[发明专利]一种高口径利用率超大型静区的紧缩场装置在审
申请号: | 202110634435.1 | 申请日: | 2021-06-07 |
公开(公告)号: | CN113311400A | 公开(公告)日: | 2021-08-27 |
发明(设计)人: | 李志平;何国瑜;武建华;王正鹏 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40;G01R29/10 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 张乾桢;江亚平 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种高口径利用率超大型静区的紧缩场装置,包括紧缩场反射面、馈源以及平面波静区;所述的馈源为紧缩场装置的电磁波辐射源;采用对角馈布局,紧缩场反射面的顶点在口径对角线接近的位置,馈源相心与反射面焦点共点位于反射面的虚旋转对称轴上;所述的紧缩场反射面为二次曲面结构,中心实体为旋转抛物面部分,用于将馈源辐射的球面波在静区内校正为平面波;所述的平面波静区为馈源辐射的电磁波经反射面校正后满足远场测试要求的有限立体空间区域。 | ||
搜索关键词: | 一种 口径 利用率 超大型 紧缩 装置 | ||
【主权项】:
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