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[发明专利]一种缺陷管理系统和方法-CN201910687157.9有效
发明人：郁志强;闫玉俊;尚志强;马骋;路玉新;刘丽华;杜延海;白永胜;郭有福;王志会;顾进良;梁海军;李东卫;王晨星;赵博冬;李嘉康;张福增;郁志祥;郑守文;丁捷云;曾韡 -专利权人：河北大唐国际张家口热电有限责任公司
申请日： 2019-07-29 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明提供了一种缺陷管理系统，包括：用户端APP，用于用户录入与接收数据；缺陷管理系统服务器，用于与用户端APP之间相互传递信息，储存与统计缺陷数据；缺陷管理模块，包括重要缺陷管理模块与非重要缺陷管理模块，设置于用户端APP中，用于对不同缺陷采用不同管理方法。本发明提供了两种缺陷管理方法，可以实现对不同缺陷，用户端APP进入不同的缺陷管理模块。将月度总体缺陷目标数量分解为各专业月度缺陷目标数量，对完成月度缺陷目标数量或实现零缺陷的专业进行奖励。本发明对不同缺陷采用不同缺陷管理模块，使缺陷管理突出重点，更有针对性，效率更高。对缺陷目标数量细化到专业和采用现金鼓励，使缺陷管理模式更可行有效。
一种缺陷管理系统方法

[发明专利]具有临时缺陷管理区域的盘及其盘缺陷管理方法和设备-CN200480002117.8无效
发明人：黄盛凞;高祯完;李坰根 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2004-01-08 - 公布日： 2006-02-15 - 主分类号： G11B7/007 文献下载
摘要：一种具有至少一个记录层的一次写入盘，包括：临时缺陷管理区域，在其中关于仅仅在相应的记录操作期间检测到缺陷的临时缺陷信息和用于管理临时缺陷信息的临时缺陷管理信息被记录；和缺陷管理区域，在其中记录在临时缺陷管理区域中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息分别作为缺陷信息和缺陷管理信息被记录
具有临时缺陷管理区域及其方法设备

[发明专利]一次写入型光盘以及用于管理该光盘上的缺陷信息的方法和设备-CN200380109313.0无效
发明人：朴容徹;金成大 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 2003-10-01 - 公布日： 2006-03-08 - 主分类号： G11B7/00 文献下载
摘要：利用临时缺陷管理区(TDMA)提供了一种一次写入型光盘、一种用于管理该一次写入光盘，例如，BD－WO上的缺陷信息的方法和设备。该方法包括：准备临时缺陷管理区(TDMA)，在该临时缺陷管理区上，将临时缺陷列表(TDFL)记录为用于管理光盘上的缺陷区的缺陷管理信息；在临时缺陷管理区上，利用先前的临时缺陷列表累积记录最近临时缺陷列表；以及除了临时缺陷列表，还在临时缺陷管理区上记录用于指出最近临时缺陷列表的位置的位置信息，一更有效地管理临时缺陷列表。
一次写入光盘以及用于理该缺陷信息方法设备

[发明专利]一种炼油企业设备缺陷管理的系统化方法-CN201510579116.X在审
发明人：许述剑;刘小辉;方煜;邱志刚 -专利权人：中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司青岛安全工程研究院
申请日： 2015-09-11 - 公布日： 2015-12-02 - 主分类号： G06Q50/06 文献下载
摘要：本发明提供了一种炼油企业设备缺陷管理的系统化方法，该方法包括设备缺陷监控获取、设备缺陷识别登记、缺陷风险分析与分类管理及设备缺陷管控，通过该方法建立以风险分析技术为支撑、统一系统化的缺陷管理方法，实现设备缺陷的监控记录、识别登记、风险分析与分类管理，以及制定定量化缺陷管理策略和缺陷管理绩效指标，建立缺陷管理知识库，从而实现设备缺陷的有效管控和闭环管理，提高炼油企业设备完整性管理水平。
一种炼油企业设备缺陷管理系统化方法

[发明专利]一次写入型光盘以及用于管理该光盘上的缺陷信息的方法和设备-CN200910254091.0在审
发明人：朴容徹;金成大 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 2003-10-01 - 公布日： 2011-08-24 - 主分类号： G11B7/004 文献下载
摘要：本发明涉及一次写入型光盘以及用于管理该光盘上的缺陷信息的方法和设备。利用临时缺陷管理区(TDMA)提供了一种一次写入型光盘、一种用于管理该一次写入光盘，例如，BD-WO上的缺陷信息的方法和设备。该方法包括：准备临时缺陷管理区(TDMA)，在该临时缺陷管理区上，将临时缺陷列表(TDFL)记录为用于管理光盘上的缺陷区的缺陷管理信息；在临时缺陷管理区上，利用先前的临时缺陷列表累积记录最近临时缺陷列表；以及除了临时缺陷列表，还在临时缺陷管理区上记录用于指出最近临时缺陷列表的位置的位置信息，以更有效地管理临时缺陷列表。
一次写入光盘以及用于理该缺陷信息方法设备

