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[实用新型]基板表面检测装置-CN201821893115.8有效
发明人：崔汉铉 -专利权人：塔工程有限公司
申请日： 2018-11-16 - 公布日： 2019-10-18 - 主分类号： G01N21/89 文献下载
摘要：本实用新型中实施例中的基板表面检测装置包括：移送单元，用于移送基板；第1检测单元，具备用于检测基板的下面的多个第1摄像机，多个第1摄像机以相互不同的角度面向基板的下面的方式进行配置；第2检测单元，具备多个用于检测基板的边缘部的第
基板摄像机基板表面检测检测本实用新型面向基板移送单元边缘部配置

[实用新型]基板表面检测装置-CN201821892291.X有效
发明人：崔汉铉 -专利权人：塔工程有限公司
申请日： 2018-11-16 - 公布日： 2020-03-06 - 主分类号： G01N21/89 文献下载
摘要：本实用新型实施例中的基板表面检测装置包括：用于移送基板的移送单元；用于检测基板的下面的第1检测单元；以及用于检测基板的边缘部的第2检测单元。
表面检测装置

[发明专利]玻璃基板表面颗粒检测系统-CN202111022317.1在审
发明人：李青;李赫然;穆美强;苏记华;任晓金;孟伟华;王文龙;王欣;刘晓波;王瑞涛 -专利权人：郑州旭飞光电科技有限公司;东旭科技集团有限公司
申请日： 2021-09-01 - 公布日： 2022-01-18 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种玻璃基板表面颗粒检测系统，属于玻璃基板制造技术领域，包括：支架，所述支架上沿玻璃基板输送方向设置有用于输送玻璃基板的传送机构和用于支撑所输送的玻璃基板的气浮机构；颗粒检测单元，用于获取所输送的玻璃基板表面的表面颗粒信息；吸光组件，设置在所述支架上，用于吸收玻璃基板检测区域的杂散光。本发明的玻璃基板表面颗粒检测系统具有能够实时的检测玻璃基板的上表面颗粒信息和上下表面颗粒信息，实现实时监控整版玻璃基板品质，大大提高了生产效率；并且，机构简单，容易控制，能够降低检测成本。
玻璃表面颗粒检测系统

[实用新型]玻璃基板表面缺陷检测系统-CN201920834383.0有效
发明人：洪亚德;陈松岩;潘书万 -专利权人：厦门福信光电集成有限公司
申请日： 2019-06-04 - 公布日： 2020-02-04 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种玻璃基板表面缺陷检测系统，包括相机及光源，还包括：数据处理单元，其包括主计算机及M台通过千兆交换机与主计算机相连的从计算机；M个光源控制器，每个光源控制器控制N个光源；各光源控制器控制台从计算机一一对应的数据采集卡，各数据采集卡连接N个相机的模拟信号端，其以并行方式获取N个相机所采集的图像数据；信号同步单元，其通过一前级时钟分配模块为各数据采集卡提供同步采集信号；M×N个相机沿垂直于玻璃基板的输送方向等距排列在玻璃基板的上方；各光源均为透射型光源，其对应于相机分布在玻璃基板的下方；M与N满足以下关系：M×N×W
光源相机光源控制器数据采集卡玻璃基板主计算机玻璃基板表面缺陷检测系统时钟分配模块数据处理单元信号同步单元本实用新型模拟信号端千兆交换机并行方式等距排列同步采集图像数据相机视野透射型计算机基板前级垂直采集

[发明专利]一种玻璃基板表面检测装置-CN202310448869.1在审
发明人：谢宁;常世军;潘庆龙;夏梦瑶 -专利权人：彩虹（合肥）液晶玻璃有限公司
申请日： 2023-04-24 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01N21/958 文献下载
摘要：本发明公开了一种玻璃基板表面检测装置，本发明使用时，第一玻璃基板表面检测推移底架组件、第一玻璃基板表面检测导轨支撑臂组件和第一玻璃基板固定臂组件之间形成第一换位检测机架结构，第二玻璃基板表面检测推移底架组件、第二玻璃基板表面检测导轨支撑臂组件和第二玻璃基板固定臂组件之间形成第二换位检测机架结构，第一换位检测机架结构和第二换位检测机架结构分别对称镜像设置在支撑主机架的顶部和底部，实际玻璃基板检测时，第一换位检测机架结构和第二换位检测机架结构之间的检测发光灯和检测拍摄摄像头形成玻璃基板表面双面检测机构
一种玻璃表面检测装置

[发明专利]输入装置及电子设备-CN201110040217.1无效
发明人：荒井贤司 -专利权人：索尼公司
申请日： 2011-02-18 - 公布日： 2011-08-31 - 主分类号： G06F3/041 文献下载
摘要：本发明公开一种输入装置及电子设备，该输入装置包括：保护基板，具有与被检测物体接触的操作表面；检测体，其中检测电极形成在检测基板上，检测基板面对保护基板的与保护基板的操作表面相反的表面；以及振动体，固定到保护基板，并且在被检测物体接触操作表面时振动。
输入装置电子设备

