[发明专利]一种基于EMI差分测试的KiCad编译器测试方法在审
申请号: | 202310059107.2 | 申请日: | 2023-01-17 |
公开(公告)号: | CN116048992A | 公开(公告)日: | 2023-05-02 |
发明(设计)人: | 李辉;戚学欣 | 申请(专利权)人: | 大连海事大学 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;G06F8/41 |
代理公司: | 大连东方专利代理有限责任公司 21212 | 代理人: | 李馨 |
地址: | 116026 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于EMI差分测试的KiCad编译器测试方法,包括:从KiCad、GitHub和元器件库中选择出符合规则的元器件;得到的元器件通过输入端口接收数据,通过输出端口输出数据,其中输出端口从1开始编号,输入端口从0开始编号,通过连接规则将一个元器件的输出端口与下一个元器件的输入端口相连接;采用单个图遍历的方法在线性时间内修复元器件之间数据类型不一致的错误;对Eeschema类编译部件使用加速模式和普通编译模式两种模式进行编译测试。分析得到的编译结果,如若结果不同,则可认为这是一个KiCad的bug,并对产生bug的测试用例进行整理。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 emi 测试 kicad 编译器 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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