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[发明专利]一种电池片的电学性能测试方法-CN202111100979.6在审
发明人：杨飞;陈健生;朱琛;吕俊;申盼;申品文;张世查 -专利权人：泰州隆基乐叶光伏科技有限公司
申请日： 2021-09-18 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开一种电池片的电学性能测试方法，涉及电池性能测试技术领域。以提供一种能够在电池端快速准确判断出电池的电学性能，从而为电池工艺的优化提供支持的技术方案。包括：对电池片进行电学性能测试，获取第一电学测试结果。在环境箱体内，对叠层结构中的电池片进行第二电学测试，得到第二电学测试结果。基于第一电学测试结果和第二电学测试结果，得到所述电池片的电学性能。
一种电池电学性能测试方法

[发明专利]电学性能测试方法及装置-CN201810072455.2在审
发明人：刘光锟 -专利权人：福建福顺半导体制造有限公司
申请日： 2018-01-25 - 公布日： 2018-07-06 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开一种电学性能测试方法及装置，其中，该电学性能测试方法包括将所述加热装置加热至预设温度后冷却，其中，集成电路放置于所述加热装置内；当所述加热装置的温度每下降预设间隔温度后，对所述集成电路的电学性能进行一次测试本发明提出的电学性能测试方法及装置的测试过程由系统自动完成，无需人为介入操作；且操作简单方便，节省了劳动力成本，节约了时间；同时通过设置预设间隔温度可获得更接近实际情况的电学性能温度特性曲线，并且能更详细的反映集成电路在各温度下的电学性能温度特性
电学性能测试电学性能加热装置集成电路预设间隔温度特性曲线劳动力成本测试过程温度特性自动完成后冷却预设加热测试节约

[发明专利]一种不良芯片筛选方法-CN202110090092.7有效
发明人：肖南海;杨斌;洪海霞;贾美景;刘洪;葛志阳 -专利权人：上海音特电子有限公司
申请日： 2021-01-22 - 公布日： 2022-05-31 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本发明适用于芯片测试技术领域，提供了一种不良芯片筛选方法，所述方法是根据预设的热力学筛选方法对待筛选的芯片进行热力学性能筛选，得到符合热力学要求的芯片，再根据预设的电学筛选方法对所述符合热力学要求的芯片进行电学性能筛选，得到符合电学性能要求的芯片，通过同时对待筛选芯片进行热力学测试和电学参数测试，能够有效保证芯片出厂的合格率；最后获取所述符合电学性能要求的芯片的电学参数测试数据，并基于正态分布原理筛选出电学参数测试数据符合3σ原则的芯片，能够筛选出具有高度一致的电学参数的良品，剔除存在失效风险的良品，从而进一步提高芯片出厂的合格率。
一种不良芯片筛选方法

[实用新型]缆线测试装置-CN201720315854.8有效
发明人：马栋栋 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2017-03-28 - 公布日： 2018-01-30 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种缆线测试装置，属于缆线测试领域。该缆线测试装置包括两个缆线插座、摇摆组件和电学测试组件；该缆线插座上设置有缆线连接端口，该缆线连接端口用于与待测试缆线的连接端子电连接；该摇摆组件设置于两个该缆线插座之间，该摇摆组件用于带动该待测试缆线做摇摆运动；该电学测试组件与该两个缆线插座上的缆线连接端口分别连接，用于检测该待测试缆线的电学性能。本实用新型提供的缆线测试装置可以在待测试缆线摇摆的过程中测试其电学性能，从而能够在缆线出厂使用前剔除掉在摇摆状态下电学性能出现问题的缆线，有效避免了出厂后的缆线的电学性能在服役时出现问题。
缆线测试装置

[发明专利]电路板及其性能测试方法和电子设备-CN202011363068.8在审
发明人：郑峰 -专利权人：中兴通讯股份有限公司
申请日： 2020-11-27 - 公布日： 2022-05-31 - 主分类号： H05K1/02 文献下载
摘要：本公开提供一种电路板的电学性能测试方法，所述电路板包括至少一个电路板本体，所述电路板本体包括测试区，所述测试区上设置有至少一个加热板，所述电路板本体包括传输线和设置在所述测试区的测试线，所述测试线与所述传输线同层设置，且所述测试线与所述传输线绝缘间隔，所述加热板与所述电路板本体层叠设置，所述性能测试方法包括：控制所述加热板发热；测量所述测试线的电学参数，以判断所述电路板本体是否达到预定温度；当所述电路板本体到达预定温度时，测试所述测试线的电学性能，并根据所述测试线的电学性能确定电路板本体的电学性能。在对所述电路板进行测试时，效率较高。
电路板及其性能测试方法电子设备

