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[发明专利]信号测试电路-CN201710721974.2在审
发明人：罗新娜;王太诚;赵志勇 -专利权人：鸿富锦精密工业（武汉）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
申请日： 2017-08-22 - 公布日： 2019-03-05 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种信号测试电路包括一第一通信芯片、一第二通信芯片、一阻抗匹配电路及一测试治具，所述第一通信芯片与所述第二通信芯片连接以相互之间进行信号传输，所述阻抗匹配电路连接于所述第一通信芯片及第二通信芯片之间，以实现所述第一通信芯片与所述第二通信芯片之间的阻抗匹配，所述测试治具用于对所述第一通信芯片及第二通信芯片之间所传输的信号进行测试。如此可以准确地测试到所述第一通信芯片与所述第二通信芯片之间的信号。
通信芯片信号测试电路阻抗匹配电路测试治具测试信号传输阻抗匹配传输

[发明专利]一种多功能信号线测试装置及其测试方法-CN202111402310.2在审
发明人：李耀明;陈健 -专利权人：珠海斯巴克电子设备有限公司
申请日： 2021-11-24 - 公布日： 2022-02-08 - 主分类号： G01R31/58 文献下载
摘要：本发明提供一种多功能信号线测试装置及其测试方法，包括电源模块、主控电路、测试端口选择电路、测试通道选择电路、测试模式切换电路、测试端口电路以及测试结果显示电路，测试端口选择电路具有与被测信号线所对应的测试选择开关，主控电路与测试模式切换电路连接，主控电路与测试通道选择电路连接，测试通道选择电路具有多个测试通道，测试端口电路与测试端口选择电路连接，主控电路输出测试信号，并基于测试信号接收被测信号线的测试结果反馈信号，主控电路根据接收到的测试结果反馈信号向测试结果显示电路发送测试结果显示信号。应用本发明可以解决传统的信号线测试装置无法满足同时兼容多种规格接口，测试效率低下，通用及易用性差等问题。
一种多功能信号线测试装置及其方法

[实用新型]一种多功能信号线测试装置-CN202122908701.3有效
发明人：李耀明;陈健 -专利权人：珠海斯巴克电子设备有限公司
申请日： 2021-11-24 - 公布日： 2022-05-17 - 主分类号： G01R31/58 文献下载
摘要：本实用新型提供一种多功能信号线测试装置，包括电源模块、主控电路、测试端口选择电路、测试通道选择电路、测试模式切换电路、测试端口电路以及测试结果显示电路，测试端口选择电路具有与被测信号线所对应的测试选择开关，主控电路与测试模式切换电路连接，主控电路与测试通道选择电路连接，测试通道选择电路具有多个测试通道，测试端口电路与测试端口选择电路连接，主控电路输出测试信号，并基于测试信号接收被测信号线的测试结果反馈信号，主控电路根据接收到的测试结果反馈信号向测试结果显示电路发送测试结果显示信号。应用本实用新型可以解决传统的信号线测试装置无法满足同时兼容多种规格接口，测试效率低下，通用及易用性差等问题。
一种多功能信号线测试装置

[发明专利]电池保护芯片的测试电路、电池保护芯片测试装置与方法-CN202210672834.1在审
发明人：苏丹;秦鹏举;杨敏;孙添平 -专利权人：深圳市爱协生科技有限公司
申请日： 2022-06-15 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请涉及一种电池保护芯片及其测试电路、电池保护芯片测试装置与方法，包括测试分压电路、测试信号产生电路与测试信号输入电路，测试分压电路根据对外供电端子的供电电压进行分压，得到过充测试分压，测试信号产生电路在过充测试分压大于或等于预设参考电压时，输出过充测试信号通过测试信号输入电路传输至过充输出电路，以使过充输出电路根据过充测试信号与过充比较信号输出过充信号，通过芯片现有的对外供电端子对测试分压电路进行供电，进而控制测试信号产生电路输出过充测试信号来代替过充保护动作的延时信号，使芯片的过充输出电路直接根据过充测试信号与过充比较信号输出过充信号，缩短芯片的过充保护动作的触发时间，提高了测试效率。
电池保护芯片测试电路装置方法

[发明专利]芯片测试分析电路及芯片-CN202310613715.3在审
发明人：张学海 -专利权人：广州全盛威信息技术有限公司;北京奕斯伟计算技术股份有限公司
申请日： 2023-05-26 - 公布日： 2023-08-18 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本公开提供一种芯片测试分析电路，包括：地址译码电路，用于产生第一测试选择信号，以及用于产生第二测试选择信号；输出测试电路，用于根据第一测试选择信号，从多个待输出测试信号中选择对应的待输出测试信号，将选择的待输出测试信号输出至测试节点进行输出信号测试分析；输入测试电路，用于根据第二测试选择信号，从多个输入测试通道中选择与第二测试选择信号对应的输入测试通道，以通过选择的输入测试通道将待输入测试信号输入至待测试芯片内部相应的电路进行内部电路测试分析；测试方向选择电路，用于产生测试方式选择信号，测试方式选择信号用于控制输出测试电路与测试节点之间连通或断开，以及控制输入测试电路与测试节点之间断开或连通。
芯片测试分析电路

