[发明专利]一种基于微波检测的SLM粉层缺陷识别系统及方法在审

专利信息
申请号: 202311195664.3 申请日: 2023-09-18
公开(公告)号: CN116930215A 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 张树哲;邹亚桐;李博岩;吕忠利 申请(专利权)人: 山东创瑞激光科技有限公司
主分类号: G01N22/02 分类号: G01N22/02
代理公司: 广州高航知识产权代理有限公司 11530 代理人: 赵永强
地址: 264006 山*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明公开了一种基于微波检测的SLM粉层缺陷识别系统及方法,其特征在于,所述系统包括:粉缸、微波模块、信号采集模块、计算模块、提示模块和电源模块;所述微波模块包括波导探头和定向耦合器;所述微波模块设置在粉缸顶部;所述信号采集模块连接微波模块与计算模块;所述计算模块连接提示模块。本申请通过微波检测技术对SLM粉层缺陷进行识别,解决传统缺陷识别检测速度慢、需要耦合剂、容易受对象的表面状态影响的问题。
搜索关键词: 一种 基于 微波 检测 slm 缺陷 识别 系统 方法
【主权项】:
暂无信息
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