[发明专利]大口径光学元件损伤点在线与离线暗场图像匹配方法有效
| 申请号： | 202110559458.0 | 申请日： | 2021-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN113237888B | 公开（公告）日： | 2022-06-14 |
| 发明（设计）人： | 韩越越;陈凤东;曾发;路程;彭志涛;刘国栋 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G06T7/33;G06T7/62;G06T7/90 |
| 代理公司： | 哈尔滨华夏松花江知识产权代理有限公司 23213 | 代理人： | 杨晓辉 |
| 地址： | 150001 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 一种大口径光学元件损伤点在线与离线暗场图像匹配方法，属于光学元件损伤检测领域。本发明针对现有光学元件的在线损伤图像与离线损伤图像之间通过损伤点匹配确定伪损伤点，匹配难度大并且效率低的问题。它采用近邻损伤多点主动定位方法找到损伤的位置，相对于传统的三角形匹配方法，不需要将损伤两两之间的距离、角度信息提前计算存储，极大地减少了计算量，加快了匹配速度；同时，利用待匹配损伤近邻已匹配损伤的相对位置关系，更加精准的找到待匹配损伤的位置，减少远距离损伤匹配带来的误差，提高匹配精度。本发明在强干扰损伤的情况下可正确匹配离线损伤所对应的在线损伤。 | ||
| 搜索关键词： | 口径 光学 元件 损伤 在线 离线 暗场 图像 匹配 方法 | ||
【主权项】：
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