专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]碳纤维复合材料切削加工表面形貌表征方法-CN201310400095.1无效
  • 陈慧群;梁东莺 - 陈慧群
  • 2013-09-04 - 2013-12-25 - G01B21/20
  • 本发明提供一种碳纤维复合材料切削加工表面形貌表征方法,对将待表征工件设为有界区域上的连续曲面块,对表面形貌特征函数F(x,y)进行测量;步骤B,对有界区域三维表面形貌特征函数F(x,y)进行小波成分分解并可进一步进行表面形貌的表征本发明基于小波评定基准,能真实反映CFRP切削表面形貌,同时通过计算表征参数得出准确表征切削表面形貌。本发明从小波理论出发,采用小波变换方法计算CFRP切削表面的多重分形谱,定义多重分形参数表征CFR切削表面形貌特征。基于CFRP切削表面多重分形特性分析建立形貌表征模型,不仅可以描述加工表面整体的特征,还能描述其局部形貌特征
  • 碳纤维复合材料切削加工表面形貌表征方法
  • [发明专利]铣削钛合金表面形貌特征一致性分布工艺控制方法-CN201910619658.3有效
  • 赵培轶;姜彬;李帅;于昕 - 哈尔滨理工大学
  • 2019-07-10 - 2021-06-01 - B23Q15/14
  • 铣削钛合金表面形貌特征一致性分布工艺控制方法,属于钛合金铣削加工技术领域,本发明为了解决铣削钛合金时,受表面形貌特征参数频繁变动影响,加工表面质量分布的一致性较难控制的问题。步骤a,表面形貌特征参数的提取;步骤b,铣削钛合金表面形貌特征参数预测模型构建;步骤c,对铣削钛合金加工质量分布一致性评判;步骤d,对铣削钛合金加工质量一致性分布工艺控制。本发明的铣削钛合金表面形貌特征一致性分布工艺控制方法能够较为完整的描述长铣削行程条件下,加工表面形貌特征变化特性及分布规律,可以定量评判铣削钛合金中加工质量分布的一致性程度,使得通过工艺控制方法的设计目标更加实际
  • 铣削钛合金表面形貌特征一致性分布工艺控制方法
  • [发明专利]一种化学机械抛光后芯片表面形貌评测方法及系统-CN201410643976.0在审
  • 陈岚;马天宇;曹鹤 - 中国科学院微电子研究所
  • 2014-11-07 - 2016-06-01 - H01L21/66
  • 本发明公开了一种化学机械抛光后芯片表面形貌评测方法及系统,属于集成电路制造技术领域。该化学机械抛光后芯片表面形貌评测方法,包括:获取芯片在上一工艺阶段的表面形貌参数和研磨液的选择比;获取当前工艺阶段的工艺参数和研磨液的选择比;将芯片的当前表面版图划分为多个连续窗格,分别提取每个窗格的版图特征参数;判断研磨液的选择比是否发生变化,如果是,则根据上一工艺阶段的表面形貌参数、工艺参数、版图特征参数和当前工艺阶段研磨液的选择比,计算芯片在当前工艺阶段的表面形貌参数;根据当前工艺阶段的表面形貌参数对芯片的表面形貌进行评测该化学机械抛光后芯片表面形貌评测方法,能够精确地对芯片表面形貌进行评测。
  • 一种化学机械抛光芯片表面形貌评测方法系统
  • [发明专利]基于多尺度系统理论量化表征薄膜表面形貌的方法-CN200910058185.0无效
  • 汪渊;杨吉军;刘波;刘春海;尹旭 - 四川大学
  • 2009-01-19 - 2009-07-08 - G01N13/10
  • 本发明公开了一种基于多尺度系统理论量化表征薄膜表面形貌的方法。该方法首先用扫描探针显微镜通过多级变换扫描尺寸获取薄膜表面形貌图像,再用多尺度系统分析工具判定薄膜表面形貌是否具有多尺度特征,确定薄膜表面起伏结构的特征尺寸;然后针对具有多尺度特征表面形貌图像,利用二维小波包分析方法对其进行多尺度层次分解;将分解图像组元与前述的特征尺寸值进行尺度比对,以确定分解图像组元对应的重构交割尺寸,并由此对图像组元进行选择与重构,得到不同特征尺度的薄膜表面起伏结构图像;最后利用表面粗糙度方法对重构图像执行评价,获取相关定量信息该方法尤为适合于对微纳器件中薄膜材料表面形貌进行细致和完善地量化表征。
  • 基于尺度系统理论量化表征薄膜表面形貌方法
  • [发明专利]一种用于微结构工件的斜率自适应形貌测量方法-CN201510346794.1有效
  • 许斌;尹德强;方辉;刘乾乾 - 四川大学
  • 2015-06-19 - 2017-05-03 - G01B11/24
  • 本发明公开了一种用于微结构工件的斜率自适应形貌测量方法,涉及微结构面形质量检测技术领域。该方法主要包括斜率预测、旋转扫描、误差补偿、形貌重构等步骤,在测量样品时能够根据被测样品表面形貌变化,自动调节触针与样品间的相对夹角,使扫描触针能够适应样品表面的斜率变化,不至于发生轮廓干涉等现象,扫描结束后系统根据触针式位移传感器的输出值、XYZ微位移平台的移动量、β旋转轴承的旋转量和触针尖端半径的大小可以重构出样品表面形貌特征。与已有的形貌测量方法相比,本发明提供了一种简单、有效地测量具有复杂表面形貌特征的微结构的方法,可以在较短时间内准确地重构出样品表面形貌特征
  • 一种用于微结构工件斜率自适应形貌测量方法

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