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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种荧光寿命估计方法、装置及存储介质-CN201911099393.5有效
  • 林丹樱;张潇;张娇;屈军乐;于斌;牛敬敬;刘雄波 - 深圳大学
  • 2019-11-12 - 2023-04-11 - G06F30/20
  • 本发明公开了一种荧光寿命估计方法、装置及存储介质，方法包括：获取荧光分子的衰减信息；根据荧光分子的衰减信息，建立基于荧光寿命和衰减信息的荧光寿命损失函数；以最小化荧光寿命损失函数为优化目标，建立约束优化模型；基于约束优化模型和荧光分子的衰减信息最小化所述荧光寿命损失函数，得到荧光分子的荧光寿命。本发明根据荧光分子的衰减信息建立荧光寿命损失函数，以最小化荧光寿命损失函数为优化目标建立约束优化模型，基于约束优化模型和衰减信息利用交替下降条件梯度算法最小化荧光寿命损失函数估计荧光寿命，估计方法受采集时间和光子数影响较小，在相同条件下可以大幅减小采集时间，提高荧光寿命成像速度。
  • 一种荧光寿命估计方法装置存储介质
  • [发明专利]一种荧光寿命信号处理及解调方法-CN202010344792.X在审
  • 张文松;刘帆 - 西安和其光电科技股份有限公司
  • 2020-04-27 - 2020-07-10 - G01K11/32
  • 本发明提供一种荧光寿命信号处理及解调方法，解决现有的荧光寿命信号测量结果不准确，导致荧光寿命不准确，从而使温度测量不准确的问题。该方法包括：步骤一、采集连续的荧光寿命信号与背景信号；步骤二、判断信号判断波形图中每个周期波形的起始点与终点；步骤三、将背景信号进行等分，获得均值背景信号；步骤四、将衰减信号减去均值背景信号，得到荧光寿命曲线；步骤五、对步骤四得到的荧光寿命曲线进行n等分，并求积分，再采集2T个时间，并求每一段时间T的积分；步骤六、得到n‑1个荧光寿命值，并对n‑1个荧光寿命值求均值，得到荧光寿命τ；步骤七、将得到的荧光寿命τ与现有标准荧光寿命表进行对比，得到温度值。
  • 一种荧光寿命信号处理解调方法
  • [发明专利]一种荧光寿命成像方法及其荧光寿命成像装置-CN202210998097.4在审
  • 姜小芳;刘钦;刘颖臻;李琛晖;古豪天 - 华南师范大学
  • 2022-08-19 - 2022-11-18 - G01N21/64
  • 一种荧光寿命成像方法，包括以下步骤：设置二维平面扫描区域，获取所述二维平面扫描区域内的扫描点；获取所述二维平面扫描区域的荧光光谱，得到光强处于峰值时所对应的不同波峰波长；根据所述波峰波长大小，获取各个扫描点不同波峰波长时荧光所对应的荧光寿命曲线；根据所述不同波峰波长的荧光所对应的荧光寿命曲线，同时或依次生成不同波峰波长所对应的多光波二维荧光寿命成像、和/或多光波三维荧光寿命成像、和/或二维荧光寿命时间切片成像。此外，本发明还提供一种实现上述荧光寿命成像方法的荧光寿命成像装置与现有技术相比较，本发明的荧光寿命显微成像装置能满足多光波荧光样品的测量需要。
  • 一种荧光寿命成像方法及其装置
  • [发明专利]基于荧光寿命差分的超分辨显微方法和装置-CN201210488037.4有效
  • 匡翠方;郝翔;李帅;顾兆泰;王轶凡 - 浙江大学
  • 2012-11-26 - 2013-04-17 - G01N21/64
