[发明专利]一种高能带电粒子成像装置有效
申请号: | 202110586767.7 | 申请日: | 2021-05-27 |
公开(公告)号: | CN113325012B | 公开(公告)日: | 2023-06-20 |
发明(设计)人: | 周征;王建新;肖德鑫;王汉斌;劳成龙;陈立均;张鹏;李鹏;周奎;吴岱 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院应用电子学研究所 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 于晶晶 |
地址: | 621900 四川省绵阳市*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种高能带电粒子成像装置,属于带电粒子成像技术领域,依次包括共光轴设置的粒子源、束流匹配传输段、等离子体成像透镜组和探测系统,本发明采用粒子源、束流匹配传输段、等离子体成像透镜组和探测系统组成高能带电粒子成像系统,结构简单且紧凑,提升了高能带电粒子的适用性,丰富了高能带电粒子的应用场景,同时,利用等离子体成像透镜的高梯度优势,降低高阶成像误差,提升高能带电粒子成像装置的空间分辨能力,调节便捷。 | ||
搜索关键词: | 一种 高能 带电 粒子 成像 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院应用电子学研究所,未经中国工程物理研究院应用电子学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110586767.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:数据存储的方法和装置
- 下一篇:GOA电路及显示装置