|
|
钻瓜专利网为您找到相关结果 316856个，建议您 升级VIP下载更多相关专利
- [发明专利]一种AD采样值校正方法及系统-CN201210128325.9有效
-
韦福松
-
深圳市正弦电气股份有限公司
-
2012-04-27
-
2013-04-17
-
H03M1/10
- 本发明适用于电子技术领域，提供了一种AD采样值校正方法及系统，所述方法包括：获取每一采样区间内的模拟输入电压值与理论AD采样值的对应关系，及模拟输入电压值与实际AD采样值的对应关系；根据所述每一采样区间内的模拟输入电压值与理论AD采样值的对应关系，及模拟输入电压值与实际AD采样值的对应关系，生成每一采样区间的实际AD采样值与理论AD采样值的补偿关系；根据所述补偿关系，对与所述补偿关系对应的实际AD采样曲线的实际AD采样值进行校正本发明实现可以得到精度较高的AD采样值，很好的改善了AD采样精度，从而得到精度较高的后续处理结果。
- 一种ad采样校正方法系统
- [发明专利]一种模型理论光谱计算方法和装置-CN202111602467.X在审
-
张晓雷;张厚道;施耀明
-
上海精测半导体技术有限公司
-
2021-12-24
-
2022-04-12
-
G06F30/20
- 本发明提供了一种模型理论光谱计算方法和装置。本申请的模型理论光谱计算方法，包括：建立样品形貌模型，并建立XOZ平面坐标系；获取样品形貌模型在XOZ平面坐标系的平面轮廓；在平面轮廓上获取多个采样点，并根据多个采样点构成初始点集；根据初始点集得到Z坐标分层值集合；根据Z坐标分层值集合计算理论光谱。本申请的模型理论光谱计算方法通过获取样品形貌模型在XOZ平面坐标系的平面轮廓，并记录平面轮廓中的多个采样点，根据多个采样点构成初始点集，根据初始点集的Z坐标值进行分层，能够在线形发生改变的地方对样品形貌模型进行分层，之后根据分层值进行理论光谱的计算，在保证精度的同时减少片层的划分数量，能够提升理论光谱计算的速度。
- 一种模型理论光谱计算方法装置
- [发明专利]一种连续变焦系统凸轮表的优化方法-CN202310339156.1在审
-
陈绍炜;曹旭峰;窦智;王琰;陈首亮;李奇;莫一凡;孙召卿;薛峰;王诗音
-
西北工业大学
-
2023-04-01
-
2023-08-08
-
G02B27/00
- 本发明公开了一种连续变焦系统凸轮表的优化方法，涉及电子凸轮曲线生成领域，该方法采用分段的思想，首先利用理论凸轮数据，等分补偿镜头的移动范围获得采样点，之后以采样点处差分的倒数为权重，重新设置采样点将凸轮曲线分段通过对焦技术得到采样点处的凸轮数据之后利用三次Hermite插值算法计算出其他凸轮数据。本发明的有益效果：利用理论凸轮曲线模拟进行仿真实验。分别定义不同的采样点数n，依据表单长度优化算法获得对应到理论凸轮表的采样点，之后按照理论凸轮表的主轴数据，依次通过三次Hermite插值，得到对应从轴位置，并计算插值之后的误差。因系统处于短焦时，即变倍组镜头位置小于50000步长时，理论凸轮数据即可满足系统精度要求，因此在分析误差时，重点分析变倍组位置大于50000步长的凸轮数据。
- 一种连续变焦系统凸轮优化方法
- [发明专利]一种基于压缩感知理论的图像压缩方法-CN201610273676.7有效
-
朱树元;曾兵
-
电子科技大学
-
2016-04-28
-
2019-04-05
-
G06T9/00
- 本发明公开了一种基于压缩感知理论的图像压缩方法，它是通过图像下采样、插值和压缩感知理论相结合，图像的下采样过程是为了降低图像的分辨率，从而间接提高压缩感知采样的采样率，而图像的插值主要作为最优化下采样的理论指导，以插值为指导的下采样过程，使产生的低分辨图像充分包含了原始高分辨图像的信息，保证在重建时能通过重建出的低分辨率信号插值得到质量较好的高分辨率图像信号。与现有的方法相比,本发明利用高分辨率和低分辨率图像之间的转换关系，将对高分辨率图像的压缩感知采样转化为对低分辨率图像的压缩感知采样，从而间接提高了样本采样率，因此能够克服现有方法采样和重建效率较低的缺点
- 一种基于压缩感知理论图像方法
|
