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[外观设计]整机外观检测设备-CN202330156669.X有效
发明人：吴少华;王龙宝 -专利权人：深圳市明信测试设备股份有限公司
申请日： 2023-03-28 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：整机外观检测设备。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于设备整机外观的检测设备。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
整机外观检测设备

[外观设计]芯片外观检测机-CN202230783492.1有效
发明人：孟叶 -专利权人：苏州英诺威视图像有限公司
申请日： 2022-11-23 - 公布日： 2023-04-14 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：芯片外观检测机。2.本外观设计产品的用途：用于检查芯片的外观瑕疵不良并分选的一种设备。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
芯片外观检测

[外观设计]电容外观检测设备-CN202230677524.X有效
发明人：郭名鹏;王桂林 -专利权人：湖南云眼智能装备有限公司
申请日： 2022-10-14 - 公布日： 2023-03-14 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：电容外观检测设备。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于电容的外观检测。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
电容外观检测设备

[外观设计]米粒外观检测机-CN202230558468.8有效
发明人：郭盼盼 -专利权人：深圳思谋信息科技有限公司
申请日： 2022-08-25 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：米粒外观检测机。2.本外观设计产品的用途：用于米粒的检测及分析。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
米粒外观检测

[外观设计]外观检测分拣机-CN202330173901.0有效
发明人：胡文杰;沈正华;胡学琪;阳琴;邱佳宇;郑慧飞 -专利权人：温州职业技术学院
申请日： 2023-04-03 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： 15-99 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：外观检测分拣机。2.本外观设计产品的用途：用机器视觉检测产品外观并分拣产品。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图1。
外观检测分拣

[外观设计]电池外观检测设备-CN202330191805.9有效
发明人：罗善雄;胡太阳;张钶迪 -专利权人：佛山市富原自动化科技有限公司
申请日： 2023-04-11 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：电池外观检测设备。2.本外观设计产品的用途：用于电池的外观检测。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。
电池外观检测设备

[外观设计]外观检测设备（AOI）-CN202330264367.4有效
发明人：霍彬彬;谢高玖;秦操 -专利权人：聚和兴智能(深圳)有限公司
申请日： 2023-05-08 - 公布日： 2023-09-22 - 主分类号： 10-05 文献下载
摘要：1.本外观设计产品的名称：外观检测设备（AOI）。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于运用3D技术检测电子元器件的外观。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。
外观检测设备 aoi

[发明专利]外观检测系统及检测方法-CN201910171971.5在审
发明人：丁亮;陈永明;汪良良;刘刚;王一琪;孟祥吉;宋道磊;柯光磊;韦桂明;孙孝央;陈璐;徐陈聪;郭春玲;倪锡荣 -专利权人：宁波舜宇光电信息有限公司
申请日： 2019-03-07 - 公布日： 2020-09-15 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：公开了一种外观检测系统，其包括基座；依次设置在基座上的上料机构、检测机构和下料机构，以及传输机构。传输机构可相对于基座旋转地设置在基座上并且包括用于放置待检测工件的多个工位。传输机构能够带动待检测工件从多个工位中的一个工位移动到多个工位中的下一工位，并且当传输机构带动待检测工件移动时，放置在多个工位上的待检测工件分别定位在上料机构、检测机构和下料机构的操作位置处。
外观检测系统方法

[发明专利]外观检测设备及其检测方法-CN202010405087.6在审
发明人：汪旭生;耿军红 -专利权人：苏州佳祺仕信息科技有限公司
申请日： 2020-05-14 - 公布日： 2020-08-07 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开一种外观检测设备，包括用于传送工件的传送机构，以及设置所述传送机构外围的放料机构一和多组外观检测模组以及下料机构；多组所述外观检测模组包括设置在传送机构上方的至少两种不同检测角度的外观检测模组；所述外观检测模组包括用于给工件提供检测光的光源，和用于采集所述工件上的检测光的相机。本发明提供一种外观检测设备及其检测方法，提升了工件的传送稳定性和检测效率，并拓展了检测功能；利用光学原理通过采集光源照射在工件上反射呈像的图像，实现对工件上的缺陷进行图像采集，能够对工件的外观状态进行检测
外观检测设备及其方法

[发明专利]外观检测装置及其检测方法-CN02102359.X无效
发明人：李育忠;陈冠斌;何臣蜀;吴英男 -专利权人：达方电子股份有限公司
申请日： 2002-01-23 - 公布日： 2003-08-06 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明提供一种外观检测装置及其检测方法，其中外观检测装置包括：用以监测待测物外观的图像监测装置；用以向待测物提供光的光源；以及用以补强光源的光补强装置；而外观检测方法包括：(a)提供一待测物；(b)监测待测物的图像)在图像边缘上取多个量测点，且算出量测点至平均线的长度；(e)利用量测点至平均线的长度算出平均线的标准方差；以及(f)将量测点至平均线的长度分别加上标准方差，以得到多个强化值，且利用强化值判断待测物的外观是否符合规格
外观检测装置及其方法

