[发明专利]一种防碰撞更换快捷的金相分析仪用物镜固定装置在审

专利信息
申请号: 202110795156.3 申请日: 2021-07-14
公开(公告)号: CN113703147A 公开(公告)日: 2021-11-26
发明(设计)人: 徐永斌 申请(专利权)人: 徐永斌
主分类号: G02B21/02 分类号: G02B21/02;G02B7/02;G01N21/84;G01N21/01
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 250000 山东省济南市历下区智远*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及金相分析仪技术领域,且公开了一种防碰撞更换快捷的金相分析仪用物镜固定装置,包括机架,所述机架的底部固定连接有套筒,所述套筒的底部活动连接有物镜筒,所述物镜筒的底部固定连接有物镜,所述物镜筒的正面固定连接有转轮,所述螺杆的外侧滑动连接有主动块,所述套筒的外侧套接有密封筒,所述密封筒的正面固定连接有升降块,所述密封筒的顶部固定连接有挤压气圈。该防碰撞更换快捷的金相分析仪用物镜固定装置,通过主动轴转动带动主动块转动,主动块带动螺杆转动,螺杆通过螺纹孔带动升降块下降,升降块下降带动密封筒下降,再通过密封筒与物镜筒的配合使用,从而达到了观察效果好,密封性高的效果。
搜索关键词: 一种 碰撞 更换 快捷 金相 分析 物镜 固定 装置
【主权项】:
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  • 本实用新型涉及镜头技术领域,具体公开了一种2D、3D切换多功能视频显微镜头,包括连接环、燕尾上板和燕尾下板,所述连接环与燕尾上板转动连接,所述燕尾下板滑动连接在所述燕尾上板上,所述燕尾上板上设置有安装孔,所述安装孔内设置有物镜,所述燕尾下板上设置有镜片前座和镜片后座,所述镜片前座的顶部设置有过光孔,所述燕尾下板上设置有与所述过光孔对应的通孔,所述的镜片前座内位于所述过光孔的下方设置有第一反光镜,所述镜片后座内相对与第一反光镜设置有第二反光镜,所述镜片后座内还设置有3D成像物镜组。本实用新型的优点是可以进行2的和3D模式的转换来对物体的四周进行观测,简化观测的操作。
  • 一种数字切片用可多物镜切换机构-202320560831.9
  • 徐子卿;李超超;张艳霞 - 江西筋斗云医疗科技有限公司
  • 2023-03-21 - 2023-08-08 - G02B21/02
  • 本实用新型公开了一种数字切片用可多物镜切换机构,包括机座和旋转盘,所述机座上开设有凸字形槽,所述凸字形槽内开设有环形槽,所述旋转盘上呈环形依次等距安装有第一物镜、第二物镜、第三物镜和第四物镜,所述旋转盘通过定位装置安装在凸字形槽,所述定位装置的数量不少于六个,所述定位装置呈环形等距分布在旋转盘上。该数字切片用可多物镜切换机构,相对比于传统技术,具有以下优点:旋转盘在机座上的凸字形槽内转动,切换物镜使用,则切换完成后,弹簧给圆球向外侧的力,圆球抵紧在环形槽内,固定切换物镜后的位置;旋转盘通过三角座带动圆轴在圆套内转动,使旋转盘转动平稳。
  • 显微镜-202080103474.2
  • R·尤斯凯提斯;M·A·尼尔 - 奥罗克斯有限公司
  • 2020-08-25 - 2023-07-25 - G02B21/02
  • 一种显微镜包括:用于安装样品的样品台;用于当样品被安装在样品台上时照亮样品的光源;检测器;第一物镜,其被设置在所述样品台的一侧上;第二物镜,其被设置在该样品台的相反侧上;第一组光学元件,其限定从第一物镜到检测器的第一光路;以及第二组光学元件,其限定从第二物镜到检测器的第二光路。第一物镜和第二物镜具有公共光轴并且被配置成使被安装在样品台上的样品在公共焦平面中成像。此外,第一物镜是高倍物镜,第二物镜是低倍物镜。提供这种显微镜配置能够以高放大倍率和低放大倍率同时查看样品,和/或允许在高倍图像与低倍图像之间进行快速切换,例如以便提供以两种放大倍率进行的近乎同时的查看。
  • 一种NA=0.7的紫外长工作距离平场显微物镜-202310236832.2
  • 李刚;杨鹏飞;张鹏飞;张天才 - 山西大学
  • 2023-03-13 - 2023-07-18 - G02B21/02
  • 本发明公开了一种NA=0.7的紫外长工作距离平场显微物镜,从像方到物方依次由第一透镜、透镜组元和光学观察窗组成,所述透镜组元由第二、第三、第四、第五、第六透镜组成。所述第一透镜具有负的光焦度,主要用于场曲的校正;所述第二、第三、第四、第五、第六透镜具有正的光焦度,主要用于校正球差和慧差,同时增加光焦度。本发明显微物镜的工作距离可达15mm(包括光学观察窗片)。本发明能够在200‑400nm紫外波段提供大工作距离和高分辨率的显微物镜,同时能对不同厚度的真空玻璃窗片引起像差进行优化调节和补偿,整个物镜采用二氧化硅光学玻璃加工的单片透镜组成,系统结构简单,可广泛用于极端环境下微米尺度的样品的紫外观测。
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