[发明专利]存储器单元感测电路中的亚阈值摆动的动态检测和动态调整在审
| 申请号： | 202111403577.3 | 申请日： | 2021-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN114678053A | 公开（公告）日： | 2022-06-28 |
| 发明（设计）人： | T·A·阿明别沙里;S·R·拉瓦德;M·阿玛尼;N·拉马南 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G11C16/34 | 分类号： | G11C16/34;G11C16/10;G11C5/14 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 邬少俊 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 对于非易失性(NV)存储介质，例如通过编程和编程验证操作写入的NAND介质，系统可以针对页的特定条件确定页单元的SSPC(选择性慢速编程收敛)单元的预期数量。该系统可以在所述页的第一次写入中利用用于SSPC单元检测的第一字线(WL)选择电压执行编程验证，以检测SSPC单元的预期数量。基于所确定的SSPC单元的预期数量，系统可以设置升压电压以在编程验证操作期间捕获预期数量的SSPC单元。系统在对所述页的后续写入中利用较高WL选择电压执行编程验证，以执行用于标准单元的编程验证，并且然后利用从第一次写入确定的升压电压执行SSPC编程验证。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 单元 电路 中的 阈值 摆动 动态 检测 调整 | ||
【主权项】：
暂无信息
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