  • 本发明公开了一种基于荧光寿命差分的超分辨显微方法，包括以下步骤：1)将圆偏振光作为激发光束，使用经涡旋位相编码的圆偏振光作为抑制光束，所述激发光束和抑制光束通过大数值孔径显微物镜聚焦并同时对荧光样品进行扫描；2)利用所述大数值孔径显微物镜收集扫描荧光样品发出的荧光，并通过光电感应器件得到整幅荧光强度图像；3)通过分析所述荧光强度图像的荧光强度信息，得到相应的荧光寿命信息；4)设置时间门，对所述荧光寿命信息中的长寿命荧光图像和短寿命荧光图像进行分离；5)设置权值，用所述的短寿命荧光图像减去加权的长寿命荧光图像，得到最终的超分辨显微图像。本发明还公开了一种基于荧光寿命差分的超分辨显微装置。
  • 基于荧光寿命分辨显微方法装置
  • [发明专利]一种比率型荧光检测方法及应用-CN201810953396.X有效
  • 李富友;程胜名;冯玮 - 复旦大学
  • 2018-08-21 - 2021-12-21 - G01N21/64
  • 本发明属于纳米成像探针应用技术领域，公开了一种比率型荧光检测方法及应用。本发明所提供的比率型荧光检测方法包括：将纳米探针加入到待测样本中，在同一束激发光的激发下，纳米探针中的两种荧光团分别发射波长相同的长寿命荧光信号和短寿命荧光信号；使用时间门荧光探测装置，关闭时间门功能，收集所述长寿命荧光信号和短寿命荧光信号的总强度；开启时间门功能，收集所述长寿命荧光信号的强度；以所述长寿命荧光信号强度与所述长寿命荧光信号、短寿命荧光信号总强度的比率值表征待测样本中待测物的浓度。利用本发明的方法检测可获得高准确度的原位比度信号，显著提高荧光检测的准确性，特别适用于活体检测中。
  • 一种比率荧光检测方法应用
  • [发明专利]荧光寿命检测系统以及检测方法-CN202111258438.6在审
  • 糜岚;苏文华;马炯;郭睿倩;张万路 - 复旦大学
  • 2021-10-27 - 2023-04-28 - G01N21/64
  • 一种荧光寿命检测系统以及检测方法，荧光寿命检测系统包括：标记单元，用于提供量子点，还用于利用量子点对检测物进行标记；发光单元，用于提供激发光，激发光投射至标记有量子点的检测物上，量子点能够产生荧光；光电探测器，用于探测量子点产生的荧光，收集荧光信号；时间相关单光子计数单元，用于根据荧光信号获得基于时间的荧光寿命数据。量子点能够根据检测物自身的微环境不同表现出不同的荧光寿命，从而通过对量子点产生的荧光进行探测，能够根据量子点的荧光寿命对检测物的微环境进行检测；而且，与检测物的自体荧光相比，量子点产生的荧光寿命更长，探测量子点产生的荧光所获得的荧光信号更强
  • 荧光寿命检测系统以及方法
  • [发明专利]基于SPAD的时间相关拉曼-荧光寿命光谱仪-CN201810940171.0在审
  • 陈昊昌;李大卫 - 陈昊昌;李大卫
  • 2018-08-17 - 2020-02-25 - G01N21/65
  • 本发明公开了一种基于单光子雪崩二极管(SPAD)阵列传感器，皮秒级时间门控电路，高精度时间数字转换器(TDC)和高速荧光寿命算法的拉曼‑荧光寿命光谱仪。本发明以SPAD阵列为拉曼光谱和荧光信号探测器，以皮秒级时间门控电路滤除噪声以提高信噪比和探测效率；再通过TDC记录拉曼光谱和荧光衰减曲线的时域信息并结合荧光寿命算法快速测算荧光寿命。同时利用荧光背景抑制算法获取真实纯净的拉曼信号，以此提高拉曼光谱和荧光寿命的检测能力、检测效率。本发明使用一套系统既可同时实现拉曼光谱，荧光光谱和荧光寿命测算，又可以分别获得拉曼光谱、荧光光谱和荧光寿命测算，与传统方法相比均具备明显的技术优势。
  • 基于spad时间相关荧光寿命光谱仪
  • [发明专利]一种自体荧光寿命成像和荧光光谱结合用于癌症早期诊断的装置-CN201510291576.2有效
