[发明专利]天线平面近场测试方法有效
| 申请号： | 202110483020.9 | 申请日： | 2021-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN113252999B | 公开（公告）日： | 2023-04-28 |
| 发明（设计）人： | 杨顺平 | 申请（专利权）人： | 西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所) |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 陈庆 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开的一种天线平面近场测试方法，具有高速、可全天候工作、无需相位测量。本发明通过下述技术方案实现：分别沿x轴和y轴按照dx和dy的间隔进行M列和N行双极化探头布置，信号源发出信号，平面布置的双极化探头全电子化采样测试被测天线，将采样信号分别送到移相器中，移相器根据指向角度按照傅里叶变换的频移特性将每个双极化探头收到的信号送入移相器进行移相，经过移相器的信号送入H极化合成器和V极化合成器，分别合成H极化信号和V极化信号，将合成后的H极化信号和V极化信号送入接收机，在接收机收到两个极化的信号后消除探头效应，得到被测天线的远场方向图，实现在天线辐射近场区的测试和天线远场特性的模拟。 | ||
| 搜索关键词： | 天线 平面 近场 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)，未经西南电子技术研究所(中国电子科技集团公司第十研究所)许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110483020.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
