专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种多频点微波器件自动化测试方法及测试系统-CN202011598615.0有效
  • 杨博;李宗昆;李志超 - 北京振兴计量测试研究所
  • 2020-12-29 - 2023-08-18 - G01R31/28
  • 本发明涉及一种多频点微波器件自动化测试方法及测试系统,属于无线电计量技术领域,解决了微波器件测试效率低下、无法满足自动化测试需求的问题。方法步骤为:配置待测微波器件在每一待测频点下的电平控制指令和测试子项;测试子项包括配置指令、数据获取指令和技术指标;在每一待测频点下执行测试过程,若在每一待测频点下的测试均通过,则微波器件测试通过;每一待测频点下执行的测试过程包括:微波器件基于电平控制指令及参考微波信号生成变频微波信号;频谱分析仪基于测试子项中的配置指令及数据获取指令,从变频微波信号中获取相应测试子项下的测试数据;判断测试数据是否满足相应技术指标,若均满足,则在当前待测频点下的测试通过
  • 一种多频点微波器件自动化测试方法系统
  • [实用新型]一种开关矩阵式微波信号测试-CN202222791324.4有效
  • 敬君安;周欣 - 成都天创微波技术股份有限公司
  • 2022-10-21 - 2023-07-04 - G01N22/00
  • 本实用新型公开了一种开关矩阵式微波信号测试架,涉及微波信号测试技术领域。该开关矩阵式微波信号测试架,包括测试支架、转动机构和调试机构,测试支架上固定安装有微波信号测试箱。该开关矩阵式微波信号测试架,方便对射频微波工件进行微波信号进行测试处理,采用四组检测线和测试头的设计,测试效率高,并且可用不同检测线进行测试处理,有效的减少测试误差,同时方便对射频微波工件进行转动,无需工作人员手动搬运射频微波工件,有效的减少了工作人员的劳动强度,并且可根据射频微波工件输出端的位置,对检测线和测试头进行位置调节,促进了射频微波工件测试效率,便于推广和使用。
  • 一种开关矩阵式微信号测试
  • [发明专利]一种矢量微波模块调测装置及调测方法-CN202310839284.2在审
  • 王涛;赵习智;马骏 - 中电科思仪科技股份有限公司
  • 2023-07-10 - 2023-10-24 - G01R31/00
  • 本发明公开了一种矢量微波模块调测装置及调测方法,属于矢量微波模块调测技术领域。包括主控单元、信号源生成单元、程控微波开关和测试单元;主控制单元用于获取待测试信号类型并将待测试信号类型发送至信号源生成单元和程控微波开关;信号源生成单元根据待测试信号类型,生成信号源并输入待调测矢量微波模块,以生成待测试信号;程控微波开关用于根据待测试信号类型,采集待测试信号并输入测试单元;测试单元用于对待测试信号进行测试,获取待调测矢量微波模块的调测参数能够实现参考信号发生模块的自动化测试。能够提高自动化测试效率,减少测量结果误差;解决了现有技术中存在的人工测试效率低且质量差的问题。
  • 一种矢量微波模块装置方法
  • [发明专利]微波变频器的测试方法及其平台-CN201911300324.6有效
  • 赵五洲;余定展;刘祖冲 - 航天恒星科技有限公司
  • 2019-12-16 - 2023-06-06 - G01R31/00
  • 本发明适用于微波变频器的测试技术领域,公开了一种微波变频器的测试方法和微波变频器的测试平台。其中,微波变频器的测试方法包括如下步骤:在矢量网络分析仪中存储若干个采用预设连接方式下分别测试不同测试指标的校准程序;采用所述预设连接方式连接矢量网络分析仪与微波变频器;根据测试指标,调取对应的校准程序进行测试本发明提供的微波变频器的测试方法实现了微波变频器的全指标一键测量,减少了测试仪器的需求,在缩短测试时间的同时提高了测量精度,实现不换线、不换端口就能完成武器数据链系统中定型、批产状态微波混频器全指标的高效准确的测试任务要求
  • 微波变频器测试方法及其平台
  • [实用新型]一种微波芯片检测装置-CN201922274503.9有效
  • 邱少军;于孟国;王晶;王惠;赵娜;杨盼 - 北京振兴计量测试研究所
  • 2019-12-17 - 2020-12-22 - G01R31/28
  • 本实用新型涉及一种微波芯片检测装置,属于芯片测试技术领域,解决微波芯片的无损检测问题,装置包括测试装具(2)、控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5);测试装具(2),用于无损安装待测微波芯片;控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5)分别通过测试装具(2)与待测微波芯片的控制端口、微波输入端口和微波输出端口连接;输入端口(4)外接微波信号源(9),用于为待测微波芯片提供信号源;输出端口(5)外接频谱分析仪(10),用于检测待测微波芯片的输出信号;控制单元(3),用于产生控制信号,控制待测微波芯片输出信号的参数。本实用新型制造成本低、结构简单;测试过程简单、便捷,适用于批量测试
  • 一种微波芯片检测装置
  • [其他]自动六端口反射计主机-CN101985000000132在审
  • 徐秉椿 - 清华大学
  • 1985-04-01 - 1988-07-13 -
  • 本发明是带电脑的微波测试系统控制仪,它属于自动化微波测试技术。本发明旨在制造一个带电脑的微波测试系统控制仪,以代替一般微波测试系统中的扫描器、数字电压表、稳幅器和台式计算机,使微波测试系统结构紧凑,价格低廉并达适时控制、处理和显示之目的。本发明实施例之一是与微波信号发生器、六端口结一起构成自动六端口反射计。
  • 自动端口反射主机
  • [发明专利]一种微波负载的吸收功率的测试方法-CN202210290414.7在审
  • 张尚剑;顾超宇;徐映;敬超;刘永 - 电子科技大学
  • 2022-03-23 - 2022-06-10 - G01R21/00
  • 本发明提供了一种微波负载的吸收功率的测试方法,属于微波技术领域。目的在于克服目前难以精确测量微波源工作状态下的反射系数,而缺乏精确测量微波负载吸收功率的难题。本发明将通过在微波源后级联高隔离度器件形成一个等效源结构。测量高隔离度器件的反向反射系数,就可以近似得到微波源工作状态下等效源系统的反射系数,误差极小。进而实现了对于微波负载实际吸收功率的精确测试。本方法通过微波源级联一个高隔离度器件的测试结构,建立完善的微波等效源系统信号传输模型,精确地测试微波负载的吸收功率,可用于微波测试系统中高频器件的表征,具有广泛的应用价值。
  • 一种微波负载吸收功率测试方法

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