专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]取样器-CN94102793.7无效
  • C·贝尔斯 - 赫罗伊斯电气夜间有限公司
  • 1994-02-09 - 2002-08-07 - G01N1/10
  • 本发明公开了一种融熔金属取样器,它具有一个设置在支承管内的扁平试样盒背离支承管浸入处的一侧,试样盒有一个构成试样分析面的壁面,此壁面平行于支承管轴。为了获得价值很高的扁平试样而且又能方便地将试样从取样器中取出,在支承管内入口管道背离支承浸入处的一端,扁平试样盒上方,入口管道和流入口之间设有一个前室,与流过流入口的流体流入方向横向交叉的前室横截面大于流入口的横截面,而在入口管道的入口范围与入口管道轴横向交叉的前室横截面大于入口管道入口的横截面。
  • 取样
  • [实用新型]用于流体试样指标检测的离心转子-CN201420006875.8有效
  • V.奥斯托伊奇 - 爱贝斯股份有限公司
  • 2014-01-06 - 2014-08-13 - G01N1/28
  • 本实用新型提供一种用于流体试样指标检测的离心转子,包括:试样容纳腔室;分配流道,其与试样容纳腔室通过微流道连通;多个试样接收及检测腔室,其分别通过入口流道与分配流道连通;其中,试样容纳腔室比分配流道径向靠内,试样接收及检测腔室比分配流道径向靠外,其中,试样在微流道中的流阻大于试样入口流道和分配流道的流阻,从而使得通过入口流道和分配流道的流体的横截面积小于所述流道的横截面积,由此以使得当试样进入试样接收及检测腔室时空气从该腔室通过入口流道排出
  • 用于流体试样指标检测离心转子
  • [发明专利]分析测试元件-CN200580023236.6无效
  • P·克拉默 - 霍夫曼-拉罗奇有限公司
  • 2005-07-05 - 2007-06-20 - B01L3/00
  • 本发明涉及用于分析液体试样(20)的分析测试元件,包含适于毛细管输运液体试样(20)并具有液体试样(20)入口(7)和排气口(8)的通道(9)。设置在所述通道(9)之内离入口(7)有一段距离的至少一个测试区(17)。测试元件(1)包括被密封件封闭的试样接收点(4),且其中所述试样接收点(4)设计成当密封件被打开时试样接收点(4)和通道(9)的入口(7)也同时向测试元件(1)的外部环境开放的方式。测试元件(1)可以通过试样接收点(4)和入口(7)获得通道(9)内的液体试样(20)以在测试区(17)进行分析。本发明还涉及测试元件仓和具有至少一个测试元件的液体试样分析系统。
  • 分析测试元件
  • [发明专利]用于TOC水质监测仪滑动进样器的试样入口装置-CN202111682620.4在审
  • 孙杰 - 安徽皖仪科技股份有限公司
  • 2021-12-28 - 2022-04-15 - G01N35/10
  • 本发明公开了一种用于TOC水质监测仪滑动进样器的试样入口装置,包括滑动盘以及设于滑动盘中的进样管接头、进样堵头,进样管接头与进样堵头之间固定连接,并且进样管接头以及进样堵头之间连接有试样注入管,滑动盘设于滑动进样器的承载盘的上方位置,并且滑动盘与承载盘之间滑动连接;滑动盘包括进样盘以及卡盘,进样盘与卡盘之间固定连接,并且进样盘与卡盘同轴,进样盘上设有与设在承载盘中的注样口、排样口适配的试样入口,进样管接头的一端伸入试样入口内,另一端位于试样入口外。本发明结构设计简单,拆装方便,试样入口与滑动盘之间密封连接,试样注入管的末端垂直、始终不与任何物体相接触,避免试样二次污染。
  • 用于toc水质监测滑动进样器试样注入装置
  • [发明专利]试样采集装置-CN201980008300.5在审
  • 竹内一平 - 株式会社岛津制作所
  • 2019-01-29 - 2020-09-11 - G01N1/10
  • 本发明的试样采集装置具备试样抽吸口、以及用于保存从所述试样抽吸口抽吸的试样的内部流路。在该试样采集装置的所述内部流路的内表面固定有用于防止所述试样的凝固的抗凝剂,所述内部流路的所述试样入口侧的端部的内表面的所述抗凝剂的密度高于所述内部流路的所述试样入口的相反侧的端部的内表面的所述抗凝剂的密度
  • 试样采集装置
  • [发明专利]分析用具-CN03823086.0有效
  • 田口尊之;北村茂;野田雄一 - 爱科来株式会社
  • 2003-09-25 - 2005-10-19 - G01N33/48