[发明专利]老化侦测电路及其方法-CN201410312036.3有效
发明人：陈世豪;王易民;汪鼎豪;李宏俊 -专利权人：创意电子股份有限公司;台湾积体电路制造股份有限公司
申请日： 2014-07-01 - 公布日： 2017-12-19 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明揭露一种老化侦测电路及其方法。老化侦测电路设置于一芯片上，包含测试电路以及老化信号产生电路。测试电路耦接至老化信号产生电路。测试电路产生输出信号。老化信号产生电路包含信号产生电路及选择电路。信号产生电路产生具有不同频率的多个输入信号，选择电路选择性输出输入信号其中一者作为老化信号至测试电路的输入端，或是将测试电路产生的输出信号回授至测试电路的输入端。
老化侦测电路及其方法

[发明专利]测试电路-CN202110160891.7在审
发明人：李敏娜 -专利权人：长鑫存储技术有限公司
申请日： 2021-02-05 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G11C29/14 文献下载
摘要：本申请提供一种测试电路。该电路包括：输入端、处理电路和输出端，输入端用于接收输入信号，输入信号包括用于指示测试目标电路模块的测试命令和目标电路模块的地址，处理电路用于根据测试命令和目标电路模块的地址确定测试模式信号，测试模式信号携带测试类型，测试模式信号用于触发目标电路模块进行与测试类型对应的测试，输出端用于根据目标电路模块的地址将测试模式信号发送至目标电路模块。从而，可实现向存储器芯片内不同的电路模块准确地传送测试模式信号。
测试电路

[发明专利]一种模拟芯片测试电路及系统-CN202010216807.4在审
发明人：张悦 -专利权人：合肥悦芯半导体科技有限公司
申请日： 2020-03-25 - 公布日： 2020-07-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请提供一种模拟芯片测试电路及系统，用于模拟芯片的测试。其中，测试电路包括：通讯电路、测试控制电路、模拟输出电路和模拟输入电路，通讯电路与测试控制电路连接，测试控制电路分别与模拟输出电路和模拟输入电路连接；通讯电路用于接收源自服务器的控制信号，并将控制信号发送到测试控制电路，测试控制电路用于基于控制信号生成相应的电平信号，并输出至模拟输出电路，模拟输出电路用于将电平信号转换为模拟信号后输出；模拟输入电路用于接收源自待测模拟芯片输出的待测模拟信号，并将待测模拟信号转换为数字信号后输出至测试控制电路，测试控制电路用于基于数字信号对待测模拟芯片进行测试，并将测试结果通过通讯电路发送给服务器。
一种模拟芯片测试电路系统

[发明专利]测试装置及其信号发生电路-CN202111250119.0在审
发明人：王耀毅;陈勇强 -专利权人：深圳市理邦精密仪器股份有限公司
申请日： 2021-10-26 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01R1/28 文献下载
摘要：本申请公开了一种测试装置及其信号发生电路，用于医疗设备，该信号发生电路包括：信号产生电路，用于产生第一测试信号；转换电路，与信号产生电路电连接，用于对第一测试信号进行升压处理，得到至少一个测试信号；信号选择电路，分别与信号产生电路及转换电路电连接，用于选择输出第一测试信号或至少一个测试信号中的任一测试信号。通过这种方式，能够满足至少两个标准对测试信号的要求。
测试装置及其信号发生电路

[发明专利]一种使能信号处理电路、降压式变换电路及芯片-CN202310373656.7有效
发明人：樊茂 -专利权人：盈力半导体（上海）有限公司
申请日： 2023-04-10 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： G01R31/40 文献下载
摘要：一种使能信号处理电路、降压式变换电路及芯片，所述使能信号处理电路，包括：使能信号生成模块和测试信号解析模块，其中，使能信号生成模块根据脉冲信号生成使能信号，以向降压式变换电路提供使能；以及，测试信号解析模块，被配置为根据脉冲信号，生成测试信号，以向降压式变换电路提供所述测试信号；测试信号解析模块，包括第一差分对和迟滞电路，第一差分对用于比较脉冲信号和第一参考电压，迟滞电路用于减少进入第一差分对的脉冲信号的干扰，测试信号解析模块根据脉冲信号生成测试信号，以向降压式变换电路提供测试信号。本申请的使能信号处理电路，有效提高了测试降压式变换电路的准确度及测试操作的便捷性。
一种信号处理电路降压变换芯片

