[发明专利]基于双层k近邻标准化的CCA发酵过程KPI相关故障监测方法在审
| 申请号： | 202110974655.9 | 申请日： | 2021-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN113467434A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 高学金;何紫鹤;高慧慧 | 申请（专利权）人： | 北京工业大学 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人： | 张慧 |
| 地址： | 100124 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于双层k近邻标准化的CCA发酵过程KPI相关故障监测方法。离线建模阶段包括以下步骤：采集正常历史过程、质量数据，利用近邻样本近邻集信息对数据进行标准化，采用CCA求得相关系数矩阵，并对其进行广义奇异值分解，将过程变量划分成KPI相关和无关的空间，计算历史统计量与离线控制阈值。在线监测阶段包括以下步骤：利用新时刻数据的近邻样本近邻集对新时刻数据进行标准化，计算当前时刻的统计量并与离线控制阈值比较，根据监测逻辑判断是否发生故障、发生的故障为哪种类型。本发明解决发酵过程数据的多阶段特性和难以测量的KPI导致单一模型监测性能低下的问题，具有一定的泛化能力和很强的现实价值。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 双层 近邻 标准化 cca 发酵 过程 kpi 相关 故障 监测 方法 | ||
【主权项】：
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