[发明专利]一种高精度多功能变温磁电测试系统-CN202010969577.9在审
发明人：司志青;汤如俊;葛水兵;唐悦 -专利权人：苏州大学
申请日： 2020-09-15 - 公布日： 2020-12-11 - 主分类号： G01R33/12 文献下载
摘要：本发明公开了一种高精度多功能变温磁电测试系统，该系统包括屏蔽盒、两霍姆赫兹线圈、励磁电源、控温仪表和电学测试仪表，屏蔽盒设于两霍姆赫兹线圈之间，两霍姆赫兹线圈通过引线与励磁电源连接，屏蔽盒内设有加热台，加热台上设有承载待测电学样品的绝缘样品台，电学测试仪表通过测试电线与待测电学样品连接，通过调节待测电学样品进行变磁场角度和强度条件下材料磁电性能测试，通过控温仪表与加热台连接进行温度控制，进行变温条件下材料磁电性能测试，通过向屏蔽盒内通入不同气氛环境，进行变气氛的材料磁电性能测试。本发明结构简单，可进行多种磁电性能测试，有效降低测试成本，并可实现对测试变量的精准控制，从而提高测试精度。
一种高精度多功能磁电测试系统

[发明专利]用于材料及器件的电学性能重力探针-CN201510284517.2在审
发明人：谈宁 -专利权人：谈宁
申请日： 2015-05-26 - 公布日： 2015-12-23 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：一种用于材料及器件的电学性能重力探针，在底板的左侧设置有左重力架、右侧设置有右重力架，左重力架上设置有左探针，右重力架上设置有右探针，左探针的尾部与右探针的尾部相对设置。测试时，将左探针的尾部放置在待测样品的左侧，右探针的尾部放置在待测样品的右侧，左探针的尾部通过导线与一个鳄鱼夹相连，右探针的尾部通过导线与另一个鳄鱼夹相连，鳄鱼夹接测试系统，测试待测样品的电学性能。测试时，可以移动左探针的尾部、右探针的尾部，测试待测样品不同电极距离的电学性能，而且同样适用于测试不同尺寸的材料及器件的电学性能。本申请具有结构简单、使用方便、操作简单等优点，可用于测试各种材料及器件的电学性能。
用于材料器件电学性能重力探针

[发明专利]电学性能测试方法及其测试设备-CN200910118025.0无效
发明人：叶明修;方家彦;刘致宏;云正隆;柯昆龙 -专利权人：日月光半导体制造股份有限公司
申请日： 2009-02-20 - 公布日： 2010-08-25 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：一种电学性能测试方法，包括如下步骤：提供一测试设备，所述测试设备包括至少一测试区及一设置于所述测试区的散热装置；放置一半导体封装器件于所述测试区；于高温状态下对所述半导体封装器件进行第一次电学性能测试；利用所述散热装置对所述测试区进行冷却，使所述测试区的温度降至常温；以及于常温状态下对所述半导体封装器件进行第二次电学性能测试。
电学性能测试方法及其设备

[发明专利]基于原位透射电子显微镜的纳米材料交流电学性能测试装置及方法-CN201610539948.3有效
发明人：孙立涛;马青;董辉;张秋波;徐涛;苏适 -专利权人：东南大学
申请日： 2016-07-08 - 公布日： 2019-04-09 - 主分类号： G01N23/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于原位透射电子显微镜的纳米材料交流电学性能测试装置，包括纳米线样品、原位电学测试装置和阻抗频谱分析装置；原位电学测试装置包括钨探针和纳米线样品杆；纳米线样品可固定在纳米线样品杆；所述钨探针通过纳米微操纵杆控制与纳米线样品的接触本发明只需要将样品载入搭建的交流电学性能测试装置，通过施加测试的交流信号、控制纳米微操纵杆来改变探针和样品的接触状态，操作远比其他方法简单，测试结果具有直观性和定量检测的特性，且电学参数信息较为全面，可以广泛应用于未来各种纳米材料的电学性能测试
基于原位透射电子显微镜纳米材料交流电学性能测试装置方法

[实用新型]显示屏测试装置-CN201620566569.9有效
发明人：张志华 -专利权人：昆山国显光电有限公司
申请日： 2016-06-14 - 公布日： 2016-11-09 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种显示屏测试装置，包括：光学检测组件，用以检测显示屏光学性能，设有光学信息输出端口；电学检测组件，用以检测显示屏电学性能，设有电学信息输出端口；供电模块，与所述光学检测组件电性连接用以为光学检测组件供电，与所述电学检测组件电性连接用以为电学检测组件供电。该显示屏测试装置集成有光学检测组件和电学检测组件，因而，可以一并解决显示屏的电学性能的检测和显示屏光学性能的检测，从而，提高显示屏检测的效率。
显示屏测试装置