  • 糜岚;王梦妍;潘晓波;宋川 - 复旦大学
  • 2015-06-01 - 2017-12-01 - G01N21/64
  • 本发明属于医疗设备技术领域，具体为一种自体荧光寿命成像和荧光光谱相结合用于癌症早期诊断装置。本发明将荧光寿命成像测量和荧光光谱测量与激光扫描共聚焦显微镜耦合，用于观察生物样本的细胞学形态，结合自体荧光寿命与光谱信息实现癌症早期诊断的新型装置。该装置包括激光扫描共聚焦显微镜装置和两路荧光信号采集装置，分别由不同的探测器接收荧光寿命信息和荧光光谱信息，并利用计算机处理系统对自体荧光寿命信息和荧光光谱信息进行处理。采用该装置能直接检测出被检生物样本的荧光图像、荧光寿命、荧光光谱等多维度信息，实现对多种癌症进行早期检查和诊断，在生物医学、临床诊断等领域具有广泛的应用前景。
  • 一种荧光寿命成像光谱结合用于癌症早期诊断装置
  • [发明专利]一种用于荧光解调温度的信号处理方法-CN201910098461.X有效
  • 张文松;周航;朱香平 - 西安和其光电科技股份有限公司
  • 2019-01-31 - 2021-11-12 - G01K11/32
  • 本发明涉及一种用于荧光解调温度的信号处理方法，解决现有荧光寿命衰减波形为微弱信号，导致荧光寿命解调结果波动大以及单指数拟合准确度低的问题，该方法包括以下步骤：步骤一：分别采集连续的荧光激发波形与荧光衰减波形；步骤二：得到各荧光激发波形的初始点和最终点；步骤三：得到完整的荧光衰减波形；步骤四：得到消除高斯白噪声后的荧光衰减波形；步骤五：建立双指数荧光衰减波形模型，步骤六：得到余辉强度a、b的初始值；步骤七：对双指数荧光衰减波形模型进行最小二乘法拟合，计算得到最佳拟合参数，荧光寿命即可通过参数计算得到；步骤八：将步骤七中得到的荧光寿命与现有荧光寿命表进行对比，得到温度值。
  • 一种用于荧光解调温度信号处理方法
  • [发明专利]一种全谱荧光寿命快速测量装置-CN202310155494.X在审
  • 张三军;吴光;周黄梅;陈凯;莫易丹 - 华东师范大学
  • 2023-02-23 - 2023-05-23 - G01N21/64
  • 本发明提供了一种全谱荧光寿命快速测量装置，旨在解决基于时间相关单光子计数的荧光寿命测量方法存在的因计数率限制导致测量速度慢、难以同时获得多个波长下的荧光信息的问题。光学系统用于将不同波长的荧光信号进行分光和整形，使其在一维度上波长分开，另一维度上光强均匀分布。探测电路系统用于接收整形后二维分布的荧光信号，进行光子计数，获得激发光信号和荧光信号之间的时间差，实现每个像素单元荧光光子数的累积，获得不同波长下的荧光寿命衰减直方图，最终获得全谱荧光寿命信息。本发明利用基于时域的荧光寿命测量手段，通过荧光光斑分光和整形并结合多通道探测器及信号处理系统，能够实现样品全谱荧光寿命的快速测量。
  • 一种荧光寿命快速测量装置
  • [发明专利]理想寿命荧光灯-CN201010185141.7无效
  • 张云 - 张云
  • 2010-05-12 - 2011-11-16 - H01J61/56
  • 在荧光灯同端管脚到灯丝之间用普通导体将2只管脚连通(和灯丝并联)，并对电子镇流器中与灯管启动有关的电感、电容的参数进行调整，使之和灯管匹配并能正常启动和工作，并在半桥输出的2只三极管上并联2只二极管以保护三极管不被反向高压损坏荧光灯不会因灯丝断开而损坏，从而达到理想寿命。
  • 理想寿命荧光灯
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