[发明专利]带罩反射面天线形变测试装置有效

专利信息
申请号: 202110683497.1 申请日: 2021-06-21
公开(公告)号: CN113237455B 公开(公告)日: 2022-03-04
发明(设计)人: 秦强强;李建伟;周金柱;赵文忠;马镛基;许万业;韩冰;吴凯 申请(专利权)人: 西安电子科技大学;中国电子科技集团公司第二十研究所
主分类号: G01B21/32 分类号: G01B21/32
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;黎汉华
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种带罩反射面天线的形变测试装置,主要解决现有测试装置测量变形数据不准确的问题。其包括支撑结构(11)和圆筒(13)。圆筒的侧面开有流沙孔(12),其内腔上部有共形天线罩挡板(14),下部有天线罩体定位圆环(15);支撑结构(11)包括空心圆盘(111)、空心钢环(112)和支撑环(113),三者自下而上通过多个主支撑杆(114)相连,每个主支撑杆的侧面连有防倾覆架(115),圆筒固定在支撑结构的支撑环上。测试时将被测样件放置在圆筒内的定位圆环上,通过在被测样件和共形天线罩挡板间填充沙子以模拟风载。本发明能测得天线在模拟风载作用下的真实变形数据,为风载作用下电磁性能计算提供指导。
搜索关键词: 反射 天线 形变 测试 装置
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