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专利名称
农业 化学；冶金 建筑 机械工程 区域搜索
主分类
A 农业
B 作业；运输
C 化学；冶金
D 纺织；造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]自动分析装置-CN201680012622.3有效
  • 中野俊郎 - 株式会社日立高新技术
  • 2016-02-05 - 2021-03-23 - G01N35/00
  • 具备分析部，其进行分析处理，该分析处理是对分析对象的检体进行分析的处理；存储部，其针对检体的每个分析项目，存储分析处理的结果、分析处理中的分析条件等分析参数的登记/变更/删除等事件的发生所相关的累积信息以及作为用于检体的分析的试剂的信息的试剂信息的登记/删除/更换等事件的发生所相关的累积信息；以及显示部，其显示所述检体的分析结果以及与事件的发生状况相关的信息等，控制检体的由分析部进行的分析处理的动作，并且从存储部读取分析参数的事件的信息和所述试剂信息的事件的信息由此，通过提高发生检体测量结果的数据异常等某种不良时的不良调查所涉及的各种信息的检索容易性或视觉辨认性，可以缩短不良的调查/分析所需要的时间和提高可靠性。
  • 自动分析装置
  • [发明专利]自动分析装置-CN201680013135.9有效
  • 森高通;时枝仁 - 株式会社日立高新技术
  • 2016-02-18 - 2020-05-26 - G01N35/02
  • 由一个促动器(夹持机构及试剂瓶盖开栓机构的驱动部)使把持试剂瓶(10)的夹持机构(106)和在试剂瓶(10)的盖切割切口的试剂瓶盖开栓机构(104)驱动，当试剂瓶盖开栓机构(104)为了在试剂瓶盖切割切口而进行下降动作时，夹持机构(106)进行上升动作，并当为了把持试剂瓶(10)而夹持机构(106)进行下降动作时，试剂瓶盖开栓机构(104)进行上升动作，从而构成为不干涉彼此的功能地进行动作。
  • 自动分析装置
  • [发明专利]自动分析装置-CN200610088590.3有效
  • 大内胜美;三卷弘 - 株式会社日立制作所
  • 2006-06-06 - 2007-09-26 - G01N35/00
  • 本发明的目的在于提供通过简单的操作进行装置的性能检查的自动分析装置。所采用的方法是，使用与样品分析用试剂卡盘外形相同的性能检查用卡盘来进行装置的性能检查。自动分析装置根据记录在性能检查用卡盘中的处理条件，使用密封进性能检查用卡盘中的试剂进行吸光度测量，把测量结果与记录在性能检查用卡盘中的判断条件进行对照来进行装置性能检查。
  • 自动分析装置
  • [发明专利]自动分析装置-CN200710139833.6有效
  • 八木贤一;野田贵之;高桥贤一;敕使河原健二;铃木笃史 - 株式会社日立高新技术
  • 2007-08-02 - 2008-02-06 - G01N35/02
  • 本发明以提供可迅速进行再检分析的自动分析系统为目的。本发明为一种自动分析系统，其具备：保持了放入受检体的受检体容器的受检体架；投放所述受检体架的受检体架投放部；运送所述受检体架的运送线；沿着所述运送线配置了多个的自动分析装置；使装有已分析的受检体的受检体架待机的受检体架待机部；回收装有分析完毕的受检体的受检体架的受检体检回收部；和使放入了根据分析结果需要再次进行分析的受检体的所述受检体架返回的再检查用运送线，其特征是：具有控制单元，其在所述受检体的再分析中，从所述受检体架待机部通过再检查用运送线返回，且利用先前进行了分析的自动分析装置以外的自动分析装置使之执行分析。
  • 自动分析装置
  • [发明专利]自动分析装置-CN200710140341.9有效
  • 中村和弘;圷正志 - 株式会社日立高新技术
  • 2007-08-09 - 2008-03-05 - G01N35/00
  • 本发明提供一种自动分析装置，其在检体的分析中，不需要操作员重新进行精度管理试料的测定的请求和设置，而连续进行与标准试料的测定中的试剂相同的试剂相关的精度管理试料的测定，由此始终验证标准试料的测定结果的有效性，保证了高可靠性的分析结果。当设置标准试料时，识别所设置的标准试料，针对对于该标准试料测定请求的试剂，自动向分析装置提供设置在缓冲器中的精度管理试料，针对该使用试剂，在标准试料的测定后立即进行精度管理试料的测定。
  • 自动分析装置
  • [发明专利]自动分析装置-CN200810128083.7有效
  • 相马邦彦;三村智宪 - 株式会社日立高新技术