[发明专利]涂布装置、高度检测方法以及涂布方法-CN202010854635.3有效
发明人：大宅宗明;实井祐介;黑枝笃史 -专利权人：株式会社斯库林集团
申请日： 2020-08-24 - 公布日： 2022-05-10 - 主分类号： B05C5/02 文献下载
摘要：提供一种涂布装置、高度检测方法以及涂布方法，对基板施加浮力来在水平方向上运送基板并向基板供给处理液，高精度地检测与喷嘴的相向位置上的基板上表面的高度。涂布装置具有：运送部，从下方对基板施加浮力并在水平方向上运送基板；喷嘴，被定位在与被运送的基板的上表面相向的涂布位置并向基板喷出处理液；高度检测部，在基板的运送方向上，检测喷嘴的上游侧或下游侧的检测位置上的基板的上表面的高度；计算部，基于规定的换算特性，根据在检测位置检测到的高度，计算与位于涂布位置的喷嘴相向的相向位置上的基板的上表面的高度。换算特性是根据事先运送基板而在相向位置以及检测位置分别检测到的基板的上表面的高度的相关关系来预先求出的。
装置高度检测方法以及

[发明专利]检测装置和检测方法-CN201410490339.4有效
发明人：安午伟;马亮 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
申请日： 2014-09-23 - 公布日： 2015-01-21 - 主分类号： G01N33/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种检测装置和检测方法，其中该检测装置包括：该检测装置包括：密封腔体、气流输出单元和气流检测单元，密封腔体内水平放置有待检测的基板，气流检测单元位于密封腔体内且位于基板的下方，气流输出单元与密封腔体连接，气流输出单元用于向基板的上表面输出检测气流，气流检测单元用于检测基板的下表面是否存在检测气流。本发明的技术方案通过气流输出单元在基板的上表面形成检测气流，同时利用气流检测单元检测基板的下表面是否存在检测气流，并基于气流检测单元的检测结果以实现对基板是否存在破损进行判断。
检测装置方法

[发明专利]具有输入装置的显示设备以及触摸检测基座构件-CN201810220257.6有效
发明人：仓泽隼人;安住康平;石崎刚司;金子英树;原田勉 -专利权人：株式会社日本显示器
申请日： 2013-08-01 - 公布日： 2021-10-26 - 主分类号： G02F1/1333 文献下载
摘要：提供具有输入装置的显示设备以及触摸检测基座构件，可以抑制静电电容的增加导致的输入装置的检测灵敏度(检测可靠性)降低。显示设备包括：第一基板，具有第一表面；第二基板，具有与第一基板相对的第二表面；多个像素电极、公共电极以及显示功能层，配置在第一基板和第二基板之间；第三基板，具有与第一表面相对的第三表面以及位于第三表面的相反侧的第四表面；多个输入位置检测电极，形成在第三表面上，在紧跟着显示期间的触摸检测期间检测输入位置；引出配线，从输入位置检测电极的每个的端部拉绕到第三基板的端部；以及片状的电荷驰豫层，配置于公共电极和输入位置检测电极之间，输入位置检测电极和第一基板的第一表面被固定为彼此分离。
具有输入装置显示设备以及触摸检测基座构件

[发明专利]玻璃基板耐划痕检测方法和玻璃基板耐划痕检测装置-CN201710440148.0在审
发明人：徐兴军;李成;郑权;王丽红;闫冬成;张广涛;李俊锋 -专利权人：东旭科技集团有限公司;东旭集团有限公司
申请日： 2017-06-12 - 公布日： 2017-10-13 - 主分类号： G01N3/56 文献下载
摘要：本发明涉及玻璃检测领域，公开了一种玻璃基板耐划痕检测方法和玻璃基板耐划痕检测装置，所述玻璃基板耐划痕检测方法包括以下步骤S10、在待检测的玻璃基板的表面刻划划痕；S20、测量所述划痕的宽度。该玻璃基板耐划痕检测方法能够准确表征玻璃的耐划痕性。所述玻璃基板耐划痕检测装置包括能够在所述待检测的玻璃基板(14)的表面留下划痕的刻划机构(10)以及带动所述刻划机构沿所述待检测的玻璃基板的表面往复移动的驱动机构(11)。该玻璃基板耐划痕检测装置能够实现上述玻璃基板耐划痕检测方法，并且该玻璃基板耐划痕检测装置结构简单，便于操作，同时准确表征玻璃的耐划痕性。
玻璃基板耐划痕检测方法装置

