[实用新型]一种表面缺陷检测光源及检测装置有效
申请号: | 202220705346.1 | 申请日: | 2022-03-29 |
公开(公告)号: | CN217237805U | 公开(公告)日: | 2022-08-19 |
发明(设计)人: | 冯宏;吴昌力;郑军 | 申请(专利权)人: | 聚时科技(上海)有限公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N21/01 |
代理公司: | 武汉天领众智专利代理事务所(普通合伙) 42300 | 代理人: | 高兰 |
地址: | 200090 上海市杨浦区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种表面缺陷检测光源及检测装置,包括:面光源本体,其特征在于,所述面光源本体上相邻分布着第一光区、第二光区和第三光区,所述第一光区、第二光区和第三光区内都均匀的排布着波长为λ1的灯珠,所述第一光区内的相邻两列灯珠之间还设有一列波长为λ2的灯珠;所述第三光区内的相邻两列灯珠之间也设有一列波长为λ2的灯珠;且所述第一光区、第三光区内的波长为λ1的灯珠,波长为λ2的灯珠的亮度能够通过亮度调节装置进行独立调节,既可以凸显缺陷对比度,又可以降低表面纹理干扰的成像方式及检测系统,该系统对光源光场分布的要求是既能保证光线的方向性又有一定的散射性。 | ||
搜索关键词: | 一种 表面 缺陷 检测 光源 装置 | ||
【主权项】:
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