  • 2008-07-29 - 2009-02-04 - G01N35/02
  • 本发明的目的在于提供检测每个反应容器的空白值、且能够谋求缩短分析所消耗的时间的自动分析装置。本发明是自动分析装置具备：容纳试样及试剂的反应容器、清洗上述反应容器的清洗机构、以及对上述试样和上述试剂的反应进行测光检查的分析机构，其特征在于，具有将初次进行的初次装置调试运行中在上述反应的测光检查之前检测的先行空白值与接着上述初次装置调试运行后进行的工作运行中在上述反应的测光检查之后检测的后行空白值进行比较的比较功能
  • 自动分析装置
  • [发明专利]自动分析装置-CN200610115937.9有效
  • 亘重范 - 株式会社日立高新技术
  • 2004-06-21 - 2007-03-21 - G01N35/10
  • 本发明涉及一种自动分析装置。在自动分析装置中，为了增加试剂的搭载数量而提高安装密度的场合，在以往形式的将试剂ID设置于试剂容器侧面上的系统中，对ID信息的读写时期会产生限制，阻碍装置性能的提高。而本发明的自动分析装置的构造为，能够使用将带在试剂容器上的条形码等ID携带在试剂容器上面或下面、或这两者上都有的结构的试剂容器。即使提高自动分析装置的试剂容器的安装密度，也能够在任意的时期读出或写入试剂ID的信息，并可提高装置的功能及性能。
  • 自动分析装置
  • [发明专利]自动分析装置-CN200610151669.6有效
  • 折桥敏秀;高木由充;笠间干雄 - 株式会社日立高新技术
  • 2006-09-11 - 2007-03-21 - G01N33/48
  • 本发明提供一种分析装置，在精度管理试样的测定数据在预先设定的基准上下限值的范围以外时，通过简化校准或精度管理试样的再测定，可以迅速进行装置的精度管理的应对处理，而且可以继续实现高可靠性的分析。另外，具有以下的单元：可以确认基准上下限值的范围之外的精度管理试样的测定数据以及可以容易地指示该分析项目的精度管理试样的再测定。
  • 自动分析装置
  • [发明专利]自动分析装置-CN200810009893.0有效
  • 圷正志 - 株式会社日立高新技术
  • 2008-02-27 - 2008-09-03 - G01N35/00
  • 本发明提供一种自动分析装置，其中，如果操作者在事前准备精度管理试样，则能够根据外部的因素进行精度管理试样的分析，可以减少操作者的负担，并且在必须进行精度管理的适当的时期一定能够实现精度管理，可以自动维持测定精度解决方法为，根据在装置内保持精度管理试样、投入标准试样、分析中的试剂的余量满足规定的条件(为0、低于指定值)、改变日期、达到指定时刻、改变操作者、超过样品数、经过时间、登记新试剂、检测出测定异常等因素，来生成对应于保持的精度管理试样的分析委托，通过传送精度管理试样进行精度管理试样的分析。
  • 自动分析装置
  • [发明专利]自动分析装置-CN200810080425.2有效
  • 山野晃大 - 株式会社日立高新技术
  • 2008-02-18 - 2008-08-27 - G01N35/02
  • 本发明涉及自动分析装置，目的在于提供一种自动分析方法及装置，该自动分析方法及装置适合通过减轻操作人员的负担并且不停止分析地进行分析中的试剂交换，从而实现效率的提高。在一边使试剂移动机构相对试剂分注器移动，一边利用上述试剂分注器将放置在上述试剂移动机构上的试剂进行分注，并使其分注的试剂与试样产生反应，从而测定其已反应的试样且分析其试样所指定的分析项目的自动分析方法中
  • 自动分析装置
  • [发明专利]自动分析装置-CN200810087945.6有效
  • 岩松博和;中村和弘;涩谷敏;粟田泰直;杉山英利 - 株式会社日立高新技术
  • 2008-03-25 - 2008-10-01 - G01N35/02
  • 传统上，在放置于装置的试剂盘的试剂的剩余量为0时介入试剂交换、分析开始操作这类操作员操作，另外到恢复至可重新开始分析的状态花费时间。本发明提供一种自动分析装置，其设有存储分析中变化的分析模块的状态的状态表(装置状态、试剂信息)，从试剂信息可识别试剂剩余量为0的试剂、分析模块的装置状态等。另外，由状态表判断可否继续分析，设置存储其判定结果的指示信息表(分析部动作信息、用户报告信息)，在分析部动作信息中生成并存储“按照通常执行分析开始、结束”、“省略一部分(前处理、后处理)”、“中止采样”
  • 自动分析装置
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