|
钻瓜专利网为您找到相关结果 22436118个,建议您 升级VIP下载更多相关专利
- [发明专利]分析装置及分析方法-CN202180007578.8在审
-
横山嘉彦;加藤嗣;菊地大树;广田知司;梅野拓马
-
株式会社摩如富;东京威尔斯股份有限公司
-
2021-02-02
-
2022-08-12
-
G06T7/00
- 分析装置是使完成学习的判定装置的精度可视化的分析装置,该完成学习的判定装输出合格品标签或不合格品标签的,该分析装置具备:取得部,其取得以合格品为被摄体的合格品图像和以不合格品为被摄体的不合格品图像的图像对其基于图像对来提取不合格品的不良部位的图像区域;生成部,其使不良部位的图像区域的特征量变化,生成多个疑似不良部位的图像区域;合成部,其将多个疑似不良部位的图像区域分别与合格品图像合成,生成特征量不同的多个合成图像;图像输出部,其向判定装置输出多个合成图像;结果取得部,其从判定装置取得分别与多个合成图像对应的标签;以及显示控制部,其按照基于特征量的排列使表示分别与多个合成图像对应的标签的对象显示出来。
- 分析装置方法
- [发明专利]分析装置及分析方法-CN201210080753.9有效
-
白木裕章;松本大辅;中山雄介;安达玄纪
-
爱科来株式会社
-
2012-03-23
-
2012-09-26
-
G01N27/453
- 本发明涉及一种分析装置及分析方法。分析装置(10)是使用设置有流路的微芯片(30)进行电泳的装置,分析装置(10)具有:冷却部(电子冷却元件(12)及驱动电路(13)),冷却微芯片(30);电压施加部(电极(14a、14b)、电源电路(15)),向填充到微芯片(30)的流路(32)的缓冲液施加电压;光学分析部(光源(16)、受光元件(17)、分析部(18)),通过微芯片(30),对导入到流路(32)的试料进行光学分析;控制部(20),控制冷却部、电压施加部及光学分析部,控制部(20)使冷却部开始微芯片(30)的冷却,在微芯片(30)冷却后,使电压施加部及光学分析部工作。
- 分析装置方法
- [发明专利]分析装置及分析方法-CN201110290147.5有效
-
水本徹;井上二三夫
-
希森美康株式会社
-
2011-09-28
-
2012-07-04
-
G01N35/02
- 本发明提供一种分析装置,该分析装置使用与被分析物同时使用的消耗品,以此分析被分析物,其包括:自动读取机构,通过消耗品或装消耗品的容器上的识别符读取有关该消耗品的第一产品信息;及控制部件,当所述自动读取机构通过识别符读取的信息是适当的第一产品信息时,允许进行分析作业,当所述自动读取机构未读取识别符时、或通过识别符读取的信息不是适当的第一产品信息时,促使操作人员手动输入包括用于确定消耗品制造商或销售商的信息在内的第二产品信息,在操作人员输入第二产品信息后,存储所输入的第二产品信息,允许进行分析作业。另外,本发明还提供一种用分析装置分析被分析物的方法。
- 分析装置方法
- [发明专利]分析装置及分析方法-CN201980074665.8有效
-
福森穣;杉本佳昭
-
本田技研工业株式会社
-
2019-08-02
-
2023-01-03
-
G08G1/01
- 基于多个移动体的位置信息等信息,更适当地进行分析。分析装置30具备:位置信息更新部311,其接收多台车辆50的位置信息的推移;存储部32,其将前述多台车辆50可通行的道路与包括交叉路口的道路链信息一起进行存储;分析条件指定部312,其接受作为分析对象的前述道路链信息的指定;及,分析控制部313,其判断与前述指定的前述道路链信息对应的通过道路链后的前述多台车辆50各自的前进路线,并针对每条前进路线统计各道路链通过时间,且根据基于统计结果的每条前进路线的代表值的差距,来特定拥堵的原因
- 分析装置方法
|