专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]化学品泄漏处理系统-CN201510166049.9在审
  • 王青海;李丽萍;贾立超;孟原;李立伟;郭铁 - 新奥光伏能源有限公司
  • 2015-04-09 - 2015-07-15 - A62B29/00
  • 本发明涉及防止化学品泄漏技术领域,公开了一种化学品泄漏处理系统,用以减少化学品泄漏对人和环境造成的危害,提高化学品泄漏处理的自动化管理。上述化学品泄漏处理系统包括用于存储化学品的化学品柜,化学品柜内设有化学品存储罐,用于排放化学品柜内泄漏化学品的泄漏排放管路以及用于将化学品存储罐内的化学品输出的第一输出管路,泄漏排放管路和第一输出管路上分别设有第一控制阀和第二控制阀,还包括侦测装置,用于检测化学品柜内的化学品泄漏量;泄漏处理装置,用于向化学品柜内喷洒处理剂;与侦测装置和泄漏处理装置信号连接的控制装置,用于根据化学品泄漏量与设定阈值的比较结果,控制第一控制阀、第二控制阀以及泄漏处理装置的开
  • 化学品泄漏处理系统
  • [实用新型]用于旋转流体阀的装置、旋转流体阀、用于流体阀的轴-CN201520035849.2有效
  • D·A·亚诺尔德;D·G·哈尔姆 - 费希尔控制国际公司
  • 2015-01-19 - 2015-11-25 - F16K41/02
  • 用于旋转流体阀的装置包括:轴,其具有静态密封件和与静态密封件间隔的动态密封件,其中静态密封件限定相邻于静态密封件的第一泄漏检测区域,并且动态密封件限定相邻于动态密封件的第二泄漏检测区域;以及与轴一体地形成的密封泄漏检测器,用于提供对在第一泄漏检测区域内或在第二泄漏检测区域内的过程流体泄漏的视觉指示,密封泄漏检测器具有与第一泄漏检测区域和第二泄漏检测区域流体连通的通道,其中通道具有横截面,横截面在第一泄漏检测区域与第二泄漏检测区域之间变化,以防止流体从第一泄漏检测区域与第二泄漏检测区域中的一个流至流体阀的主体。
  • 用于旋转流体装置
  • [发明专利]管道泄漏的检测方法及装置-CN201911400995.X在审
  • 张浩翔 - 北京国双科技有限公司
  • 2019-12-30 - 2021-07-02 - F17D5/02
  • 本发明公开了一种管道泄漏的检测方法及装置,涉及管道检测领域,主要为解决现有的管道泄漏检测过程中检测结果的准确性和成本之间难以兼顾的问题。该方法包括:接收目标管道的管道运行参数,并确定所述目标管道的管道泄漏检测模型,所述管道运行参数至少包括泄漏时的温度及泄漏时间;将所述管道运行参数输入至所述管道泄漏检测模型进行管道泄漏检测,得到检测结果。本发明用于管道泄漏的检测过程。
  • 管道泄漏检测方法装置
  • [发明专利]一种防泄漏煤气排水器-CN201110042411.3无效
  • 黄熙淳;黄震洲 - 黄震洲
  • 2011-02-22 - 2011-08-17 - F17D3/14
  • 本发明涉及一种防泄漏煤气排水器,包括煤气排水器和/或防泄漏装置,其特征在于:所述煤气排水器或防泄漏装置内设有防泄漏机构,所述防泄漏机构包括浮球、拉杆、盖板、连接杆、固定杆和可拆卸的防泄漏管,所述浮球下端通过拉杆与盖板活动连接,所述盖板与连接杆活动连接,所述连接杆与固定杆上端铰接,所述固定杆下端固定于防泄漏管上。本发明的优点是:拆装方便,便于检修,防止煤气泄漏
  • 一种泄漏煤气排水
  • [发明专利]估计半导体装置中的泄漏电流的方法-CN200910170609.2有效
  • 都炅兑;崔晶然;李奉炫;金颖焕;元孝植;金郁 - 三星电子株式会社
  • 2009-08-28 - 2010-03-03 - G06F17/50
  • 本发明提供一种估计半导体装置中的泄漏电流的方法。在估计半导体装置的泄漏电流的方法中,通过网格模型将包括多个单元的芯片划分为段。空间相关性被确定为涉及每个单元中的泄漏电流的工艺参数之间的空间相关性。通过算术地运算实际泄漏特性函数来产生单元的虚拟单元泄漏特性函数。通过算术地运算段中的每个单元的虚拟单元泄漏特性函数来产生段泄漏特性函数。然后,通过以统计学方式运算芯片中的每个段的段泄漏特性函数来产生全芯片泄漏特性函数。因此,可以显著地减小用于产生全芯片泄漏特性函数的Wilkinson的方法的计算负荷。
  • 估计半导体装置中的泄漏电流方法

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