[发明专利]基于二值特征模式匹配的解包裹方法

摘要

本发明公开了一种基于二值特征模式匹配的解包裹方法。该方法不同于传统的双目匹配系统，仅需一个相机和一个投影仪即可获得被测物体的绝对相位。该方法需要预先获取标准平面的主值相位、主值相位对应的条纹阶次以及经过二值化的特征图像。在对被测物体进行测量时，首先利用被测物体的主值相位与标准平面的主值相位进行预匹配，然后通过经过被测物体调制的二值特征图像与标准平面的二值特征图像进行精准匹配，再对未匹配上的点进行补全处理，即可得到准确的绝对相位。本发明提供的方法不仅能够针对多个孤立物体的测量条件正确解得条纹阶次，而且需要一张额外的图片来进行解包裹操作，在保证了解包裹鲁棒性的同时提升了解包裹的速度。