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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]一种表面缺陷检测装置及方法-CN202110063814.X在审
发明人：张鹏黎 -专利权人：上海御微半导体技术有限公司
申请日： 2021-01-18 - 公布日： 2021-05-14 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种表面缺陷检测装置及方法，该装置包括工件台，第一检测单元、第二检测单元和控制器，工件台承载待测物，第一检测单元位于待测物第一表面的上方，第二检测单元位于待测物第二表面的下方，第一检测单元和第二检测单元中的光源单元出射光束，并经过物镜单元入射至待测物表面，光束经待测物表面反射或散射形成反射或散射光束，采集单元采集反射或散射光束生成待测物表面图像；控制器控制工件台承载待测物运动，并根据第一表面图像识别第一表面的缺陷，根据第二表面图像识别第二表面的缺陷，实现同时检测待测物上下表面的缺陷，提高检测效率。
一种表面缺陷检测装置方法

[发明专利]一种掠发射X射线荧光分析用样品制备装置-CN02109015.7无效
发明人：巩岩;陈波 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2002-01-07 - 公布日： 2004-09-15 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明要解决的技术问题是：使被待测分析物质产生高温等离子体，高速喷发沉积在透明待测物载物片上，形成待测样品，解决技术问题的技术方案是：采用脉冲宽度足够窄的激光器作光源，选择非球面聚光镜聚焦激光能量，待测物的载台沿光轴方向可调，待测物的所在环境为真空室。该装置是由窄脉宽激光光源、聚光镜、样品盒、调整鼓轮、螺纹副、待测物载台、待测物、透明待测物载物片、真空室等部分组成的。该装置制备分析样品工艺过程简单、快捷、样品纯度高、质量好，适于X射线荧光分析。
一种发射射线荧光分析样品制备装置

[发明专利]非破坏性接触的检测方法及其检测设备-CN200310100550.2无效
发明人：郭文源;孟昭宇 -专利权人：统宝光电股份有限公司
申请日： 2003-10-16 - 公布日： 2005-04-20 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明是关于一种非破坏性接触的检测方法，适于在一检测温度下检测一待测物的电气特性，该检测方法是先使用呈液态的一导体接触待测物表面，再经由呈液态的导体来检测待测物的电气特性，以判断待测物是否故障。由于呈液态的导体在接触到待测物时不会伤害其表面，因此可以确保完成后的产品能够正常动作。该非破坏性接触的检测设备包括：一主体，具有至少一个开口；以及至少一导体，其在该检测温度下呈液态，该导体经由该开口暴露于该主体之外，用以接触该待测物的表面。本发明可以避免待测物在测量期间被破坏，而具有产业上的利用价值；令其可使待测物在检测之后仍可正常动作，从而更加适于实用。
破坏性接触检测方法及其设备

[实用新型]一种电参数测试仪-CN201320554512.3有效
发明人：吴正兴 -专利权人：湖北艾图科技有限公司
申请日： 2013-09-06 - 公布日： 2014-01-15 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：技术方案为：一种电参数测试仪，其包括测试仪主机；测试仪主机包括操作面板，操作面板上设有与主机电连接的接线端子，接线端子包括与待测物电源连接的待测物电源端子对、与待测物连接的待测物端子对和接地端子；所述待测物电源端子对与一接地端子组合成供待测物电源插接的第一插座；所述待测物端子对与一接地端子组合成供待测物插接的第二插座。
一种参数测试仪

[发明专利]一种基于多点拟合的结构物平面位移监测方法-CN201610476238.0有效
发明人：蓝章礼;陈巍;杨扬;黄芬;王可欣 -专利权人：重庆交通大学
申请日： 2016-06-27 - 公布日： 2018-07-20 - 主分类号： G01C11/12 文献下载
摘要：本发明提供的大型结构物位移监控方法，在待测结构物的侧面上设置多个待测点靶标，参考点靶标和相机，计算机获取相机首次拍摄的图像后，将该图像设为模板图像；当计算机获取相机拍摄的实时图像，并结合模板图像对实时图像进行分析处理，得到待测结构物的平面位移。该方法利用在待测结构物的侧面上设置的多个待测点靶标拟合得到待测结构物的平面位移，能够用于对待测结构物的平面位移进行测量，同时在待测点靶标和相机之间设有的参考点靶标，相机发生偏转时，用参考点靶标修正对待测点靶标位移检测的误差
一种基于多点拟合结构平面位移监测方法