[实用新型]360°螺纹检测外观检测系统-CN202220136199.0有效
发明人：柳兆蒙;张朦斐;张示威 -专利权人：嘉兴凡视智能科技有限公司
申请日： 2022-01-18 - 公布日： 2022-07-19 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本实用新型公开了360°螺纹检测外观检测系统，包括底板，底板上固定有三根立杆，立杆上固定有安装基座，三个安装基座位于同一高度；所述三个安装基座通过一连接环相连接，且安装基座位于连接环的三等分位置上；所述安装基座上固定有相机本实用新型设置了三个相机进行螺纹检测，3个高像素相机分120°进行安装，采用大视野高清镜头进行拍照，每个相机检测120度，可以同时对螺纹和螺杆的压伤和划伤检测，检测速度快、标准高。
360 螺纹检测外观系统

[实用新型]检测机构及外观检测装置-CN202222145861.1有效
发明人：汤永生;莫灼钊;周琴 -专利权人：东莞盛翔精密金属有限公司
申请日： 2022-08-15 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： B07C5/02 文献下载
摘要：本申请公开了一种检测机构及外观检测装置。检测机构，包括：包括底座、第二驱动模组、治具、固定组件、第一检测组件，所述治具可活动的设置于所述底座，所述第二驱动模组驱动连接所述治具，用于使所述治具在所述底座上做循环运动；所述底座对应所述治具的运动路径上形成有上料工位、检测工位、下料工位，所述上料工位和所述下料工位位于所述取料头的移动路径上，所述第一检测组件以及所述固定组件对应设置于所述检测工位，所述第一检测组件用于检测所述治具上的零件，所述固定组件用于固定所述治具
检测机构外观装置

[发明专利]一种外观检测设备及待检测产品的外观检测方法-CN201910234757.X在审
发明人：李强;李金才;常浩;李朋辉;卢亚宾;金鳞 -专利权人：博众精工科技股份有限公司
申请日： 2019-03-26 - 公布日： 2019-05-28 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种外观检测设备及待检测产品的外观检测方法，属于外观检测技术领域。外观检测设备包括输送系统和检测工位，其中输送系统包括输送轨道，以及位于输送轨道上的上下料夹具和传送装置；沿输送系统设置有主表面检测系统、中框检测系统、凹面检测系统、凸面检测系统，凹面检测系统用于检测设置于第一主表面的凹槽；凸面检测系统用于检测凸设于第二主表面的平面。外观检测方法包括：在第一检测工位待检测产品的第一主表面及在第二检测工位所述第一主表面的凹槽和/或凸设的平面进行检测；然后翻转，在第一检测工位对第二主表面进行检测。本发明实现产品外观检测的统一化、标准化，以及高效率检测。
检测系统主表面检测外观检测工位外观检测设备待检测产品输送系统输送轨道凹面凸面凸设夹具表面检测系统产品外观检测传送装置第二检测高效率上下料翻转标准化统一

[实用新型]一种用于检测芯片的外观检测装置及外观检测设备-CN202120588266.8有效
发明人：姚发贵;栾俊平;欧远鹏;蒋建华;李土轩;余国弟;黎勇 -专利权人：东莞市小可智能设备科技有限公司
申请日： 2021-03-23 - 公布日： 2021-12-03 - 主分类号： G01D21/02 文献下载
摘要：本实用新型公开一种用于检测芯片的外观检测装置及外观检测设备；一种用于检测芯片的外观检测装置,包括：多轴移动机构；视觉定位机构，与所述多轴移动机构传动而能多轴运动，用于检测芯片的水平位置；高度测量机构，与所述多轴移动机构传动而能多轴运动，用于检测芯片的高度位置；红外光源，与所述多轴移动机构传动而能多轴运动，用于向芯片表面发射红外光；红外传感器，与所述多轴移动机构传动而能多轴运动，用于接收芯片表面反射的红外光。本实用新型具有结构简单，检测效率高的优点。
一种用于检测芯片外观装置设备

[发明专利]自动上料结构、外观检测装置、口罩外观检测装置及方法-CN202010705057.7在审
发明人：邹广华;闵建军 -专利权人：深圳市泰沃德自动化技术有限公司
申请日： 2020-07-21 - 公布日： 2020-10-30 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本申请涉及自动上料结构、外观检测装置、口罩外观检测装置及方法，自动上料结构包括机架、控制器及至少一组获取结构；气缸及第二获取件分别固定于机架上，第一获取件及第三获取件分别与气缸驱动连接，第一获取件及第三获取件联动设置且第一获取件与第三获取件的移动方向相反
自动结构外观检测装置口罩方法