参数，提高集成电路设计效率，能够应用到集成电路的设计和研发中
一种基于种群优化算法集成电路设计方法

[发明专利]集成电路设计方法-CN201010230544.9无效
发明人：郑英周;欧宗桦;冯睿璇;蔡正隆;刘如淦;黄文俊 -专利权人：台湾积体电路制造股份有限公司
申请日： 2010-07-15 - 公布日： 2011-06-29 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明以许多不同实施例的方式提供一种集成电路设计方法。一种示范集成电路设计方法包含：提供第一技术节点的电路的集成电路设计布局；将此电路的集成电路设计布局移转至第二技术节点；根据此电路的电性参数对移转的集成电路设计布局实施电性图案化(ePatterning)修改；之后根据第二技术节点的电路的移转集成电路设计布局制作光罩(mask)。
集成电路设计方法

[发明专利]采用氟和氮掺杂的基板平衡功率和性能的方法和系统-CN201110205206.4无效
发明人： B.A.安德森;T.B.胡克 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2011-07-21 - 公布日： 2012-02-08 - 主分类号： H01L29/78 文献下载
摘要：本发明涉及采用计算机装置评价用于功耗平衡和性能平衡的集成电路设计的方法和系统。根据此评价集成电路的步骤，为了实现希望的功耗平衡和性能平衡，该方法和系统可识别需要减小的功率泄漏的集成电路设计内第一组集成电路晶体管结构和需要更高的性能的第二组集成电路晶体管结构。以此，该方法和系统改变集成电路设计，以对于第一组集成电路晶体管结构，在栅极绝缘体形成之前包括将第一掺杂剂注入基板中；以及改变集成电路设计，以对于第二组集成电路晶体管结构，在栅极绝缘体形成之前包括将第二掺杂剂注入基板中然后，该方法和系统从计算机装置输出改变的集成电路设计和/或根据该改变的集成电路设计制造装置。
采用掺杂平衡功率性能方法系统

[发明专利]检测不合理元器件摆放约束的方法与装置-CN200910211391.0无效
发明人：幸波;石国语 -专利权人：新思科技(上海)有限公司
申请日： 2009-10-30 - 公布日： 2011-05-11 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明提供一种自动检测用户自定义的不合理RP约束的方法与装置，其中该检测方法包含：分别产生一基准集成电路设计与一自定义集成电路设计，该自定义集成电路设计较该基准集成电路设计加入了至少一用户自定义的元器件摆放约束；将该基准集成电路设计与该自定义集成电路设计相比较，以一判断标准找出该自定义集成电路设计中所有较基准集成电路设计中对应路径变差的路径；然后找出该变差路径上所有属于该至少一用户自定义的元器件摆放约束定义的元器件本发明具有检测结果准确、检测效率高，设计结果更符合预期的优点。
检测不合理元器件摆放约束方法装置

[发明专利]集成电路设计程序代码交易的方法-CN201610184518.4在审
发明人：黄佳芬;叶玉如;王乔稜 -专利权人：塞舌尔商.撷发科技股份有限公司
申请日： 2012-04-25 - 公布日： 2016-08-24 - 主分类号： G06Q30/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种集成电路设计程序代码交易的等效电路档的方法，藉由将集成电路设计程序代码转成等效电路档(Netlist)，而于网络平台上供买方及卖方之间的试用以及交易，在一实施例中，买方于该网络平台上提出集成电路设计程序代码的购买需求，卖方将集成电路设计程序代码转换成等效电路档(Netlist)后，于网络平台上与买方达成交易。如此透过该网络平台进行集成电路设计程序代码的交易，让集成电路设计产业云端化、竞争化以及平价化，促进产业的发展。
集成电路设计程序代码交易方法

[发明专利]测试集成电路的方法和测试系统-CN202110752449.3在审
发明人：安基达·帕帝达;桑迪·库马·戈埃尔;李云汉 -专利权人：台湾积体电路制造股份有限公司;台积电（南京）有限公司
申请日： 2021-07-02 - 公布日： 2022-11-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请涉及测试集成电路的方法和测试系统。一种在测试电路板上测试集成电路的方法，包括：由处理器执行对整个集成电路设计中的第一热分布的仿真；根据集成电路设计来制造集成电路；以及同时执行对集成电路的老化测试和对集成电路的自动化测试。老化测试具有集成电路的最低老化温度和集成电路上的老化热分布。集成电路设计对应于集成电路。集成电路耦合到测试电路板。集成电路包括电路块集合和第一加热器集合。
测试集成电路方法系统

[发明专利]用于集成电路设计优化和良率改进的方法-CN201410325272.9在审
发明人：范忠;吕冬琴 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2014-07-09 - 公布日： 2016-02-17 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开用于集成电路设计优化和良率改进的方法。根据本发明的一种对集成电路设计进行优化的方法，包括：对集成电路设计进行关键区域分析；以及基于关键区域分析结果对集成电路设计进行布局优化。
用于集成电路设计优化改进方法