[发明专利]缺陷管理平台、方法、电子设备及存储介质-CN202211335746.9在审
发明人：陈洪美 -专利权人：中国农业银行股份有限公司
申请日： 2022-10-28 - 公布日： 2023-01-13 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种缺陷管理平台、方法、电子设备及存储介质，包括：缺陷信息管理模块，用于响应于测试用户在缺陷管理界面上的第一触发操作，确定对应第一触发操作的缺陷信息，缺陷信息包括从多个信息管理菜单项中触发的缺陷描述信息；缺陷原因分析模块，用于响应于处理用户在缺陷管理界面上的第二触发操作，若缺陷描述信息所包括的处理用户标识与处理用户的处理标识匹配，则确定对应缺陷描述信息的缺陷原因分析信息，缺陷原因分析信息包括从原因分析菜单项中触发的缺陷原因；其中，缺陷管理界面包括多个信息管理菜单项和原因分析菜单项。该方案通过响应于测试用户或处理用户在缺陷管理界面上的操作即可实现对缺陷的管理，提高了缺陷管理的效率。
缺陷管理平台方法电子设备存储介质

[发明专利]记录/再现方法以及分配光学记录介质的区域的方法-CN200710126968.9有效
发明人：黃盛凞;高祯完 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2004-04-14 - 公布日： 2007-11-28 - 主分类号： G11B7/0045 文献下载
摘要：一种由设备使用和/或在计算机可读介质上编码的记录方法，包括：选择缺陷管理开模式或缺陷管理关模式，所述缺陷管理开模式或缺陷管理关模式指示在数据被记录在记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行；如果缺陷管理开模式被选择，那么在对记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录在该记录介质中；以及如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在该记录介质中。
记录再现方法以及分配光学介质区域

[发明专利]记录/再现方法、记录/再现设备和光学记录介质-CN200480010138.4有效
发明人：黄盛凞;高祯完 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2004-04-14 - 公布日： 2006-05-17 - 主分类号： G11B7/0045 文献下载
摘要：一种由设备使用和/或在计算机可读介质上编码的记录方法，包括：选择缺陷管理开模式或缺陷管理关模式，所述缺陷管理开模式或缺陷管理关模式指示在数据被记录在记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行；如果缺陷管理开模式被选择，那么在对记录介质执行缺陷管理的同时将数据记录在该记录介质中；以及如果缺陷管理关模式被选择，那么在没有缺陷管理的情况下将数据记录在该记录介质中。
记录再现方法设备光学介质

[发明专利]一种电网调度监控缺陷管理与评估系统-CN201710953251.5在审
发明人：雷超 -专利权人：国网四川省电力公司天府新区供电公司
申请日： 2017-10-13 - 公布日： 2018-02-02 - 主分类号： G06Q10/06 文献下载
摘要：本发明公开了一种电网调度监控缺陷管理与评估系统，包括缺陷管理功能子系统，用于管理电网运行设备缺陷，对发现缺陷、处理缺陷和消除缺陷进行全过程管控；缺陷管理评估子系统，用于将缺陷管理功能子系统所记录缺陷进行自动分级，并对不同等级缺陷进行分类统计和综合分析，得到全网设备缺陷总体评价指标群和全网设备分类缺陷统计指标群计算结果。能够高效地推动和监督电网缺陷处理的全过程，能够实现缺陷闭环管理、电网设备自动跟踪评估，对提升实现电网缺陷动态管理效益具有显著作用。
一种电网调度监控缺陷管理评估系统

[发明专利]光学记录媒体的缺陷管理方法及装置-CN200810083182.8有效
发明人：朴容彻;金成大 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 2004-02-25 - 公布日： 2008-08-13 - 主分类号： G11B20/18 文献下载
摘要：本发明提供一种对具有至少一个临时缺陷管理区域的光学记录媒体的管理信息进行记录的方法和装置，包括：更新缺陷管理信息；在所述临时缺陷管理区域中记录所更新的缺陷管理信息；以及当所述记录媒体被退出时，在所述临时缺陷管理区域中记录最近更新的缺陷管理信息以及指向最近更新的缺陷管理信息的定位器信息
光学记录媒体缺陷管理方法装置

