[发明专利]双线型像质计可识别率的测量方法、系统、设备和介质有效
申请号: | 202110706686.6 | 申请日: | 2021-06-24 |
公开(公告)号: | CN113358670B | 公开(公告)日: | 2022-11-18 |
发明(设计)人: | 黄茜;师聪颖;胡志辉;陈宏燔;乔腾 | 申请(专利权)人: | 华南理工大学 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01N23/18;G06T7/00;G06T7/12;G06T3/40 |
代理公司: | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人: | 李君 |
地址: | 510640 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种双线型像质计可识别率的测量方法、系统、设备和介质,所述方法包括:在待测双丝图像的双线型像质计区域画一条辅助线,并确定待测双丝图像的叠加平均行数;其中,所述叠加平均行数为大于或等于21的奇数;根据所述辅助线,在所述待测双丝图像中截取行数为所述叠加平均行数的双丝图像,得到截取后双丝图像;根据所述截取后双丝图像,得到调整后双丝灰度变化曲线;根据所述调整后双丝灰度变化曲线,计算每一线对的可识别率,得到所述待测双丝图像的分辨率。本发明提供的方法可以自动寻找双丝排列方向,对画线角度没有严格要求,降低了工人画线要求,有效提高了工作效率。 | ||
搜索关键词: | 双线 型像质计可 识别率 测量方法 系统 设备 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学,未经华南理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110706686.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。