[实用新型]透明物缺陷检测装置-CN202121968360.2有效
发明人：张魁东;崔颖;吴慧;李益民 -专利权人：安徽顺鼎阿泰克科技有限公司
申请日： 2021-08-20 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种透明物缺陷检测装置，包括网格光源、工业相机及控制中心；网格光源用于照射待测透明物；工业相机与控制中心相连，用于获取待测透明物的图像；控制中心接收工业相机获取的图像并根据需要对图像进行显示或处理本实用新型通过采用网格光源照射待测透明物，如果待测透明物存在缺陷，就会使得获取的待测透明物的图像中的网格图案出现变形或者移位，从而快速、直观地判定待测透明物是否有缺陷，降低检测成本，提高检测效率。
透明缺陷检测装置

[发明专利]具有测量功能的电子装置及方法-CN201010616852.5有效
发明人：王崇任;舒礼盛;罗碧青;庄宗仁;翁世芳 -专利权人：富泰华工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2010-12-31 - 公布日： 2012-07-11 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：一应用于一电子装置的测量方法，该方法包括：响应用户的一测量操作，控制一距离测量单元测量电子装置与待测物之间的距离；根据所获取的电子装置与待测物之间的距离及摄像单元的拍摄视角计算摄像单元所摄取画面的实际尺寸；获取摄像单元所摄取画面的影像，并根据所获取的影像确定待测物的尺寸占所摄取影像的尺寸的比例；根据待测物的尺寸占所摄取影像的尺寸的比例及摄像单元所摄画面的实际尺寸计算待测物的尺寸；将所测的待测物的尺寸显示于用户使用本发明，在需要时，身边又无其他测量工具时，及时测量待测物的尺寸。
具有测量功能电子装置方法

[发明专利]一种检测方法、装置及设备-CN201910945748.1在审
发明人：陈鲁;黄有为;王天民;庞芝亮;肖伟 -专利权人：深圳中科飞测科技股份有限公司
申请日： 2019-09-30 - 公布日： 2021-03-30 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种缺陷检测方法，包括：将待测物的待测区划分为若干个待测单元；获取所述待测单元的缺陷信息；根据所述缺陷信息获取待测单元的第一缺陷值；根据所述第一缺陷值对待测单元中的缺陷进行第一筛选处理，得到复检缺陷；根据所述复检缺陷的信息，对所述待测物进行复检处理。从而可以较为快速的得到待测物表面分布较为均匀的缺陷，有利于提高缺陷检测效率。
一种检测方法装置设备

[实用新型]海上风机塔筒倾斜角度和基础沉降测量装置-CN201920788406.9有效
发明人：彭亚;陈进河;钟茗秋;黄祥声;谢贤彬;李颖 -专利权人：中国长江三峡集团有限公司福建分公司;福建省新能海上风电研发中心有限公司
申请日： 2019-05-29 - 公布日： 2020-02-21 - 主分类号： E02D33/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种海上风机塔筒倾斜角度和基础沉降测量装置，包括第一待测环、第二待测环、固定参考件、全站仪和固定座，所述第一待测环固定套设于待测风机的塔筒的顶部，所述第二待测环固定套设于待测风机的塔筒的底部，所述第一待测环和第二待测环上均间隔设有至少三个的待测标志物；所述固定参考件固定设置于所述全站仪和待测风机之间，所述固定参考件的顶部设有参考标志物；所述全站仪设置于所述固定座上，用于测定所述待测标志物和参考标志物的三维空间坐标
海上风机倾斜角度基础沉降测量装置

[发明专利]外观检测方法-CN201510115416.2在审
发明人：周爵厚;杨清;杨硕翡;王金正;刘家安;蔡炜哲 -专利权人：珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2015-03-16 - 公布日： 2015-06-03 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：该外观检测方法包括：预处理步骤：检测待测物的外表面的光照度，并根据光照度调节光源以使待测物外表面的光照度达到预设值；检测步骤：观察待测物以检测待测物的外观是否有损坏。本发明的外观检测方法在检测待测物的外观之前具有预处理步骤，通过预处理步骤的作用，能够将室内的光照度调节到预设值，在该预设的光照度下，便于观察出待测物的外观是否有损伤，进而能够快速、准确地检测出待测物的外观的损伤情况，提高了对待测物外观的检测速率。
外观检测方法