  • 本发明涉及一种分析用具(Y),它具有:液导入口(61);用于使从该液导入口(61)导入的试样液进行移动的一个或多个流路(51);和,将供给至液导入口(61)的试样液过滤之后导入至一个或多个流路(51)用的分离膜该分析用具(Y),在分离膜(8)中,构成使试样液在该分离膜(8)的厚度方向行进,过滤试样液。构成流路(51)以便利用例如毛细管现象使试样液移动。
  • 分析用具
  • [发明专利]微型化学芯片、其制造方法及其使用方法-CN201180032599.1有效
  • 关泽隆一;麻生凉子 - 美特宝思科润株式会社
  • 2011-06-29 - 2013-03-27 - G01N35/08
  • 目的在于提供一种微型化学芯片,能够采用简单的方法制造一边为100微米左右的具有角的方形中空槽作为试样流路。另外,本发明容易向试样流路导入试样溶液,并利用一个微型化学芯片提供多种微化学反应场所。本发明的特征在于,包括具有试样入口(11)的第一基板(10)、具有试样流路(21)的第二基板(20)、和具有试样排出口(31)的第三基板(30),试样入口(11)形成为贯通第一基板(10)的正反面的孔,试样流路(21)形成为贯通第二基板(20)的正反面的狭缝,试样排出口(31)形成为贯通第三基板(30)的正反面的孔,第二基板(20)配置在第一基板(10)与第三基板(30)之间,试样入口(11)与试样排出口(31)经由试样流路(21)连通,试样流路(21)的至少一端形成为开放口。
  • 微型化学芯片制造方法及其使用方法
  • [发明专利]试样入口及具有该试样入口的自动进样器-CN200880131590.4有效
  • 保永研壱;富田真巳;前田爱明 - 株式会社岛津制作所
  • 2008-10-16 - 2011-09-14 - G01N1/00
  • 本发明提供一种试样入口及具有该试样入口的自动进样器。用于向液相色谱仪等中注入试样试样入口(10)由如下构件构成:由非弹性材料构成的主体(13)、安装在主体(13)的一端上的由弹性材料构成的第1密封构件(14)、安装在主体(13)的另一端上的由弹性材料构成的第2密封构件(15),使设于第1密封构件(14)中的第1贯穿孔、设于第2密封构件(15)中的第2贯穿孔、设于主体(13)中的第3贯穿孔在同一轴线上连接而形成用于注入试样的导孔。由此,能够提供一种在内容积小且容易制造的同时能够实现较高的耐压性的试样入口
  • 试样注入具有自动进样器
  • [发明专利]用于原子荧光光谱检测的多参数仪-CN201410057905.2有效
  • 周慧民;黄海平;邹雄伟;熊春洪 - 力合科技(湖南)股份有限公司
  • 2014-02-20 - 2017-01-04 - G01N21/64
  • 本发明公开了一种用于原子荧光光谱检测的多参数仪,包括:原子荧光光谱检测装置和多参数仪主机;原子荧光光谱检测装置用于接收多参数仪主机导出的气体试样,并将气体试样转化成原子蒸汽,经过光路形成光谱检测信号,以供后续的数据采集及分析处理;多参数仪主机设有待检测试样入口,包括:气体试样入口和液体试样入口,多参数仪主机用于将外界的气体试样导入原子荧光光谱检测装置或者从外界的液体试样分离出气体试样并将分离出的气体试样导入原子荧光光谱检测装置,多参数仪主机还用于采集生成的光谱检测信号并处理得到待检测试样中预定元素的检测结果,从而提高了检测设备的通用性,方便携带,实用性高。
  • 用于原子荧光光谱检测参数
  • [实用新型]用于原子荧光光谱检测的多参数仪-CN201420074385.1有效
  • 周慧民;黄海平;邹雄伟;熊春洪 - 力合科技(湖南)股份有限公司
  • 2014-02-20 - 2014-08-06 - G01N21/64
  • 本实用新型公开了一种用于原子荧光光谱检测的多参数仪,包括:原子荧光光谱检测装置和多参数仪主机;原子荧光光谱检测装置用于接收多参数仪主机导出的气体试样,并将气体试样转化成原子蒸汽,经过光路形成光谱检测信号,以供后续的数据采集及分析处理;多参数仪主机设有待检测试样入口,包括:气体试样入口和液体试样入口,多参数仪主机用于将外界的气体试样导入原子荧光光谱检测装置或者从外界的液体试样分离出气体试样并将分离出的气体试样导入原子荧光光谱检测装置,多参数仪主机还用于采集生成的光谱检测信号并处理得到待检测试样中预定元素的检测结果,从而提高了检测设备的通用性,方便携带,实用性高。
  • 用于原子荧光光谱检测参数

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