[发明专利]III族氮化物晶体、III族氮化物基板及III族氮化物晶体的制造方法在审

专利信息
申请号: 202110645249.8 申请日: 2021-06-09
公开(公告)号: CN113802185A 公开(公告)日: 2021-12-17
发明(设计)人: 森勇介;吉村政志;今西正幸;北本启;隅智亮;泷野淳一;冈山芳央 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: C30B29/40 分类号: C30B29/40;C30B25/14;C30B25/02;H01L33/32;H01S5/30
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供III族氮化物晶体、III族氮化物基板及III族氮化物晶体的制造方法。提供具有优异的导电性和低吸光系数的III族氮化物晶体。III族氮化物晶体掺杂有N型掺杂剂和锗元素,N型掺杂剂的浓度为1×1019cm‑3以上,锗元素的浓度为N型掺杂剂的浓度的9倍以上。
搜索关键词: iii 氮化物 晶体 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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