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- [发明专利]一种标签缺陷报警方法及装置-CN201511022448.4在审
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张钦;姚毅;乔英哲
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凌云光技术集团有限责任公司
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2015-12-30
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2016-04-20
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B41F33/00
- 本发明公开了一种标签缺陷报警方法及装置，该方法包括：接收安装在印刷机过辊上的编码器发送的脉冲信号；获取印刷机标签拍摄装置发送的标签图像；根据标签图像判断印刷机印刷的多列标签中是否有缺陷标签；当有缺陷标签时，根据当前接收的脉冲信号数确定缺陷标签到达收料台时的目标脉冲信号数；根据标签图像确定缺陷标签所在列数；根据缺陷标签所在列数确定缺陷标签对应的报警灯；标签列数与报警灯之间存在一一对应关系；当所接收的脉冲信号数达到目标脉冲信号数时，控制缺陷标签对应的报警灯进行报警。本发明的技术方案操作者能够根据报警灯确定出缺陷标签所在列数，且无需等待即可对缺陷标签进行查看和剔除，这节约操作者时间，方便操作。
- 一种标签缺陷报警方法装置
- [发明专利]测量产额损失芯片数目及各类差芯片数目的方法-CN99808921.4无效
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李在根
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株式会社艾塞米肯;李在根
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1999-07-20
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2001-10-03
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H01L21/66
- 提供一种用于测量因半导体芯片的缺陷所造成的产额损失芯片数和分类的差芯片数的方法,利用这种方法有可能明显地提高半导体芯片的产额,其途径是通过测量在半导体制造过程的任一个处理、任一个设备、和任一个处理阶段中因芯片缺陷造成的产额损失芯片数、最大产额损失芯片数和各种特定类型的差芯片数,来管理芯片的缺陷。测量因半导体芯片的缺陷造成的产额损失芯片各类差芯片数的方法包括以下步骤利用一个缺陷检查设备从一个经过一个预定处理的晶片上的各有效芯片中检查出一些有缺陷芯片并把检查出的有缺陷芯片标准在一个第一晶片图上;通过把第一晶片图上的有缺陷芯片与它们的相邻无缺陷芯片进行配对来形成一些异配芯片并确定一个由这些异配芯片所在的区域所构成的最大可靠性区域;完成处理后利用一个产额测量设备在一个第二晶片图上标注出好芯片和各类差芯片;以及,对应于第一晶片图上最大可靠性区域中的有缺陷芯片和无缺陷芯片来分类计数第二晶片图上的好芯片数目和各类差芯片数目。
- 测量损失芯片数目各类目的方法
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