[发明专利]缺陷信息管理方法、信息记录/再现装置、信息再现装置-CN200810189688.7无效
发明人：秋山实;高桥秀树;小川昭人;能弹长作 -专利权人：日本电气株式会社;株式会社东芝
申请日： 2006-06-21 - 公布日： 2009-06-03 - 主分类号： G11B20/18 文献下载
摘要：为了选择最新缺陷管理信息，通过在多个选择信息区中搜索其中记录有最新选择信息的当前激活的选择信息区，首先选择最新选择信息，并且，通过在多个缺陷管理区中搜索其中记录有最新缺陷管理信息的当前激活的缺陷管理区，顺序获得最新缺陷管理信息。如果不存在其中能替换记录缺陷管理信息的未使用的缺陷管理区以代替当前激活的缺陷管理区，则限制记录操作。
缺陷信息管理方法信息记录再现装置

[发明专利]缺陷信息管理方法、信息记录/再现装置、信息再现装置-CN200610094018.8无效
发明人：秋山实;高桥秀树;小川昭人;能弹长作 -专利权人：日本电气株式会社;株式会社东芝
申请日： 2006-06-21 - 公布日： 2006-12-27 - 主分类号： G11B20/10 文献下载
摘要：为了选择最新缺陷管理信息，通过在多个选择信息区中搜索其中记录有最新选择信息的当前激活的选择信息区，首先选择最新选择信息，并且，通过在多个缺陷管理区中搜索其中记录有最新缺陷管理信息的当前激活的缺陷管理区，顺序获得最新缺陷管理信息。如果不存在其中能替换记录缺陷管理信息的未使用的缺陷管理区以代替当前激活的缺陷管理区，则限制记录操作。
缺陷信息管理方法信息记录再现装置

[发明专利]一次写入型记录介质、记录装置、重放装置、及记录方法-CN200710089892.7有效
发明人：吉田昌义;幸田健志;今村晃 -专利权人：日本先锋公司
申请日： 2004-03-17 - 公布日： 2007-10-10 - 主分类号： G11B20/10 文献下载
摘要：在一次写入型记录介质(10)上，提供有：确定的缺陷管理区(13)，用于确定的将缺陷管理信息记录在其中；以及多个临时缺陷管理区(14A、14B、以及14C)，用于将缺陷管理信息临时记录在其中。如果记录介质(10)仍未结束，那么每当对缺陷管理信息进行更新时，将所更新的缺陷管理信息记录在多个临时缺陷管理区的任何一个中。此外，记录介质(10)上记录有状态信息记录区(15)，并且将用于表示下述临时缺陷管理区的状态信息记录在状态信息记录区(15)中，所述临时缺陷管理区内记录有在最后所记录的缺陷管理信息。通过参考状态信息，可快速指定在最后所记录的缺陷管理信息。
一次写入记录介质装置重放方法

[发明专利]一次写入型记录介质、记录装置、重放装置、及记录方法-CN200710089893.1有效
发明人：吉田昌义;幸田健志;今村晃 -专利权人：日本先锋公司
申请日： 2004-03-17 - 公布日： 2007-10-10 - 主分类号： G11B20/10 文献下载
摘要：在一次写入型记录介质(10)上，提供有：确定的缺陷管理区(13)，用于确定的将缺陷管理信息记录在其中；以及多个临时缺陷管理区(14A、14B、以及14C)，用于将缺陷管理信息临时记录在其中。如果记录介质(10)仍未结束，那么每当对缺陷管理信息进行更新时，将所更新的缺陷管理信息记录在多个临时缺陷管理区的任何一个中。此外，记录介质(10)上记录有状态信息记录区(15)，并且将用于表示下述临时缺陷管理区的状态信息记录在状态信息记录区(15)中，所述临时缺陷管理区内记录有在最后所记录的缺陷管理信息。通过参考状态信息，可快速指定在最后所记录的缺陷管理信息。
一次写入记录介质装置重放方法

[发明专利]一次写入型记录介质、用于一次写入型记录介质的记录装置及记录方法、以及用于一次写入型记录介质的重放装置及重放方法-CN200480001524.7有效
发明人：吉田昌义;幸田健志;今村晃 -专利权人：日本先锋公司
申请日： 2004-03-17 - 公布日： 2006-01-04 - 主分类号： G11B20/12 文献下载
摘要：在一次写入型记录介质(10)上，提供有：确定的缺陷管理区(13)，用于确定的将缺陷管理信息记录在其中；以及多个临时缺陷管理区(14A、14B、以及14C)，用于将缺陷管理信息临时记录在其中。如果记录介质(10)仍未结束，那么每当对缺陷管理信息进行更新时，将所更新的缺陷管理信息记录在多个临时缺陷管理区的任何一个中。此外，记录介质(10)上记录有状态信息记录区(15)，并且将用于表示下述临时缺陷管理区的状态信息记录在状态信息记录区(15)中，所述临时缺陷管理区内记录有在最后所记录的缺陷管理信息。通过参考状态信息，可快速指定在最后所记录的缺陷管理信息。
一次写入记录介质用于装置方法以及重放

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