专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]用于测量光学成像系统的图像质量的系统-CN200580018031.9有效
  • M·门格尔;U·维格曼;A·厄尔曼;W·埃默;R·克莱门特;L·马蒂杰森 - 卡尔蔡司SMT股份公司
  • 2005-06-02 - 2007-05-30 - G03F7/20
  • 一种用于光学成像系统(150)的光学测量测量系统(100),提供该光学成像系统以使设置在成像系统的目标表面(155)的图案成像到成像系统的图像表面(156),该测量系统包括,具有目标侧测量结构(111)的目标侧结构载体(110),其设置于成像系统的目标侧上;具有图像侧测量结构(121)的图像侧结构载体(120),其设置于成像系统的图像侧上;该目标侧测量结构和该图像侧测量结构以这种方式彼此匹配:当目标侧测量结构借助于成像系统成像到图像侧测量结构上时该成像系统设计为用于借助浸液(171)成像的浸液系统。给设置在浸液区域中的结构载体分配保护系统(125),以提高测量结构对由浸液导致的降解的抵抗力。因此,在浸液条件下的浸液系统测量测量精确度方面,可能不受浸液的有害影响。
  • 用于测量光学成像系统图像质量
  • [发明专利]一种水力冲孔用孔径测定机构-CN202310388584.3在审
  • 周学斌;徐传田;王奕翔;许雷斯;顾睿亭 - 淮北矿业股份有限公司
  • 2023-04-12 - 2023-07-21 - E21B47/08
  • 本发明提供了一种水力冲孔用孔径测定机构,包括延伸系统测量系统和主结构固定管;所述延伸系统设置在所述主结构固定管的一端,所述测量系统安装在所述主结构固定管的内部,所述测量系统与所述延伸系统进行连接;所述延伸系统中包括有滚轮接触头和钢弹簧,所述滚轮接触头通过连接器与所述钢弹簧进行连接;所述测量系统中包括有测量仪,所述测量仪的内部连接有钢绳,所述测量仪安装在所述主结构固定管的另一端部,所述钢绳的另一端与所述滚轮接触头进行连接,本发明通过延伸系统测量系统和主结构固定管实现对水力冲孔进行直径测量结构简单,测量方便,便于实现对水力冲孔的直径进行测量,便于实现对不同深度进行测量,提高测量的全面性。
  • 一种水力冲孔孔径测定机构
  • [发明专利]光刻装置和定位装置-CN200610075205.1无效
  • M·H·M·比姆斯;J·萨凯 - ASML荷兰有限公司
  • 2006-04-19 - 2006-11-01 - G03F7/20
  • 一种光刻装置,其包括保持基底的基底台,参考结构以及测量基底台相对参考结构的位置的测量系统。该测量系统包括用于测量基底台相对中间结构的位置的第一测量系统,和用于测量中间结构相对参考结构的位置的第二测量系统。该中间结构与驱动机构连接或可与驱动机构连接,以驱动基底台。基底台和中间结构之间的间距以及中间结构和参考结构之间的间距可以很小,从而获得高度精确的位置测量
  • 光刻装置定位
  • [发明专利]原位输运性质测量装置-CN201510172191.4有效
  • 薛其坤;陈曦;王亚愚;胡小鹏;赵大鹏;郑澄;张定 - 清华大学
  • 2015-04-13 - 2017-07-18 - G01N27/00
  • 一种原位输运性质测量装置,包括一低维材料制备系统,用于制备膜状结构;以及一输运性质测量系统,用于测量所述膜状结构的输运性质;所述原位输运性质测量装置进一步包括一低维材料处理系统,用于在所述膜状结构的表面设置电极;所述低维材料制备系统、低维材料处理系统和输运性质测量系统之间通过磁力杆传送所述膜状结构,且所述低维材料制备系统、低维材料处理系统、输运性质测量系统中均为真空环境。
  • 原位输运性质测量装置
  • [实用新型]原位输运性质测量装置-CN201520219621.9有效
  • 薛其坤;陈曦;王亚愚;胡小鹏;赵大鹏;郑澄;张定 - 清华大学
  • 2015-04-13 - 2015-10-21 - G01N27/00
  • 一种原位输运性质测量装置,包括:一低维材料制备系统,用于制备膜状结构;以及一输运性质测量系统,用于测量所述膜状结构的输运性质;所述原位输运性质测量装置进一步包括一低维材料处理系统,用于在所述膜状结构的表面设置电极;所述低维材料制备系统、低维材料处理系统和输运性质测量系统之间通过磁力杆传送所述膜状结构,且所述低维材料制备系统、低维材料处理系统、输运性质测量系统中均为真空环境。
  • 原位输运性质测量装置
  • [发明专利]一种结构光三维重建校正方法及装置-CN202011554503.5在审
  • 吴易明;樊鹏格;姚震;聂永明;赵军丽;黄锦鹤 - 西安中科光电精密工程有限公司
  • 2020-12-24 - 2021-03-30 - G06T17/00
  • 本发明公开了一种结构光三维重建校正方法及装置,包括:结构光三维重建系统和标准球位置固定,结构光三维重建系统测量标准球,获得标准球面的测量点云;测量点云进行最小二乘拟合;在结构光三维重建系统测量视场内移动结构光三维重建系统或者标准球,进行标准球的多次测量和拟合;将结构光三维重建系统测量点坐标与理论点坐标作对比,分析其深度方向上误差面的分布规律并进行相应的曲面拟合,提取有效误差模型对测量点坐标进行修正。该方法对结构光三维扫描系统测量结果进行直接校正,可直接对应测量任务,能实现测量精度的直接提升;无需分析复杂的结构光三维重建系统理论几何模型,校正方法原理简单,易于实现。
  • 一种结构三维重建校正方法装置

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