[发明专利]一种基于微波检测的SLM粉层缺陷识别系统及方法在审
申请号: | 202311195664.3 | 申请日: | 2023-09-18 |
公开(公告)号: | CN116930215A | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 张树哲;邹亚桐;李博岩;吕忠利 | 申请(专利权)人: | 山东创瑞激光科技有限公司 |
主分类号: | G01N22/02 | 分类号: | G01N22/02 |
代理公司: | 广州高航知识产权代理有限公司 11530 | 代理人: | 赵永强 |
地址: | 264006 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明公开了一种基于微波检测的SLM粉层缺陷识别系统及方法,其特征在于,所述系统包括:粉缸、微波模块、信号采集模块、计算模块、提示模块和电源模块;所述微波模块包括波导探头和定向耦合器;所述微波模块设置在粉缸顶部;所述信号采集模块连接微波模块与计算模块;所述计算模块连接提示模块。本申请通过微波检测技术对SLM粉层缺陷进行识别,解决传统缺陷识别检测速度慢、需要耦合剂、容易受对象的表面状态影响的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 微波 检测 slm 缺陷 识别 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于山东创瑞激光科技有限公司,未经山东创瑞激光科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202311195664.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:线宽测量方法
- 下一篇:一种基于数据处理的电能存储管理系统