[发明专利]自动测试设备及方法-CN201510166207.0在审
发明人：蔡紫蕾;黄逸勇;李政谚 -专利权人：致茂电子（苏州）有限公司
申请日： 2015-04-09 - 公布日： 2016-11-23 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开一种自动测试设备，用于测试至少第一待测物以及第二待测物，自动测试设备包括第一测试模组、第二测试模组及控制模组。第一测试模组可插拔地耦接第一待测物，第二测试模组可插拔地耦接第一待测物及第二待测物。控制模组耦接第一测试模组及第二测试模组，并依据测试排程表控制第一测试模组及第二测试模组，使得第一测试模组及第二测试模组在排程模式下对第一待测物及第二待测物进行测试，其中排程模式为循序模式、并行模式或并联模式
自动测试设备方法

[发明专利]一种电子元件测量方法及测量系统-CN202310101283.8在审
发明人：王礼忠;郭浩威 -专利权人：深圳市派捷电子科技有限公司
申请日： 2023-01-20 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明实施例涉及电子技术领域，公开了一种电子元件测量方法及测量系统，该方法包括：将待测物直流电压值和待测物直流电流值分别代入第一计算公式中，以计算出待测物的目标电阻值；利用傅里叶变化公式，计算出待测物交流电压值相对于待测物交流电流值的幅值；将待测物交流信号频率值、目标电阻值和幅值分别代入第二计算公式中，以计算出待测物的目标电容值。
一种电子元件测量方法测量系统

[发明专利]表面形貌量测方法及其装置-CN200710181614.4有效
发明人：苏彦祯;陈俊贤 -专利权人：财团法人工业技术研究院
申请日： 2007-10-19 - 公布日： 2009-04-22 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种表面形貌量测装置，用于量测一待测物的表面形貌，包含：一激光单元，其发射激光至该待测物的表面以形成一激光定位点；一量测单元，根据激光定位点进行待测物表面的量测；以及一移动平台，其夹持该激光一单元与该量测单元中之一进行至少一维的移动；其中，该待测物与激光单元彼此间的相对位置不改变。
表面形貌方法及其装置

[发明专利]一种缺陷检测装置及其方法-CN201910684263.1有效
发明人：于凯航 -专利权人：上海御微半导体技术有限公司
申请日： 2019-07-26 - 公布日： 2020-05-15 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种缺陷检测装置，包括：载物台，其用于承载待测物；发光元件，其与待测物正对设置，其用于照射待测物；移动调节组件，其与发光元件连接，用于调节发光元件与待测物之间的相对位置；第一偏振片，其位于发光元件与待测物之间；图像采集单元，其位于发光元件远离待测物的一侧，用于采集待测物的图像；第二偏振片，其位于图像采集单元与发光元件之间，第二偏振片与第一偏振片的偏振方向互相垂直；图像处理单元，其与图像采集单元连接，用于根据图像采集单元采集的图像对待测物表面缺陷进行识别
一种缺陷检测装置及其方法

[发明专利]高空抛物检测方法和装置、设备及计算机存储介质-CN202110729527.8在审
发明人：蔡官熊;方宝乐;刘逸哲;曾星宇;赵瑞 -专利权人：深圳市商汤科技有限公司
申请日： 2021-06-29 - 公布日： 2021-09-17 - 主分类号： G06T7/246 文献下载
摘要：本公开实施例公开了一种高空抛物检测方法和装置、设备，及计算机存储介质，包括：从待测图像中获取存在待测抛落物的抛落物图像，并确定各抛落物图像中待测抛落物的位置坐标；根据各抛落物图像的采集时间和各位置坐标，获取待测抛落物的关联位置坐标，并基于关联位置坐标生成待测抛落物的运动轨迹片段；响应于运动轨迹片段满足预设高空抛物条件，将待测抛落物确定为高空抛落物，并将运动轨迹片段确定为高空抛物事件的抛物轨迹片段；基于抛物轨迹片段生成高空抛落物的完整抛物轨迹
高空检测方法装置设备计算机存储介质

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