[发明专利]一种切片锁频的快速量子调控磁测量方法及系统

摘要

本发明公开了一种切片锁频的快速量子调控磁测量方法及系统，其中方法包括：基于系统测量的频谱曲线展宽和待测量磁场的范围，确定切片数量；在每一个切片的中心位置的频率进行第一次扫描，获取扫描后的频率与光强的第一谱线，对所述第一谱线进行高斯拟合，获取第一拟合曲线，确定所述第一拟合曲线的第一中心点；以所述第一中心点为中心，在第一中心点左右各扩展1个展宽的宽度进行第二次扫描，获取扫描后的第二条频率与光强的第二谱线，对所述第二谱线进行高斯拟合，获取第二拟合曲线，确定所述第二拟合曲线的第二中心点，将第二中心点的频率作为波谷的中心频率；基于所述波谷的中心频率与指定中心频率的差值确定磁场值。