[发明专利]一种抗辐照封装结构及方法在审

专利信息
申请号: 202111164111.2 申请日: 2021-09-30
公开(公告)号: CN113793843A 公开(公告)日: 2021-12-14
发明(设计)人: 钱靖;任真伟;陈显平;罗厚彩 申请(专利权)人: 重庆平创半导体研究院有限责任公司
主分类号: H01L23/552 分类号: H01L23/552;H01L23/31;H01L21/50;H01L21/56
代理公司: 重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙) 50217 代理人: 赵玉乾
地址: 401120 重庆市璧山区璧泉*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明涉及集成电路封装技术领域,具体公开了一种抗辐照封装结构,包括内嵌外壳、以及用于对待塑封器件进行塑封的第一塑封件和第二塑封件;内嵌外壳倒扣在第一塑封件的外表面,且内嵌外壳通过焊膏与待塑封器件固定连接;第二塑封件包裹着内嵌外壳,还公开了一种基于上述结构的抗辐照封装方法。本申请通过将内嵌外壳设置在第一塑封件和第二塑封件的之间,即利用内嵌外壳自身的特定实现抗辐照的功能,同时将内嵌外壳相比于现有技术中将外壳覆盖在封装部分的外面,在满足待封装器件抗辐照的要求和整体体积不变的前提下,对应的重量能够减小。
搜索关键词: 一种 辐照 封装 结构 方法
【主权项】:
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