[发明专利]一种确定集成电路设计参数的模糊推理方法-CN202110085524.5有效
发明人：李迪;谌东东;杨银堂 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2021-01-22 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G06F30/3308 文献下载
摘要：本发明公开了一种确定集成电路设计参数的模糊推理方法，包括以下步骤：搭建集成电路设计数据库；设定集成电路设计参数的目标性能指标，并将其与数据库中每个性能指标相减，获取每个设计参数对应的若干性能指标误差向量；利用模糊推理方法计算性能指标误差向量的隶属度；将性能指标误差向量的隶属度与数据库中对应的设计参数相乘并求和，得到达到目标性能指标的集成电路设计参数。本发明针对集成电路芯片研发过程中集成电路器件尺寸参数难以快速确定的难题，根据集成电路设计数据建立了数据库，利用模糊推理方法快速地估算出达到目标性能指标的设计参数，能够应用到集成电路设计中，为缩短集成电路设计周期提供新方法
一种确定集成电路设计参数模糊推理方法

[发明专利]集成电路图像匹配方法及系统-CN202010150602.0在审
发明人：王力纬;雷登云;孙宸;侯波;恩云飞 -专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请日： 2020-03-06 - 公布日： 2020-07-24 - 主分类号： G06T7/33 文献下载
摘要：本发明涉及一种集成电路图像匹配方法及系统。一种集成电路图像匹配方法，其特征在于，所述的图像匹配方法包括：构造集成电路版图微观图像的检测算子；基于所述检测算子将所述集成电路版图微观图像的特征点与所述集成电路设计版图的特征点进行比较，以得到匹配点；基于孔特征对集成电路版图微观图像及集成电路设计版图进行精确定位。上述集成电路图像匹配方法与系统，首先实现集成电路版图微观图像与集成电路设计版图之间的区域定位，然后基于集成电路版图微观图像中孔的特征，精确定位到孔中心，而实现集成电路版图微观图像与集成电路设计版图之间的精准匹配从而实现两者之间的像素级对齐
集成电路图像匹配方法系统

[发明专利]集成电路制造方法-CN201810489047.7在审
发明人：王宏钧;刘楫平;蔡振坤;简玮成;黄文俊 -专利权人：台湾积体电路制造股份有限公司
申请日： 2018-05-21 - 公布日： 2019-05-21 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本公开提供一种集成电路制造方法。此方法包括接收一集成电路设计布局；对集成电路设计布局执行一光学邻近校正(OPC)程序，以产生一校正后的集成电路设计布局；以及使用一机器学习演算法验证校正后的集成电路设计布局。光学邻近校正后验证包括使用机器学习演算法以识别校正后的集成电路设计布局的一或多个第一特征；将识别后的一或多个第一特征与一数据库进行比较，其中数据库包括多个第二特征；以及基于与上述第二特征关联的数据库中的多个标签来验证校正后的集成电路设计布局
集成电路设计布局校正光学邻近校正集成电路制造数据库验证演算法机器学习使用机器标签关联学习

[发明专利]产生电路布局的方法-CN202010985409.9在审
发明人：杨忠傑;陈泰邑;陈韻如;彭永州 -专利权人：台湾积体电路制造股份有限公司
申请日： 2020-09-18 - 公布日： 2021-08-03 - 主分类号： G06F30/392 文献下载
摘要：一种产生电路布局的方法，包含：基于针对集成电路的设计信息产生电路设计，其包含针对集成电路的初始电源供应网络；对电路设计执行预布局模拟以判定电路设计是否满足预定规范，其包含初始电源供应网络；及在电路设计满足预定规范时，产生集成电路的电源供应网络布局，及在产生了电源供应网络布局后，产生集成电路的电路布局。
产生电路布局方法

[发明专利]生成方法及装置、验证方法及装置、电子设备和存储介质-CN202210985336.2在审
发明人：耿鑫钰;潘于;高红莉;刘静 -专利权人：海光信息技术股份有限公司
申请日： 2022-08-17 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： G06F30/33 文献下载
摘要：黑盒文件用于对集成电路设计中的对象路径进行验证，该黑盒文件的生成方法包括：获取集成电路设计的层次结构信息，层次结构信息包括集成电路设计的结构信息以及模块信息；使用层次结构信息，确定集成电路设计中与对象路径相关的多个第一电路模块；以及根据集成电路设计中的第二电路模块的模块信息，生成所述黑盒文件，第二电路模块为集成电路设计中除多个第一电路模块之外的模块。
生成方法装置验证电子设备存储介质

[发明专利]一种碳基集成电路设计自动化平台构建方法及相关装置-CN202310357732.5在审
发明人：尹明会;李志强;张卫华;刘宏伟;周欢欢;王晨;尤云霞 -专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日： 2023-04-04 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G06F30/39 文献下载
摘要：本申请公开了一种碳基集成电路设计自动化平台构建方法，可用于集成电路领域，该方法包括：基于碳基MOS器件的测量参数，对经典MOS器件模型进行参数拟合得到碳基MOS器件对应的碳基器件模型；基于碳基工艺流程和硅基工艺流程，建立碳基工艺设计工具包；基于碳基版图层，构建与硅基布局布线工具兼容的碳基标准单元库模型；基于碳基器件模型、碳基工艺设计工具包、碳基标准单元库模型以及硅基集成电路设计自动化系统，构建碳基集成电路设计自动化平台由此，可以借助现有的硅基集成电路设计自动化系统构建碳基集成电路设计自动化平台，实现碳基集成电路设计的自动化，以较低的成本解决了碳基集成电路设计效率低下等问题。
一种集成电路设计自动化平台构建方法相关装置

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