[发明专利]一种用于测量表面偏聚挥发量的试样架及其使用方法在审
| 申请号： | 202210248070.3 | 申请日： | 2019-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN114674859A | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | 郑磊;孟晔;孟方亮;汪博 | 申请（专利权）人： | 北京科技大学 |
| 主分类号： | G01N23/2276 | 分类号： | G01N23/2276;G01N23/2204 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种用于测量表面偏聚挥发量的试样架及其使用方法。利用感应线圈和热敏元件相结合的方式进行原位加热和温度控制，采用高纯铂金片收集挥发溶质或杂质，利用低温介质通入夹持装置进行冷却从而有效冷却铂金片并冷凝挥发出的溶质或杂质，借助于分析室内的旋转台使铂金片处于测试位置，可直接测得挥发元素的种类、浓度及先后顺序。本发明的试样架可实现原位加热和温度准确控制；可直接利用设备自身的液氮冷却系统或通入其他低温介质；采用的铂金片自身物理和化学性质稳定，借助于设备自带的氩离子清洁功能，可实现铂金片的反复利用。本发明试样架，可用作精度高、超高真空环境、测量室空间有限的先进仪器设备的测量附件，具有良好的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测量 表面 挥发 试样 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
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