[发明专利]一种PEMFC多孔电极性能衰减评估方法在审
| 申请号： | 202310820337.6 | 申请日： | 2023-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN116930804A | 公开（公告）日： | 2023-10-24 |
| 发明（设计）人： | 张雪霞;唐双喜;黄磊;邱丹洛;廖红波 | 申请（专利权）人： | 西南交通大学 |
| 主分类号： | G01R31/392 | 分类号： | G01R31/392;G01R31/389;G01R31/385;G01R31/378;H01M8/04537 |
| 代理公司： | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 | 代理人： | 尹振启 |
| 地址： | 610000*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开一种PEMFC多孔电极性能衰减评估方法，利用弛豫时间分布解析PEMFC在耐久性期间各频段阻抗谱的极化过程，识别并分离阻抗的不同频段过程及其对电池极化损耗的影响；通过观察各极化过程的变化趋势，从而评估电池在耐久性实验期间不同阶段的衰减机制。根据PEMFC的多孔电极结构建立相应的传输线模型，可对电极内部质子传导和气体扩散及其动力学反应过程进行定量的描述，得到准确的阻抗拟合结果，在PEMFC模型参数之间建立清晰的物理关系。本发明不仅能在宏观尺度上描述PEMFC多孔电极性能的退化趋势，还可以获得PEMFC多孔电极中膜电阻、聚合物中的质子传导电阻、电荷转移电阻和质量传输电阻等内部电化学特征指标，以提高PEMFC衰退机理和健康状态评估的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 pemfc 多孔 电极 性能 衰减 评估 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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