[发明专利]一种集成电路漏电流测试电路及装置-CN202010249281.X在审
发明人：张红芹;宋陈平;翟建波 -专利权人：乐普医学电子仪器股份有限公司
申请日： 2020-04-01 - 公布日： 2020-06-09 - 主分类号： G01R31/52 文献下载
摘要：本申请涉及微电子控制技术领域，特别地，涉及一种集成电路漏电流测试电路及装置。一定程度上可以解决集成电路管脚漏电流测试中采样电阻两端信号与测试电路不能隔离，导致漏电流测试结果的误差大、可靠性降低的问题。所述集成电路漏电流测试电路，包括：处理器，被配置发送控制信号至DAC电路、管脚配置电路，并接收来自测试电路的漏电流测试电压信号；管脚配置电路，根据来自处理器的控制信号，为集成电路的待测管脚选择输入信号电路；DAC电路，根据来自处理器的控制信号，为所述输入信号电路提供电平信号、测试信号；测试电路，耦合至所述处理器与所述管脚配置电路，根据接收的电平信号、测试信号输出漏电流测试电压信号至所述处理器。
一种集成电路漏电测试电路装置

[发明专利]芯片测试系统及方法-CN202211679055.0在审
发明人：刘本强;陈翔;左成杰;郝坤 -专利权人：山东虹芯电子科技有限公司
申请日： 2022-12-27 - 公布日： 2023-01-31 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开一种芯片测试系统及方法，属于集成电路生产技术领域，面对现有技术成本高不实用的问题，本发明测试控制电路根据待测试芯片类型生成对应的测试使能基础信号，测试使能信号调控电路根据待测试芯片的类型对使能基础信号调控；调控之后的使能基础信号通过测试输入类引脚输入到待测试芯片功能电路，待测试芯片功能电路根据测试信号输出信号到测试输出类引脚；测试反馈信号调控电路接收测试输出类引脚输出的测试信号并且根据待测试芯片的类型对接收的信号调控；测试预警电路判断测试反馈信号调控电路调控之后的信号是否正常。本发明中电路组成简单，电路组成各个部分可通过低成本的元器件及单片机实现，能灵活应用多种芯片测试中，且成本低。
芯片测试系统方法

[实用新型]一种集成电路验证系统的连接驱动电路-CN202120718149.9有效
发明人：屈粮富;宋晓荣;张大伟;马慧娟 -专利权人：天津普智芯网络测控技术有限公司
申请日： 2021-04-08 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：一种集成电路验证系统的连接驱动电路，包括测试机连接电路及与所述测试机连接电路连接的信号处理电路，所述信号处理电路包括信号放大电路及信号缩小电路，将信号通过所述信号处理电路进行放大或缩小处理，驱动所述测试机连接电路及通过所述测试机连接电路连接的测试机，所测试机连接电路通过芯片座连接电路连接测试芯片能保证正常驱动测试机，提高测试效率；与所述测试机连接电路连接的若干跳线电路，及与所述电源处理电路连接的电源跳线电路，用于手动控制信号的传输。
一种集成电路验证系统连接驱动电路

[实用新型]电路板选切测试电路以及电视机测试电路-CN201020001314.0无效
发明人：孙有新;黄国鹏;陈兴锋 -专利权人：青岛海信电器股份有限公司
申请日： 2010-01-04 - 公布日： 2010-09-08 - 主分类号： H04N17/04 文献下载
摘要：本实用新型实施例公开了一种电路板选切测试电路以及电视机测试电路，属于电子技术领域。解决了现有技术存在测试效率比较低的技术问题。该电路板选切测试电路，包括至少两路与电路板相连的LVDS信号输出端、信号选切转换模块以及与测试装置相连的测试信号输出端，每路LVDS信号输出端与一个电路板相连，LVDS信号输出端用于接收电路板发出的LVDS信号并将LVDS信号输入信号选切转换模块；信号选切转换模块用于将LVDS信号输出端输入的LVDS信号处理为至少两路测试装置可识别的测试信号，并从测试信号中选择一路，然后通过测试信号输出端输入测试装置。该电视机测试电路，包括上述本实用新型所公开的电路板选切测试电路。本实用新型应用于测试电路板。
电路板测试电路以及电视机

[发明专利]集成电路及其测试方法-CN202110189249.1在审
发明人：郑升炫 -专利权人：爱思开海力士有限公司
申请日： 2021-02-19 - 公布日： 2022-03-01 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请涉及集成电路及其测试方法。集成电路包括测试控制电路、驱动电路和测试检测电路。测试控制电路生成与测试操作相对应的测试地址信号和测试命令信号。驱动电路通过利用基于测试命令信号生成的测试内部电压来执行测试操作。测试检测电路将测试地址信号与目标地址信息进行比较以输出测试内部电压。
集成电路及其测试方法

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