[发明专利]一种光学检测设备-CN201310557179.6有效
发明人：郑恒 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2013-11-11 - 公布日： 2014-02-05 - 主分类号： G01N21/956 文献下载
摘要：本发明公开了一种光学检测设备，包括检测机台，所述检测机台设置有检测腔体，还包括除尘装置，所述除尘装置设置在所述检测腔体的设备出入口处。该光学检测设备通过在基板进出检测机台的设备出入口的位置增加设置除尘装置，能够在基板通过设备出入口进入检测机台时，通过除尘装置对基板进行整片扫描式除尘，实现对基板表面进行更加良好的清洁效果，进一步解决光学检测设备在对基板表面进行光学检测过程中，由于清洁效果不够良好导致灰尘等细小微粒残留在基板表面导致的光学检测结果产生误判的问题。通过使用上述光学检测设备，能够在对基板进行光学检测之前，利用除尘装置实时地对基板表面进行除尘，避免由于残留微粒导致误判。
一种光学检测设备

[发明专利]玻璃基板质量检测系统及方法-CN202310651753.8在审
发明人：方红义;李青;李赫然;董光明;陈涛涛;林海峰;翟星宇;崔代文;李震;赵玉乐 -专利权人：芜湖东旭光电科技有限公司;东旭科技集团有限公司
申请日： 2023-06-01 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01N21/896 文献下载
摘要：本公开提供一种玻璃基板质量检测系统及方法，涉及玻璃基板生产技术领域。该玻璃基板质量检测系统包括：处理器、传输设备及对应于传输设备且沿第一方向依次设置的表面颗粒检测设备、表面缺陷及内含物检测设备和边缘检测设备，其中，表面颗粒检测设备、表面缺陷及内含物检测设备和边缘检测设备分别与处理器信号连接；表面颗粒检测设备用于检测玻璃基板的第一数据；表面缺陷及内含物检测设备用于检测玻璃基板的第二数据；边缘检测设备用于检测玻璃基板的第三数据；处理器存储有预设判别标准，并用于获取第一数据、第二数据和第三数据，并用于根据判别标准在每获取一项数据后对玻璃基板的质量等级进行判定。
玻璃质量检测系统方法

[发明专利]一种玻璃基板光学性能检测方法和系统-CN202310768590.1有效
发明人：李弋舟;简帅;李珍 -专利权人：长沙韶光芯材科技有限公司
申请日： 2023-06-28 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种玻璃基板光学性能检测方法和系统，包括：S1：采集玻璃基板表面图像，对图像进行灰度化和滤波，获得预处理后的玻璃基板表面图像；S2：基于玻璃基板表面图像的灰度化图像评估玻璃基板的粗糙度；S3：利用图像分割对预处理后的玻璃基板表面图像进行气泡检测；S4：采集玻璃基板入射光和透射光图像，计算玻璃基板的透光率；S5：将预处理后的玻璃基板表面图像以及S2至S4中的检测结果输入光学性能检测网络对玻璃基板进行评级本发明将图像处理与机器学习相融合，从而自动检测玻璃基板表面质量与光学性能，并给出统一评级。
一种玻璃光学性能检测方法系统

[实用新型]玻璃基板表面粉尘检测系统-CN201720284600.4有效
发明人：王步洲;李志军;史伟华;胡恒广;常慧;刘奎宁;姚小阔 -专利权人：东旭科技集团有限公司;东旭集团有限公司
申请日： 2017-03-22 - 公布日： 2018-01-02 - 主分类号： G01N21/94 文献下载
摘要：本公开涉及一种玻璃基板表面粉尘检测系统，玻璃基板(5)沿传送装置以竖直状态沿水平方向进行传送，该系统包括检测装置(3)，所述检测装置(3)为照射方向与所述玻璃基板(5)表面相平行的光源，以用于检测所述玻璃基板(5)表面的粉尘，第一驱动装置(1)，所述检测装置(3)安装于所述第一驱动装置(1)上，所述第一驱动装置(1)用于驱动所述检测装置(3)沿所述第一驱动装置(1)的旋转轴周向旋转，所述旋转轴垂直于所述玻璃基板设置通过上述技术方案，该检测系统能够全方位地检测玻璃基板表面是否粘附有粉尘，并能够直接清晰地观察到玻璃基板表面粉尘的粘附情况，为处理玻璃基板表面的粉尘提供指导，保证玻璃基板的品质。
玻璃表面粉尘检测系统

[发明专利]一种基板表面信息检测装置以及方法-CN201610087753.X有效
发明人：范宇光;李京鹏;李建;王世超;田立民 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司
申请日： 2016-02-16 - 公布日： 2019-12-06 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明公开了一种基板表面信息检测装置和方法，喷淋源向待测基板表面均匀地喷洒液滴或在待测基板表面形成液体流，图像传感器用于记录并传输待检测基板表面的液体图像信息。当待检测基板部分区域不平整或者由于制作过程中出现金属残留或者异物掉落以及油污等污染的情况，则基板表面部分区域会因为上述情况具有不同的表面张力而使液体在基板表面呈现出不同的状态，通过分析图像传感器记录的液体图像信息，可以获得基板表面信息。本发明提供的基板表面信息检测装置和方法，能够预防和避免PI涂覆前基板表面的不良，对于缩短生产时间，提高生产效率改善产品良率有积极意义。
一种表面信息检测装置以及方法

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