专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]数据驱动的切削加工表面形貌灰度图像生成方法-CN202310065585.4在审
  • 何彦;李祖锐;李育锋;吴鹏程;李科;吴俊佑 - 重庆大学
  • 2023-01-13 - 2023-04-25 - G06T11/00
  • 本发明公开了一种数据驱动的切削加工表面形貌灰度图像生成方法,相较于切削表面形貌离线采集流程和切削表面形貌运动学仿真流程,大大减少了切削表面形貌图像的采集时间和图像生成时间,通过使用生成对抗网络中的生成器,将加工信号频谱图和刀具刚度数据直接转换为切削表面形貌灰度图像数据,避免了耗时较长的表面形貌图像数据采集和仿真的流程,有利于生成对抗网络学习加工信号数据和刀具刚度信息之间的全局信息,从而提高切削表面形貌图像生成的准确性,能够在加工过程中直接获取加工工件的切削表面形貌图像,灰度图像能更好的反映加工表面留下痕迹的深浅、疏密、形状,特别是纹理特征,利于工人快速判断加工零件的产品质量。
  • 数据驱动切削加工表面形貌灰度图像生成方法
  • [发明专利]一种基于量测数据的半导体硅片表面形貌模型预测方法-CN202211049335.3在审
  • 王磊 - 徐州晶睿半导体装备科技有限公司
  • 2022-08-30 - 2022-12-02 - G06T17/05
  • 本发明公开了一种基于量测数据的半导体硅片表面形貌模型预测方法,包括如下步骤:S1、获取一片直径为D的硅片在量测机台中按直线排列分布的原始量测数据;S2、将原始量测数据转换为二进制数据;S3、构造硅片极坐标参数模型;S4、构造硅片笛卡尔坐标参数模型;S5、构造硅片表面形貌的多维栅格结构模型;S6、构造量测参数信息模型;S7、建立硅片表面形貌预测算法模型;S8、计算硅片表面形貌参数;S9、生成硅片表面形貌图。本发明能对硅片的表面形貌进行预测,获得的表面形貌图精确度高,方便使用者进行可视化观察,有利依此对硅片进行整体表面形貌质量评估,针对生产制作过程中可能出现的问题提前加以修改,从而提高硅片良率。
  • 一种基于数据半导体硅片表面形貌模型预测方法
  • [发明专利]一种银线型触头烧蚀区域形貌三维粗糙度表征方法-CN202110730278.4有效
  • 李文华;赵培董;王景芹 - 河北工业大学
  • 2021-06-29 - 2022-05-10 - G06T5/00
  • 本申请提供一种银线型触头烧蚀区域形貌三维粗糙度表征方法,包括获取触头表面形貌图像以及表面形貌图像对应的原始点云数据集;提取触头表面形貌图像上的触头烧蚀区域轮廓;将触头烧蚀区域轮廓映射至原始点云数据集,得到与触头烧蚀区域对应的烧蚀区域点云数据集;拟合烧蚀区域点云数据集,得到触头表面形貌的基准面;计算烧蚀区域点云数据集与基准面上对应点处的高度偏差,得到校正后点云数据集;计算校正后点云数据集对应的触头烧蚀区域形貌三维粗糙度的表征参数。该方法可避免包含大量无关数据,结果准确,误差较小,得到的表征参数可精准表征银线型触头烧蚀区域形貌三维粗糙度,对于研究触头表面功能特性及继电器可靠性具有十分重要的意义。
  • 一种线型触头烧蚀区域形貌三维粗糙表征方法
  • [发明专利]一种刻蚀图形的分析系统及方法-CN201910148632.5有效
  • 郭奥;康晓旭 - 上海集成电路研发中心有限公司
  • 2019-02-28 - 2023-06-02 - G06T7/00
  • 本发明公开的一种刻蚀图形的分析方法,包括如下步骤:S01:形成截面预测模型;S02:将待分析晶圆的表面形貌图输入所述刻蚀图形分析系统中,采用图像提取算法分别对待分析晶圆的表面形貌图中的白边图形进行数据提取,得出待分析晶圆的白边图形数据;S03:将待分析晶圆的白边图形数据传输至所述截面预测模型进行预测,并输出待分析晶圆的预测截面形貌图。本发明提供的一种刻蚀图形的分析系统及方法,从刻蚀图形的表面形貌图中提取白边图形数据,并根据白边图形数据以及量测的实际截面形貌图建立截面预测模型,从而利用该模型以及刻蚀图形的表面形貌图实现对刻蚀图形的截面形貌图的预测
  • 一种刻蚀图形分析系统方法
  • [发明专利]一种大平面工件的表面形貌测量装置及其方法-CN202211508935.1在审
  • 胡烺;贺贤汉;叶国卿;冯博;黄家剑 - 上海汉虹精密机械有限公司
  • 2022-11-29 - 2023-02-28 - G01B21/20
  • 本发明提供了一种大平面工件的表面形貌测量装置及其方法。表面形貌测量方法,其包括:步骤1:在工件所需测量平面上选取若干特定直线路径作为测量路径,测量每个直线路径的平坦度曲线数据;步骤2:从所述若干测量路径的平坦度曲线数据中筛选出有效数据;步骤3:对所述有效数据依次进行以下处理:发现并填充离群值,删除缺失数据,从数据中去趋势,对含噪声的数据进行平滑处理,以及对数据进行填充与比例缩放;步骤4:在所述若干测量路径间,沿所述若干特定路径进行曲面插值拟合;步骤5:在三维直角坐标系中按照实际位置绘制全平面表面形貌本发明提供了一种高精度模拟大平面表面形貌的测量方法,从而得到整个平面精度较高的表面形貌
  • 一种平面工件表面形貌测量装置及其方法
  • [发明专利]零件表面形貌三维高密度点云数据转化为灰度图像的方法-CN201210046615.9有效
  • 杜世昌;王猛;奚立峰;陈晓波;肯特 - 上海交通大学
  • 2012-02-27 - 2012-07-18 - G06T7/00
  • 零件表面形貌三维高密度点云数据转化为灰度图像的方法。属于零件表面形貌检测和点云数据处理技术领域。本发明方法包括:首先,通过三维高分辨率表面形貌测量技术测量零件表面得到三维高密度点云数据。然后,利用MATLAB软件读入三维高密度点云数据,通过插值命令将点云数据的Z坐标值转换为栅格各点的值,存储为二维矩阵I,并剔除矩阵I中不属于零件表面的元素。最后将矩阵I转换为灰度图像。本发明生成的灰度图像,能够覆盖整个零件表面,有效的反映零件表面整体形貌和加工纹理,改进了传统图像采集系统需通过局部图像匹配、拼接获取零件表面全貌的缺点和三维高分辨率表面形貌测量技术反映加工纹理特征方面的不足
  • 零件表面形貌三维高密度数据转化灰度图像方法

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