[发明专利]一种测试小试样变温电性能的辅助夹具-CN202010420648.X有效
发明人：张洪军;李方喆;柯华;罗蕙佳代;曹璐;唐晓慧 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2020-05-18 - 公布日： 2023-01-03 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：一种测试小试样变温电性能的辅助夹具，特别涉及一种材料电学性能测试用夹具。本发明的目的是要解决使用现有电学性能测试仪器配套夹具对厚度200μm以下的功能陶瓷试样进行测试时容易导致试样断裂的问题。一种测试小试样变温电性能的辅助夹具由基座、上电极模块、下电极模块、接线模块和加热模块组成。本发明的优点在于特别适合功能陶瓷小试样的电学性能测试，本发明可用于辅助测量功能陶瓷的电学性能，尤其是基于平行板电容器方式进行测量的导电、介电、铁电、压电和耐压性能；本发明的优点在于使用摇杆式上电极，其活动灵活本发明可获得一种测试小试样变温电性能的辅助夹具。
一种测试试样变温电性能辅助夹具

[实用新型]一种灯具测试台-CN201420541142.4有效
发明人：杨巍立 -专利权人：厦门市永福森照明科技有限公司
申请日： 2014-09-19 - 公布日： 2015-01-21 - 主分类号： G01R31/44 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种灯具测试台，包括中空的台座，所述台座的上表面上设有2个电学性能测试接线座、光源接线座、测试灯座、保护灯座、电源开关及保护开关，所述的电学性能测试接线座分别连接被测电路的输入端和输出端，所述光源接线座用于连接被测光源，所述测试灯座用于安装被测灯具，所述保护灯座用于安装保护灯泡，所述电源开关用于控制对所述电学性能测试接线座、光源接线座及测试灯座供电，所述保护开关用于控制对所述保护灯座供电，分别与所述电学性能测试接线座、光源接线座、测试灯座、保护灯座、电源开关及保护开关连接的连接导线收纳在所述台座内。本实用新型避免了测试现场的凌乱，提高了测试的准确性，操作更为简便。
一种灯具测试

[实用新型]一种电学性能测试设备-CN201820031459.1有效
发明人：彭兆阜 -专利权人：广东亮检科技有限公司
申请日： 2018-01-09 - 公布日： 2018-08-17 - 主分类号： G01R31/12 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种电学性能测试设备，包括加工装置、测试装置和分析装置，加工装置、测试装置和分析装置安装在基座上面并呈直线排布，加工装置在右侧，测试装置在中间，分析装置在左侧，传送带安装在加工装置与测试装置中间，线缆安装在电气设备连接处，支撑架安装在基座底部边缘；本电学性能测试设备，在使用时只需将所检测材料在加工装置加工成检测装置所需状态，通过传送带运输到检测装置，经检测后将数据传输到分析电脑中即可，本设备安装五种常用的检测装置，能够同时检测多种电学性能，并将数据统一传输到分析电脑，做到全方位系统的测试材料的电学性能。
加工装置测试装置电学性能测试分析装置检测装置电学性能电气设备连接本实用新型传送带运输传送带测试材料底部边缘检测材料设备安装数据传输数据统一线缆安装直线排布支撑架检测电脑分析传输加工

[发明专利]一种太阳能薄膜光伏组件分波段检测方法-CN201911289773.5在审
发明人：郭小佳;张建伟;韩福英;孙旭;姚应妮;刘小雨 -专利权人：凯盛光伏材料有限公司
申请日： 2019-12-16 - 公布日： 2020-04-24 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开一种太阳能薄膜光伏组件分波段检测方法，包括以下步骤：将待测薄膜光伏组件放置于Halm测试机，利用Halm测试机测试薄膜光伏组件的电学性能参数，电学性能参数包含短路电流Isc、开路电压Uoc、填充因子FF、功率Pmpp；依次在在待测薄膜光伏组件上放置紫色滤光片、蓝色滤光片、绿色滤光片、黄色滤光片与红色滤光片，分别测试在不同波段下的电学性能参数，根据电学性能参数计算在不同波段下的吸收率；将不同波段下的吸收率进行对比，即可以发现薄膜光伏组件各膜层的性能及优化方向；本方法操作简单，能够极大地提高检测效率。
一种太阳能薄膜组件波段检测方法

[发明专利]全自动麦克风吹气测试实验装置及方法-CN202310498246.5在审
发明人：郑文岗;谭兴伟;李彬;张福涛 -专利权人：潍坊歌尔微电子有限公司
申请日： 2023-04-27 - 公布日： 2023-08-04 - 主分类号： H04R29/00 文献下载
摘要：本发明提供一种全自动麦克风吹气测试实验装置及方法，其中的装置包括取料机器人、上料装置、电学测试装置以及吹气测试装置，其中，所述上料装置，用于放置待测试物料；所述取放机器人，用于将所述上料装置的待测试物料搬运至所述电学测试装置、所述吹气测试装置；所述电学测试装置，用于对所述待测试物料进行声学性能测试；所述吹气测试装置，用于对完成声学性能测试的待测试物料进行吹气测试。利用本发明，能够解决目前人工测试导致的误差以及人工生产效率低等问题。
全自动麦克风吹气测试实验装置方法

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