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- [发明专利]测试装置及测试方法-CN202111501219.6在审
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邓子龙
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富泰华工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
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2021-12-09
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2023-06-23
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H04B17/15
- 本申请提供一种测试装置及测试方法,包括数据处理模块及射频前端模块。射频前端模块包括基带处理单元、发射单元及接收单元。数据处理模块连接至基带处理单元,基带处理单元连接至发射单元的输入端及接收单元的输出端。当发射单元的输出端连接至接收单元的输入端时,数据处理模块用于发送控制信号至基带处理单元,以使基带处理单元输出第一基带信号至发射单元。发射单元接收第一基带信号并输出第一射频信号至接收单元。接收单元接收第一射频信号并输出第一反馈信号至基带处理单元。基带处理单元还用于将第一基带信号及第一反馈信号均发送至数据处理模块。数据处理模块对比第一基带信号与第一反馈信号的信号强度,以判断射频前端模块是否异常。
- 测试装置方法
- [发明专利]一种基带单元的测试方法及装置-CN201510349608.X在审
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郭磊民
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中兴通讯股份有限公司
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2015-06-23
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2017-01-11
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H04W24/02
- 本发明提供一种基带单元的测试方法及装置,其测试方法包括:接收外部基带数据处理设备发送的针对待测基带单元的上行基带数据,并将上行基带数据转发至待测基带单元;采集待测基带单元发送的针对该待测基带单元的下行基带数据,并将下行基带数据转发至外部基带数据处理设备;根据上行基带数据和下行基带数据分别获取数字发射载波功率和接收宽带功率,并将数字发射载波功率和接收宽带功率上报至待测基带单元,完成测试。本发明实施例通过对上下行基带数据的转发,使得对基带单元的测试可以跳过射频处理直接接收基带数据,排除可能由射频转换引入的干扰与问题,在保证基带数据的准确性的同时直接对基带单元进行测试。
- 一种基带单元测试方法装置
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