[发明专利]一种半导体工艺腔室及半导体处理设备在审

专利信息
申请号: 202210677055.0 申请日: 2022-06-14
公开(公告)号: CN115036240A 公开(公告)日: 2022-09-09
发明(设计)人: 王铮 申请(专利权)人: 北京北方华创微电子装备有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01J37/32
代理公司: 深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651 代理人: 帅进军
地址: 100176 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本申请公开了一种半导体工艺腔室及半导体处理设备,半导体工艺腔室包括腔室本体和设置于腔室本体顶部的介质窗;还包括加热组件,设置在介质窗的顶面;加热组件包括内热风环、外热风环和至少一个向内热风环和外热风环同时送风的进风管;内热风环位于外热风环的内圈内;内热风环上设有第一排气孔,外热风环上设有第二排气孔。本实施例通过内热风环对介质窗靠近中心的区域进行加热,外热风环对介质窗靠近边缘的区域进行加热,内热风环和外热风环统一由进风管送风,为相同的热源,由于去掉了原方案中介质窗外圈的环形加热带,减少了介质窗的热源数量,在进行控制温度时,只需要控制送风的温度和送风流量,从而使介质窗的温度控制过程更为简单。
搜索关键词: 一种 半导体 工艺 处理 设备
【主权项】:
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